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      電子發(fā)燒友網(wǎng)>今日頭條>LED焊球不良品觀察(掃描電鏡)SEM失效分析

      LED焊球不良品觀察(掃描電鏡)SEM失效分析

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      LED球泡燈

      我想做一款50W球泡燈，輸出120V/300mA，過諧波，過認(rèn)證，高PF，去頻閃，尋求合適方案和技術(shù)支持
      2023-09-06 16:43:53

      集成電路為什么要做失效分析？失效分析流程？

      失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動。
      2023-09-06 10:28:051331

      聚焦離子束FIBSEM切片測試【博仕檢測】

      聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng) FIB-SEM應(yīng)用 聚焦離子束-掃描電鏡雙束系統(tǒng)主要用于表面二次電子形貌觀察、能譜面掃描、樣品截面觀察、微小樣品標(biāo)記以及TEM超薄片樣品的制備。 1.FIB切片
      2023-09-05 11:58:27

      蔡司掃描電鏡在第三代半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用成果

      掃描電子顯微鏡-電子通道對比成像（SEM-ECCI）是在掃描電子顯微鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展已經(jīng)取代了透射電子顯微鏡（TEM）在缺陷表征領(lǐng)域的部分功能。與TEM
      2023-09-04 14:56:47356

      pcb短路不良分析 pcb板短路分析

      pcb短路不良分析 pcb板短路分析? PCB短路不良分析 PCB是電子設(shè)備中必不可少的一個組成部分，也是電路板的一種。它的作用是連接其他電子元件，以實現(xiàn)電子設(shè)備的正常運轉(zhuǎn)。在PCB中，一旦出現(xiàn)短路
      2023-08-29 16:46:191628

      pcb板有哪些不良現(xiàn)象？pcb常見不良原因及分析

      pcb板有哪些不良現(xiàn)象？pcb常見不良原因及分析 PCB板是電子產(chǎn)品中常見的一種基礎(chǔ)電路板，用于搭載和連接各種電子元件。其具有設(shè)計復(fù)雜度高、加工難度大、工序繁多等特性，易受到多種因素的影響而出
      2023-08-29 16:35:193203

      集成電路失效分析

      IC。然而，IC在使用過程中也可能出現(xiàn)失效的情況，從而影響到整個設(shè)備的使用效果。因此，對IC失效分析的研究變得越來越重要。 IC失效的原因有很多，例如因為工藝過程中的不良導(dǎo)致芯片內(nèi)部有缺陷，或者長時間使用導(dǎo)致老化而出現(xiàn)失效等。為了找出IC失效的原因，在
      2023-08-29 16:35:13627

      芯片失效分析方法 芯片失效原因分析

      芯片失效分析方法 芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術(shù)的發(fā)展，各種芯片被廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)生產(chǎn)和家庭電器中。然而，在使用過程中，芯片的失效是非常常見的問題。芯片失效分析是解決這個問題的關(guān)鍵。 芯片
      2023-08-29 16:29:112800

      半導(dǎo)體失效分析

      半導(dǎo)體失效分析? 半導(dǎo)體失效分析——保障電子設(shè)備可靠性的重要一環(huán) 隨著電子科技的不斷發(fā)展，電子設(shè)備已成為人們生活和工作不可或缺的一部分，而半導(dǎo)體也是電子設(shè)備中最基本的組成部分之一。其作用是將電能轉(zhuǎn)化
      2023-08-29 16:29:08736

      EDS面掃、線掃、點掃的應(yīng)用

      能譜儀（EDS）是一種快速分析樣品微區(qū)內(nèi)元素種類及含量的重要工具，通常與掃描電鏡（SEM）、透射電鏡（TEM）組合使用，實現(xiàn)形貌與成分的對照。它的工作原理是：當(dāng)電子束掃描樣品時，不同元素被激發(fā)出來的x射線能量不同，通過探測這些特征X射線的能量與強(qiáng)度，可以確定樣品中的元素組成和含量。
      2023-08-29 09:43:241952

      國儀量子高速掃描電子顯微鏡HEM6000

      “在大規(guī)模成像場景中，常規(guī)掃描電鏡成像速度和自動化程度都無法滿足應(yīng)用需求。例如，在芯片結(jié)構(gòu)成像應(yīng)用中，需要在幾周內(nèi)完成數(shù)百平方毫米區(qū)域的連續(xù)拍攝；在人類腦圖譜研究中，需要對百億級神經(jīng)元進(jìn)行高分辨成像
      2023-08-09 08:29:23453

      蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)

      蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對于材料科學(xué)、電子、地質(zhì)、物理、化工、農(nóng)醫(yī)、公安、食品和輕工等領(lǐng)域的科學(xué)研究，人們總是關(guān)心微觀形態(tài)、晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)組成與宏觀物理或化學(xué)性質(zhì)之間的關(guān)系。光學(xué)顯微系統(tǒng)
      2023-08-08 15:50:351419

