、襯底檢查、掃描電鏡檢查、PN結(jié)染?、DB FIB、熱點(diǎn)檢測(cè)、漏電位置檢測(cè)、彈坑檢測(cè)、粗細(xì)撿漏、ESD 測(cè)試（2）常?失效模式分析：靜電損傷、過(guò)電損傷、鍵合
2024-03-15 17:34:29
服務(wù)范圍LED芯片、LED支架、LED封裝膠、銀漿、鍵合線(xiàn)、LED燈珠（COB、LAMP、TOP、CHIP）、LED燈具、燈具驅(qū)動(dòng)電源。檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)● GB/T15651-1995半導(dǎo)體器件分立器件
2024-03-15 09:23:03
基本介紹功率器件可靠性是器件廠商和應(yīng)用方除性能參數(shù)外最為關(guān)注的，也是特性參數(shù)測(cè)試無(wú)法評(píng)估的，失效分析則是分析器件封裝缺陷、提升器件封裝水平和應(yīng)用可靠性的基礎(chǔ)。廣電計(jì)量擁有業(yè)界領(lǐng)先的專(zhuān)家團(tuán)隊(duì)及先進(jìn)
2024-03-13 16:26:07
MOS管瞬態(tài)熱阻測(cè)試（DVDS）失效品分析如何判斷是封裝原因還是芯片原因，有什么好的建議和思路
2024-03-12 11:46:57
昊量光電新推出法國(guó)ARGOLIGHT公司生產(chǎn)的耐用型熒光顯微鏡校準(zhǔn)載玻片，用于熒光顯微鏡的標(biāo)定和光路對(duì)準(zhǔn)。獨(dú)創(chuàng)的顯微鏡標(biāo)定技術(shù)和光路對(duì)準(zhǔn)得益于將亞納米級(jí)三維/二維圖案嵌入到載玻片的技術(shù)，且圖案不會(huì)
2024-03-05 08:18:54
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熒光分光光度計(jì)是一種常用的光譜分析儀器，利用熒光現(xiàn)象對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)量和分析。其原理是在樣品被激發(fā)后，吸收入射光的能量并在較短的時(shí)間內(nèi)釋放出來(lái)，產(chǎn)生一個(gè)特定波長(zhǎng)的熒光光譜。熒光分光光度計(jì)通常使用熒光
2024-02-18 11:20:53239 貼片電阻阻值降低失效分析? 貼片電阻是電子產(chǎn)品中常見(jiàn)的元件之一。在電路中起著調(diào)節(jié)電流、電壓以及降低噪聲等作用。然而，就像其他電子元件一樣，貼片電阻也可能發(fā)生故障或失效。其中最常見(jiàn)的故障之一是電阻阻值
2024-02-05 13:46:22179 ，適用于廣泛的熒光分析應(yīng)用。氙燈的光譜強(qiáng)度與波長(zhǎng)有明顯的相關(guān)性，能夠較好地滿(mǎn)足熒光測(cè)定的要求。 在某些特殊的應(yīng)用中，鎵砷化鎵（GaAs）也被用作熒光分光光度計(jì)的光源。與氙燈不同，GaAs使用激光二極管（LD）作為激發(fā)源，具有較窄的發(fā)射譜帶。G
2024-02-05 11:05:43265 ; QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求檢測(cè)項(xiàng)目試驗(yàn)類(lèi)型試驗(yàn)項(xiàng)??損分析X 射線(xiàn)透視、聲學(xué)掃描顯微鏡、?相顯微鏡電特性/電性定位分析電參數(shù)測(cè)試、IV&a
2024-01-29 22:40:29
服務(wù)范圍LED芯片、LED支架、LED封裝膠、銀漿、鍵合線(xiàn)、LED燈珠（COB、LAMP、TOP、CHIP）、LED燈具、燈具驅(qū)動(dòng)電源。檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)● GB/T15651-1995半導(dǎo)體器件分立器件
