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電子發燒友網>今日頭條>PMMA光擴散粉顆粒形貌觀察和直徑測量分析

PMMA光擴散粉顆粒形貌觀察和直徑測量分析

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2023-09-09 08:07:32352

白光干涉儀可以看顯微形貌嗎?

白光干涉儀是一種常見的測量設備,它能夠利用不同的光束干涉原理來觀察測量顯微形貌。當白色光經過分束鏡分成兩束光線,這些光線在目標物體上反射后重新合并。這樣,生成的光束會發生干涉,由此產生一系列明暗相間的干涉條紋。這些條紋的形狀和間距與目標物體的表面形貌直接相關。
2023-08-23 10:35:21441

白光干涉儀只能測同質材料嗎?

、三維表面結構:粗糙度,波紋度,表面結構,缺陷分析,晶粒分析等; 2、二維圖像分析:距離,半徑,斜坡,格子圖,輪廓線等; 3、表界面測量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面; 4、薄膜和厚膜
2023-08-21 13:46:12

維修434福祿克電能質量分析儀一閃后黑屏

近日某司送修福祿克電能質量分析儀434,客戶反饋電能質量分析儀一閃后黑屏,對儀器進行初步檢測,確定與客戶描述故障一致。本期將為大家分享本維修案例。 下面就是福祿克-434維修情況 ? 福祿克電能質量分析
2023-08-16 17:52:11442

CP國產臺階儀 接觸式表面形貌測量儀器

CP國產臺階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀器,其主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數的測量測量時通過使用2μm半徑的金剛石針尖在超精密位移臺移動樣品時掃描其表面,測針的垂直位移
2023-08-16 11:16:49

白光干涉儀測二維形貌怎么測

白光干涉儀利用白光干涉原理,通過測量光的相位變化來獲取物體表面的形貌信息。在工業制造、科學研究等領域,被廣泛用于測量精密器件的形貌、表面缺陷檢測等方面。白光干涉儀通過對干涉條紋進行圖像處理,可以獲得
2023-07-21 11:05:48418

白光干涉儀測三維形貌怎么測

白光干涉儀測量的結果通常以二維形貌圖或三維形貌圖的形式展示。二維形貌圖是對干涉條紋進行圖像處理得到的,顯示出被測物體表面的高低起伏。而三維形貌圖則是在二維圖像的基礎上,進一步還原出物體表面的立體形貌
2023-07-21 11:03:00522

簡約不簡單之激光光束3D測量分析

SFC系列遠場掃描儀旨在滿足對發光元件光束質量分析和測試的日益增長的需求。該遠場掃描儀具有廣泛的操作和測量范圍,而且并不犧牲速度性能——典型的測量周期僅需幾秒,非常適合發光元件的生產測試。
2023-07-20 15:18:07408

如何制作一個基于英飛凌單片機的電能質量分析儀?

本次我制作了一個基于英飛凌單片機的電能質量分析儀。也就是利用單片機采集交流電壓,利用FFT,計算電壓中的各物理量,并且利用OLED顯示屏對計算結果進行顯示。
2023-07-18 16:56:51510

激光脈沖和載流子擴散過程

光電探測量采用脈沖激光照明半導體襯底并產生電子-空穴對。電子-空穴對擴散到傳感器的電極,從而可以檢測到由載流子擴散所引起的電壓變化。
2023-07-10 08:56:22423

測量中的數據采集系統:構成和信號隔離

一套完整的測量設備或者測量分析系統,包含了傳感器、數據采集系統(硬件)和軟件分析系統三部分。
2023-07-03 15:09:13881

法國Femto easy BeamPro系列光束質量分析

Femto easy的BeamPro系列光束質量分析儀(上海屹持光電代理)。所有CCD都經過專業的激光專家精心篩選和驗證,以滿足各種激光束測量的需求。基于像素大小、
2023-06-29 13:39:29

可實現激光光斑檢測及測試應用——光束質量分析

1,可選超寬光譜多波?系列產品,覆蓋紫外到?波紅外波?范圍。 2,較寬的光斑直徑測量范圍:光斑直徑范圍可滿足目前市場大部分的光斑產品范圍,并支持更小光斑拓展。
2023-06-28 11:39:46659

科普|電能質量分析儀的應用和優點

電能質量分析儀已經成為了企業電氣安全和正常運轉的設備之一,其可靠性和使用效果受到廣泛認可。企業如果想要提高設備的工作效率,延長設備的壽命,降低電能成本,就要盡可能利用電能質量分析儀的優點,并不斷改進和完善設備,實現企業的可持續發展。
2023-06-19 16:04:10400

激光光幕測徑儀ZM10X用于高精度鋼絲、線纜直徑測量

英國真尚有ZM10X系列激光光幕測徑儀在測量線纜直徑方面的顯著優勢就是它的高精確度。英國真尚有ZM10X系列具有多個標準型號,可以實時檢測不同直徑的電線,最小可測0.03mm大小的物體,且測量精度高達±0.3um,這在傳統方法中是不可能的。而這種高精度確保了線材的質量能夠始終如一地保持,并符合所要求的標準。
2023-06-16 11:59:38322

光束質量分析儀獲得客戶廣泛認同

?光束質量分析儀可實現激光光斑檢測及測試應用,為客戶提供定制光束質量分析一體化設計解決方案,并支持多應用開發。 通過光束分析裝置一體化設計,配套衰減方案設計,支持實時曝光及增益調節。 可根據客戶
2023-06-15 16:24:18305