      蔡司掃描電鏡下金剛石形貌

      金剛石礦物的晶體結(jié)構(gòu)屬于等軸晶系同極鍵四面體結(jié)構(gòu)。碳原子位于四面體的角部和中心，具有高度的對稱性。晶胞中的碳原子以同極鍵連接，距離為154pm。。常見的晶形有八面體、菱形十二面體、立方體、四面體和六面體等。鉆石的應(yīng)用范圍非常廣泛，例如:工藝品和工業(yè)中的切割工具。石墨在高溫高壓下能形成人造金剛石，也是一種珍貴的寶石。中國也有制造鉆石的技術(shù)。需要注意的是，石墨和金剛石的物理性質(zhì)是完全不同的。鉆石有各種顏色，從無
      2023-08-04 11:50:01458

      PCB熔錫不良現(xiàn)象背后的失效機(jī)理

      PCB熔錫不良現(xiàn)象背后的失效機(jī)理
      2023-08-04 09:50:01545

      SEM5000交付中國農(nóng)科院作科所重大平臺中心

      場發(fā)射掃描電鏡SEM5000正式上線使用左側(cè)設(shè)備為鎢燈絲掃描電鏡SEM3200右側(cè)設(shè)備為場發(fā)射掃描電鏡SEM5000近日，國儀量子場發(fā)射掃描電鏡SEM5000交付中國農(nóng)科院作科所重大
      2023-07-31 23:30:26350

      蔡司掃描電鏡在半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用成果

      掃描電鏡-電子通道襯度成像技術(shù)（SEM-ECCI）是一種在掃描電鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展在缺陷表征領(lǐng)域替代了一部分透射電鏡（TEM）的功能，相對透射電鏡分析而言
      2023-07-31 15:59:56330

      半導(dǎo)體器件鍵合失效模式及機(jī)理分析

      本文通過對典型案例的介紹，分析了鍵合工藝不當(dāng)，以及器件封裝因素對器件鍵合失效造成的影響。通過對鍵合工藝參數(shù)以及封裝環(huán)境因素影響的分析，以及對各種失效模式總結(jié)，闡述了鍵合工藝不當(dāng)及封裝不良，造成鍵合本質(zhì)失效的機(jī)理；并提出了控制有缺陷器件裝機(jī)使用的措施。
      2023-07-26 11:23:15930

      蔡司熱場掃描電鏡Sigma 300電子顯微鏡

      蔡司熱場掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠?qū)Ω鞣N材質(zhì)的導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附件可以實現(xiàn)樣品表面微觀區(qū)域內(nèi)的成分和織構(gòu)分析
      2023-07-26 10:48:06650

      LED驅(qū)動電路圖分享 LED驅(qū)動電路的工作原理和失效機(jī)理分析

      隨著市場需求的不斷增加，近年從事LED制造和研發(fā)的人員大大增加。LED企業(yè)亦如雨后春筍般成長。由于從事LED驅(qū)動研發(fā)的企業(yè)和人眾多，其技術(shù)水平參 差不齊，研發(fā)出來的LED驅(qū)動電路質(zhì)量好壞不一。導(dǎo)致LED燈具的失效時常發(fā)生，阻礙了LED照明的市場推廣。
      2023-07-25 09:12:046864

      蔡司場發(fā)射掃描電鏡SIGMA 500

      蔡司場發(fā)射掃描電鏡SIGMA500采用了GEMINI電子束無交叉光路設(shè)計，打破了傳統(tǒng)設(shè)計中電子束交叉三次發(fā)生能量擴(kuò)散的局限性，束流大小適中，極大地降低色差對圖像質(zhì)量的影響;鏡筒內(nèi)置電子束加速器，無需
      2023-07-14 16:26:59916

      幾種常見的關(guān)于SEM IP的沖突

      SEM IP是一種比較特殊的IP。它的基本工作就是不停地后臺掃描檢測FPGA配置RAM中的數(shù)據(jù)
      2023-07-10 16:40:23420

      EM科特 CUBE-Ⅱ臺式桌面掃描電鏡與傳統(tǒng)掃描電鏡的區(qū)別

      EM科特（EmCrafts）Cube系列桌面式掃描電鏡，是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。區(qū)別與傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機(jī)身，Cube系列占地面積小，便攜性能好，可遵照客戶服務(wù)指南任意移動SEM設(shè)備。 EM
      2023-07-05 15:24:02433

      關(guān)于EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列的特點分析

      的高性能高效率，大樣品倉內(nèi)含5軸共心電動樣品臺，可更輕松地測量大尺寸樣品。 EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列 產(chǎn)品優(yōu)勢 l大尺寸樣品分析? Veritas系列可以分析常規(guī)SEM無法分析的大尺寸樣品。例如：晶圓，磁盤 l無損樣品分析?? 無需切割即可分析樣品。例如PCB，半導(dǎo)體圖案分析 l較重
      2023-07-05 15:13:38270