2024-01-29 22:04:38
，通過(guò)激發(fā)熒光粉產(chǎn)生白光的技術(shù)。而LCD背光燈則是使用LED（發(fā)光二極管）作為背光源，通過(guò)LED的發(fā)光產(chǎn)生背光光源。 其次，從結(jié)構(gòu)上看，CCFL冷陰極螢光燈管背光燈通常由CCFL燈管、反射器、熒光粉、外殼等組成。而LCD背光燈則一般由LED芯片、導(dǎo)光板
2024-01-24 10:50:07515 熒光分光光度計(jì)是一種專(zhuān)用儀器，用于研究和分析樣品中的熒光性質(zhì)。熒光分光光度計(jì)通常具有兩個(gè)單色器，以便對(duì)樣品進(jìn)行激發(fā)和檢測(cè)。 熒光現(xiàn)象是一種分子在受到光能激發(fā)后，吸收并重新輻射出較長(zhǎng)波長(zhǎng)的光的過(guò)程
2024-01-16 10:05:16273 SMT貼片加工廠中加工的協(xié)作方式有許多，SMT包工包料的方式逐漸興盛起來(lái)，可是也有許多客戶(hù)選擇來(lái)料加工。
2024-01-15 10:23:52139 目前，國(guó)內(nèi)不少?gòu)S家在生產(chǎn)燈具后僅僅對(duì)燈具進(jìn)行簡(jiǎn)單的老化測(cè)試后出貨，顯然這是無(wú)法檢驗(yàn)出LED的壽命期的失效情況，同時(shí)無(wú)法保證產(chǎn)品的質(zhì)量，因此后期可能會(huì)有不少的客戶(hù)退貨返修。也有部分廠家對(duì)燈具做高溫
2024-01-11 16:48:40143 
什么是鋰離子電池失效？鋰離子電池失效如何有效分析檢測(cè)？ 鋰離子電池失效是指電池容量的顯著下降或功能完全喪失，導(dǎo)致電池?zé)o法提供持久且穩(wěn)定的電能輸出。鋰離子電池失效是由多種因素引起的，包括電池化學(xué)反應(yīng)
2024-01-10 14:32:18216 多層片狀陶介電容器由陶瓷介質(zhì)、端電極、金屬電極三種材料構(gòu)成，失效形式為金屬電極和陶介之間層錯(cuò)，電氣表現(xiàn)為受外力（如輕輕彎曲板子或用烙鐵頭碰一下）和溫度沖擊（如烙鐵焊接）時(shí)電容時(shí)好時(shí)壞。
2024-01-10 09:28:16528 
在了解了DIPIPM失效分析的流程后是不是會(huì)很容易地找到市場(chǎng)失效的原因了呢？答案是否定的。不管是對(duì)收集到的市場(chǎng)失效信息還是對(duì)故障解析報(bào)告的解讀、分析都需要相應(yīng)的專(zhuān)業(yè)技能作為背景，對(duì)整機(jī)進(jìn)行的測(cè)試也需要相應(yīng)的測(cè)試技能。
2023-12-27 15:41:37278 
BGA（Ball Grid Array）是一種高密度的表面貼裝封裝技術(shù)，它將芯片的引腳用焊球代替，并以網(wǎng)格狀排列在芯片的底部，通過(guò)回流焊與印刷電路板（PCB）上的焊盤(pán)連接。然而，BGA也存在一些可靠性問(wèn)題，其中最常見(jiàn)的就是焊點(diǎn)失效。本文主要介紹兩種典型的BGA焊點(diǎn)失效模式：冷焊和葡萄球效應(yīng)。
2023-12-27 09:10:47233 DIPIPM是雙列直插型智能功率模塊的簡(jiǎn)稱(chēng)，由三菱電機(jī)于1997年正式推向市場(chǎng)，迄今已在家電、工業(yè)和汽車(chē)空調(diào)等領(lǐng)域獲得廣泛應(yīng)用。本講座主要介紹DIPIPM的基礎(chǔ)、功能、應(yīng)用和失效分析技巧，旨在幫助讀者全面了解并正確使用該產(chǎn)品。
2023-12-22 15:15:27241 