噪聲系數測量—超量程方法

噪聲系數分析儀通常是作為頻譜儀的選件功能,配合標準噪聲源,用Y因子法,測量分析被測件DUT的噪聲系數。
2023-06-12 10:22:301240

擦拭布液體顆粒計數器

  PMT-2擦拭布液體顆粒計數器,采用英國普洛帝核心技術創新型的第八代雙激光窄顆粒檢測傳感器,雙精準流量控制-精密計量柱塞泵和超精密流量電磁控制系統,可以對清潔產品濕態發塵量、潔凈室
2023-06-08 15:56:10

清洗劑液體顆粒計數器

PMT-2清洗劑液體顆粒計數器,采用英國普洛帝核心技術創新型的第八代雙激光窄顆粒檢測傳感器,雙精準流量控制-精密計量柱塞泵和超精密流量電磁控制系統,可以對清洗劑、半導體、超純水、電子產品、平板玻璃
2023-06-08 15:50:31

光學三維形貌測量概述

? 技術背景 物體三維形貌提供豐富直觀的信息,在現代工業與生活中許多領域有廣泛的應用。的非接觸三維測量有著廣泛的應用。經典的外觀幾何測量諸如長度,角度,平面度,直線度等的測量技術一般采用接觸式測試
2023-05-29 15:20:351100

VT6000共聚焦顯微鏡 超高清三維形貌成像系統

在材料生產檢測領域中,共聚焦顯微鏡主要測量表面物理形貌,進行微納米尺度的三維形貌分析,如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓(縱深、寬度、曲率、角度)、表面粗糙度等。與傳統光學顯微鏡相比,它具有更高
2023-05-25 11:27:02

白光干涉儀可以測曲面粗糙度嗎?

測表面反射回來,另外一束經參考鏡反射,兩束反射最終匯聚并發生干涉,顯微鏡將被測表面的形貌特征轉化為干涉條紋信號,通過測量干涉條紋的變化,能實現表面輪廓的三維重建并可進行輪廓尺寸分析。 白光干涉儀的形貌
2023-05-23 13:58:04

一起來討論一下Anritsu安立 MU195020A信號質量分析儀吧!

的PCI Express Gen6,也開始采用了多通道技術。 安立的信號質量分析儀-R MP1900A系列是一款具備8個模塊插槽的高性能BERT,通過PPG/ED、及抖動/噪聲發生器等擴展測量
2023-05-17 17:59:55

一起來探討一下Anritsu安立 MU196020A信號質量分析儀吧!

的PCI Express Gen6,也開始采用了多通道技術。 安立的信號質量分析儀-R MP1900A系列是一款具備8個模塊插槽的高性能BERT,通過PPG/ED、及抖動/噪聲發生器等擴展測量
2023-05-17 17:57:44

了解一下Anritsu安立 MP1900A信號質量分析

的PCI Express Gen6,也開始采用了多通道技術。 安立的信號質量分析儀-R MP1900A系列是一款具備8個模塊插槽的高性能BERT,通過PPG/ED、及抖動/噪聲發生器等擴展測量
2023-05-17 17:54:39

白光干涉儀的原理和測量方法

白光干涉儀是以白光干涉技術為原理,能夠以優于納米級的分辨率,非接觸測量樣品表面形貌的光學測量儀器,用于表面形貌紋理,微觀結構分析,用于測試各類表面并自動聚焦測量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓
2023-05-15 14:34:231961

發電機及關鍵任務測試應用——電能質量分析儀Dranetz HDPQ系列

發電機及關鍵任務測試應用——電能質量分析儀Dranetz HDPQ系列
2023-05-12 16:43:18377

基于銀納米顆粒/銅納米線復合材料的電化學無酶葡萄糖傳感器

研究人員首先對銀納米顆粒/銅納米線進行了合成,并對制備的銅納米線和化學沉積后負載不同尺寸銀納米顆粒的銅納米線進行了形貌和結構表征(圖1)。隨后,利用制備的銀納米顆粒/銅納米線材料制備獲得銀納米顆粒/銅納米線電極,用于后續無酶葡萄糖傳感性能的研究。
2023-05-12 15:19:28631

某電廠汽輪機油顆粒度異常分析及處理

對機組運行汽輪機潤滑油顆粒污染度(即顆粒度)異常升高的現象進行了調查分析,通過各種油液分析手段,采取逐步排除法,將引起顆粒度異常的原因范圍縮小到了“外部污染”。使問題的解決有了明確的方向。
2023-04-25 13:58:26566

昊衡科技:國產多功能光矢量分析儀(OCI-V)制造商

系統研發和解決方案開發,擁有OFDR核心技術,并成功推出國產多功能光學矢量分析系統--OCI-V。圖1.光矢量分析系統(OCI-V)OCI-V光學矢量分析系統,原理
2023-04-02 16:54:22755

光束質量分析儀參數及原理解析

本產品像素大小3.45μm 光斑檢測直徑范圍34.5μm~7mm 標配磁吸衰減,方便操作,可選更高功率衰減配置,功率范圍可達1000W 支持手動和自動實時曝光及增益調節 高性價比,可代替進口激光光束質量分析儀,實現激光光斑檢測及測試應用
2023-03-24 09:54:27910

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