      關(guān)于ESD靜電浪涌測試在連接器端子失效分析中的應(yīng)用啟示

      信號板HDMI連接器接地pin腳出現(xiàn)燒毀不良圖源:華南檢測中心本文案例，從信號板HDMI連接器接地pin腳出現(xiàn)燒毀不良現(xiàn)象展開，通過第三方實驗室提供失效分析報告，可以聚焦失效可能原因，比如，可能輸入
      2023-07-05 10:04:23238

      SEM掃描電鏡工作原理，SEM掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用

      等領(lǐng)域。SEM掃描電鏡分析實驗室圖源：優(yōu)爾鴻信華南檢測中心SEM掃描電鏡工作原理SEM電鏡工作原理，主要基于聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品，通過光束與物質(zhì)間的相
      2023-07-05 10:04:061995

      AMEYA360談蔡司場發(fā)射掃描電鏡Sigma系列

      近日，蔡司中國新一代場發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma系列新品線上發(fā)布會成功舉行。為了滿足新能源、新材料、電子半導(dǎo)體和集成電路、深海、航天、生命科學(xué)和考古學(xué)等熱門領(lǐng)域高分辨率成像和綜合分析的需要，蔡司
      2023-07-04 15:39:24249

      BGA失效分析與改善對策

      BGA失效分析與改善對策
      2023-06-26 10:47:41438

      集成電路封裝失效分析流程

      為了防止在失效分析過程中丟失封裝失效證據(jù)或因不當(dāng)順序引人新的人為的失效機(jī)理，封裝失效分析應(yīng)按一定的流程進(jìn)行。
      2023-06-25 09:02:30315

      集成電路封裝失效分析方法

      集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關(guān)的失效現(xiàn)象、形式（失效模式），查找封裝失效原因，確定失效的物理化學(xué)過程（失效機(jī)理），為集成電路封裝糾正設(shè)計、工藝改進(jìn)等預(yù)防類似封裝失效的再發(fā)生，提升
      2023-06-21 08:53:40572

      場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 500規(guī)格參數(shù)

      今天三本精密儀器小編給您介紹場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM500規(guī)格參數(shù)及樣品制備要求：一、樣品要求（1）本儀器不接收磁性、易潮、液體、有機(jī)、生物、不耐熱、熔融蒸發(fā)、松動粉末或碎屑等有揮發(fā)物樣品
      2023-06-19 11:15:40813

      講一下失效分析中最常用的輔助實驗手段：亮點分析（EMMI）

      EMMI：Emission microscopy 。與SEM，F(xiàn)IB，EB等一起作為最常用的失效分析手段。
      2023-06-12 18:21:182310

      喜提儀器行業(yè)大獎！國儀量子場發(fā)射掃描電鏡SEM5000獲“3i獎”

      5月18日，2023第十六屆中國科學(xué)儀器發(fā)展年會(ACCSI2023)在北京雁棲湖國際會展中心盛大開幕，并頒發(fā)“儀器及檢測3i獎”。國儀量子自主研發(fā)的場發(fā)射掃描電鏡SEM5000榮獲“3i
      2023-05-30 17:19:16366

      PCBA焊接潤濕不良分析

      No.1 案例概述 PCBA出現(xiàn)焊接潤濕不良，分析剝離的器件與PCB板，推測虛焊發(fā)生原因與助焊劑（警惕！電子產(chǎn)品的“隱形殺手”——助焊劑殘留）相關(guān)性較大。詳細(xì)分析方案，請瀏覽文章獲知。 No.2
      2023-05-23 09:08:19666

      LED驅(qū)動電源失效的原因分析

      LED驅(qū)動電源作為LED照明中不可或缺的一部分，對其電子封裝技術(shù)要求亦愈發(fā)嚴(yán)苛，不僅需要具備優(yōu)異的耐候性能、機(jī)械力學(xué)性能、電氣絕緣性能和導(dǎo)熱性能，同時也需要兼顧灌封材料和元器件的粘接性。那么在LED驅(qū)動電源的使用中，導(dǎo)致LED驅(qū)動電源失效的原因都有哪些呢?下面就跟隨名錦坊小編一起來看看吧!
      2023-05-18 11:21:19851

      怎樣進(jìn)行芯片失效分析？

      失效分析為設(shè)計工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計，使之與設(shè)計規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。
      2023-05-13 17:16:251365