常見(jiàn)的齒輪失效有哪些形式？失效的原因是什么？可采用哪些措施來(lái)減緩失效的發(fā)生？ 齒輪是機(jī)械傳動(dòng)中常用的一種傳動(dòng)方式，它能夠?qū)?dòng)力從一個(gè)軸傳遞到另一個(gè)軸上。然而，在長(zhǎng)時(shí)間使用過(guò)程中，齒輪也會(huì)出現(xiàn)各種失效
2023-12-20 11:37:151052 ESD失效和EOS失效的區(qū)別 ESD（電靜電放電）失效和EOS（電壓過(guò)沖）失效是在電子設(shè)備和電路中經(jīng)常遇到的兩種失效問(wèn)題。盡管它們都涉及電氣問(wèn)題，但其具體產(chǎn)生的原因、影響、預(yù)防方法以及解決方法
2023-12-20 11:37:023069 演唱會(huì)熒光棒的顏色控制涉及到幾個(gè)方面：熒光棒自身的設(shè)計(jì)、燈光師的控制技術(shù)以及音樂(lè)表演的氛圍。 首先，熒光棒是一種可以發(fā)光的小棒狀物品，它內(nèi)部包含了電池、發(fā)光元件和電路等部件。熒光棒通常使用LED
2023-12-20 10:23:01624 ▼關(guān)注公眾號(hào)：工程師看海▼ 失效分析一直伴隨著整個(gè)芯片產(chǎn)業(yè)鏈，復(fù)雜的產(chǎn)業(yè)鏈中任意一環(huán)出現(xiàn)問(wèn)題都會(huì)帶來(lái)芯片的失效問(wèn)題。芯片從工藝到應(yīng)用都會(huì)面臨各種失效風(fēng)險(xiǎn)，筆者平時(shí)也會(huì)參與到失效分析中，這一期就對(duì)失效
2023-12-20 08:41:04530 
計(jì)失效模式和影響分析（DFMEA，Design Failure Mode and Effects Analysis）在汽車(chē)工業(yè)中扮演著非常重要的角色。
2023-12-14 18:21:402297 
保護(hù)器件過(guò)電應(yīng)力失效機(jī)理和失效現(xiàn)象淺析
2023-12-14 17:06:45262 
品牌：久濱型號(hào)：JB-500名稱(chēng)：陶瓷研缽式研磨機(jī)一、產(chǎn)品概述： 本品為大型自動(dòng)研磨設(shè)備，可用于醫(yī)藥微粉、超硬材料微粉、電子微粉、食品微粉、化工微粉、礦物微粉、高分子材料微粉、齒科材料膏體（濕磨
2023-12-14 11:21:09
成分發(fā)現(xiàn)，須莊狀質(zhì)是硫化銀晶體。原來(lái)電阻被來(lái)自空氣中的硫給腐蝕了。 失效分析發(fā)現(xiàn)，主因是電路板上含銀電子元件如貼片電阻、觸點(diǎn)開(kāi)關(guān)、繼電器和LED等被硫化腐蝕而失效。銀由于優(yōu)質(zhì)的導(dǎo)電特性，會(huì)被使用作為電極、焊接材料
2023-12-12 15:18:171020 
1、案例背景 LED燈帶在使用一段時(shí)間后出現(xiàn)不良失效，初步判斷失效原因?yàn)殂~腐蝕。據(jù)此情況，對(duì)失效樣品進(jìn)行外觀觀察、X-RAY分析、切片分析等一系列檢測(cè)手段，明確失效原因。 2、分析過(guò)程 2.1 外觀
2023-12-11 10:09:07188 
熒光檢測(cè)器原理? 熒光檢測(cè)器是一種常用的分析儀器，可以通過(guò)測(cè)量物質(zhì)在紫外或可見(jiàn)光激發(fā)下發(fā)出的熒光強(qiáng)度來(lái)分析樣品的組分和濃度。它在生物醫(yī)學(xué)、環(huán)境監(jiān)測(cè)、化學(xué)分析等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。熒光檢測(cè)器的工作原理
2023-12-08 15:47:111026 晶振失效了？怎么解決？
2023-12-05 17:22:26230 
型號(hào)為 M8×96 mm，強(qiáng)度等級(jí)為 10.9 級(jí)。通過(guò)理化檢驗(yàn)、裝配工 藝分析和振動(dòng)測(cè)試情況分析多種手段，對(duì)該新能 源電池模組固定螺栓斷裂失效的原因進(jìn)行了調(diào)查 分析，便于制定相應(yīng)的措施避免后期類(lèi)似事故再 次發(fā)生。
2023-12-03 10:57:27529 
DIPIPM是雙列直插型智能功率模塊的簡(jiǎn)稱(chēng)，由三菱電機(jī)于1997年正式推向市場(chǎng)，迄今已在家電、工業(yè)和汽車(chē)空調(diào)等領(lǐng)域獲得廣泛應(yīng)用。本講座主要介紹DIPIPM的基礎(chǔ)、功能、應(yīng)用和失效分析技巧，旨在幫助讀者全面了解并正確使用該產(chǎn)品。
2023-11-29 15:16:24414 
CCC認(rèn)證是確保產(chǎn)品在質(zhì)量和安全方面符合中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)的中國(guó)強(qiáng)制性產(chǎn)品認(rèn)證體系。為了滿(mǎn)足CCC認(rèn)證的要求，產(chǎn)品需要通過(guò)相應(yīng)的檢驗(yàn)。本文將詳細(xì)分析CCC認(rèn)證的檢驗(yàn)規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)，幫助您更好地了解CCC認(rèn)證過(guò)程中
2023-11-28 16:14:03377 
實(shí)驗(yàn)室設(shè)備的更新?lián)Q代的需求。中國(guó)檢驗(yàn)認(rèn)證集團(tuán)南京檢驗(yàn)認(rèn)證公司HS-DSC-101差示掃描量熱儀是一種先進(jìn)的熱分析儀器，具有高靈敏度、高分辨率和快速掃描等特點(diǎn)。該儀器
2023-11-25 10:37:08177 
損壞的器件不要丟，要做失效分析！
2023-11-23 09:04:42181 
壓接型IGBT器件與焊接式IGBT模塊封裝形式的差異最終導(dǎo)致兩種IGBT器件的失效形式和失效機(jī)理的不同，如表1所示。本文針對(duì)兩種不同封裝形式IGBT器件的主要失效形式和失效機(jī)理進(jìn)行分析。1.焊接式IGBT模塊封裝材料的性能是決定模塊性能的基礎(chǔ)，尤其是封裝
2023-11-23 08:10:07721 
FPC在后續(xù)組裝過(guò)程中，連接器發(fā)生脫落。在對(duì)同批次的樣品進(jìn)行推力測(cè)試后，發(fā)現(xiàn)連接器推力有偏小的現(xiàn)象。據(jù)此進(jìn)行失效分析，明確FPC連接器脫落原因。
2023-11-20 16:32:22312 
將詳細(xì)分析光耦失效的幾種常見(jiàn)原因。 首先，常見(jiàn)的光耦失效原因之一是LED失效。LED是光耦發(fā)光二極管的核心部件，它會(huì)發(fā)出光信號(hào)。常見(jiàn)的LED失效原因有兩種：老化和損壞。LED的使用壽命是有限的，長(zhǎng)時(shí)間使用后會(huì)逐漸老化。老化后的LE
2023-11-20 15:13:441445 那么就要用到一些常用的失效分析技術(shù)。介于PCB的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)與失效的主要模式，其中金相切片分析是屬于破壞性的分析技術(shù)，一旦使用了這兩種技術(shù)，樣品就破壞了，且無(wú)法恢復(fù)；另外由于制樣的要求，可能掃描電鏡分析和X射線(xiàn)能譜分析有時(shí)也需要部分破壞樣品。
2023-11-16 17:33:05115 介紹LGA器件焊接失效分析及對(duì)策
2023-11-15 09:22:14349 