      TVS二極管失效機(jī)理與失效分析

      。 通過對TVS篩選和使用短路失效樣品進(jìn)行解剖觀察獲得其失效部位的微觀形貌特征．結(jié)合器件結(jié)構(gòu)、材料、制造工藝、工作原理、篩選或使用時所受的應(yīng)力等。采用理論分析和試驗證明等方法分析導(dǎo)致7rvS器件短路失效的原因。
      2023-05-12 17:25:483678

      進(jìn)口芯片失效怎么辦？做個失效分析查找源頭

      芯片對于電子設(shè)備來說非常的重要，進(jìn)口芯片在設(shè)計、制造和使用的過程中難免會出現(xiàn)失效的情況。于是當(dāng)下，生產(chǎn)對進(jìn)口芯片的質(zhì)量和可靠性的要求越來越嚴(yán)格。因此進(jìn)口芯片失效分析的作用也日漸凸顯了出來，那么進(jìn)口芯片失效分析常用的方法有哪些呢？下面安瑪科技小編為大家介紹。
      2023-05-10 17:46:31548

      Wire Bond引線鍵合不良原因有哪些

      金線與金線短路 客戶: Atheros (CABGA) 不良: 金線與金線引腳短路 失效模式: 測試失效 (短路)
      2023-04-29 07:21:00946

      培訓(xùn)通知｜國儀量子2023年第二期SEM線下應(yīng)用培訓(xùn)班

      課程簡介為持續(xù)給國儀量子SEM用戶提供高質(zhì)量的使用體驗，國儀量子電鏡事業(yè)部將搭建一個用戶與國儀量子應(yīng)用專家之間進(jìn)行深入技術(shù)交流的平臺，定期開展在線和線下的應(yīng)用培訓(xùn)課程。本次線下課程以小班形式進(jìn)行教學(xué)
      2023-04-21 09:20:47279

      半導(dǎo)體集成電路失效分析原理及常見失效分析方法介紹！

      失效分析（FA）是一門發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開發(fā)
      2023-04-18 09:11:211360

      失效分析和可靠性測試：為什么SAM現(xiàn)在是必不可少的設(shè)備

      對所有制造材料進(jìn)行100%全面檢查。 制造商測試實驗室、研發(fā)中心、材料研究小組和質(zhì)量控制部門，尋找微小缺陷正在刺激對掃描聲學(xué)顯微鏡(SAM)設(shè)備的投資。失效分析和可靠性檢測計量技術(shù)已變得至關(guān)重要，現(xiàn)在SAM與X射線和掃描電子顯微鏡(SEM)等其他實驗室測試和測量儀器并駕齊驅(qū)。
      2023-04-14 16:21:39925

      回流焊具體是怎樣的呢？回流焊的原理是什么？

      幾十至一百度范圍內(nèi)，作為焊料中成分之一的溶劑即會降低粘度而流出。　　如果其流出的趨勢是十分強(qiáng)烈的，會同時將焊料顆粒擠出焊區(qū)外的含金顆粒，在熔融時如不能返回到焊區(qū)內(nèi)，也會形成滯留的焊料球。　　除上面的因素
      2023-04-13 17:10:36

      喜報！國儀量子電子顯微鏡單年交付超100臺

      場發(fā)射掃描電鏡SEM5000SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場發(fā)射掃描電子顯微鏡。先進(jìn)的鏡筒設(shè)計，高壓隧道技術(shù)（SuperTunnel）、低像差無漏磁物鏡設(shè)計，實現(xiàn)了低電壓高分辨率成像，同時
      2023-04-12 11:38:30572

      PCB板在組裝過程中過波峰焊時孔爬錫不良的原因都有哪些？

      PCB板在組裝過程中過波峰焊時孔爬錫不良的原因都有哪些？孔銅爬錫不好是啥原因？
      2023-04-11 16:55:09

      BGA失效分析與改善對策

      BGA失效分析與改善對策
      2023-04-11 10:55:48577

      北京大學(xué)先進(jìn)光子集成公共平臺正式開放運行

      該平臺擁有超凈間面積約300平方米，其中百級潔凈區(qū)50平米，配備了可完整涵蓋微加工需求的大、中、小型設(shè)備，包括電子束曝光機(jī)、掃描電鏡、磁控濺射儀、等離子刻蝕機(jī)、快速退火爐、精密貼片機(jī)、勻膠機(jī)、離子濺射儀、膜厚計、原子力顯微鏡、任意波形發(fā)生器、高速采樣示波器、信號分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀等。
      2023-04-10 11:24:06712

      【技術(shù)】BGA封裝焊盤的走線設(shè)計

      測試模具，缺點是價格目前相當(dāng)昂貴。BGA焊接不良原因1BGA焊盤孔未處理BGA焊接的焊盤上有孔，在焊接過程中 焊球會與焊料一起丟失 ，由于PCB生產(chǎn)中缺乏電阻焊接工藝，焊錫和焊球會通過靠近焊板的孔而
      2023-03-24 11:51:19

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