在電子主板生產(chǎn)的過(guò)程中，一般都會(huì)出現(xiàn)失效不良的主板，因?yàn)槭且驗(yàn)楦鞣N各樣的原因所導(dǎo)致的，比如短路，開(kāi)路，本身元件的問(wèn)題或者是認(rèn)為操作不當(dāng)?shù)鹊人鸬摹?所以在電子故障的分析中，需要考慮這些因素，從而
2023-11-07 11:46:52386 熒光納米傳感器因在化學(xué)、生物學(xué)檢測(cè)中的簡(jiǎn)便、靈敏和高通量而備受關(guān)注，是分析化學(xué)的重要研究方向之一。由于微囊藻毒素不能增強(qiáng)/猝滅量子點(diǎn)的熒光發(fā)射，難以直接熒光檢測(cè)。
2023-11-03 11:33:23122 
一、案例背景 車(chē)門(mén)控制板發(fā)生暗電流偏大異常的現(xiàn)象，有持續(xù)發(fā)生的情況，初步判斷發(fā)生原因?yàn)镃3 MLCC電容開(kāi)裂。據(jù)此情況，結(jié)合本次失效樣品，對(duì)失效件進(jìn)行分析，明確失效原因。 二、分析過(guò)程 1、失效復(fù)現(xiàn)
2023-11-03 11:24:22279 
磁粉測(cè)功機(jī)是由定子、實(shí)心轉(zhuǎn)子、激磁線(xiàn)圈、磁粉介質(zhì)、支架、底板等組成，當(dāng)磁粉測(cè)功機(jī)內(nèi)部線(xiàn)圈通過(guò)電流時(shí)產(chǎn)生磁場(chǎng)，使內(nèi)部磁粉按磁力線(xiàn)排成磁鏈，由磁粉鏈產(chǎn)生拉力變?yōu)樽柚罐D(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)的阻力，該力即為負(fù)載力矩。改變
2023-10-28 13:26:08
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《大功率固態(tài)高功放功率合成失效分析.pdf》資料免費(fèi)下載
2023-10-20 14:43:47
0 除了日本NIMS機(jī)構(gòu)(National Institute for Materials Science)和三菱公司持有一部分CASN熒光粉核心專(zhuān)利外，另一部分核心專(zhuān)利原本由日本松下公司持有，如今松下公司與聚飛光電達(dá)成專(zhuān)利轉(zhuǎn)讓協(xié)議，將其持有的CASN核心專(zhuān)利全部轉(zhuǎn)讓給聚飛光電。
2023-10-18 16:07:56346 
串口通信奇偶檢驗(yàn)什么意思 為什么要使用奇偶檢驗(yàn) 怎么使用奇偶檢驗(yàn)？ 串口通信奇偶檢驗(yàn)是指通過(guò)對(duì)串口傳輸數(shù)據(jù)的校驗(yàn)位進(jìn)行奇偶校驗(yàn)，來(lái)判斷數(shù)據(jù)是否傳輸正確。 在串口通信中，每一個(gè)字符都由一定
2023-10-17 16:16:053226 日前，瑞豐光電與Current 化學(xué)公司簽署了KSF（PFS）熒光粉應(yīng)用專(zhuān)利授權(quán)協(xié)議，通過(guò)這個(gè)授權(quán)，瑞豐光電可以全球范圍內(nèi)將KSF熒光粉應(yīng)用于瑞豐照明LED產(chǎn)品，將進(jìn)一步加快瑞豐拓展全球高端照明
2023-10-16 18:56:31157 
本文涵蓋HIP失效分析、HIP解決對(duì)策及實(shí)戰(zhàn)案例。希望您在閱讀本文后有所收獲，歡迎在評(píng)論區(qū)發(fā)表您的想法。
2023-10-16 15:06:08299 
SD卡響應(yīng)指令CRC檢驗(yàn)是必需的嗎
2023-10-16 06:59:11
本文主要設(shè)計(jì)了用于封裝可靠性測(cè)試的菊花鏈結(jié)構(gòu)，研究了基于扇出型封裝結(jié)構(gòu)的芯片失效位置定位方法，針對(duì)芯片偏移、ＲDL 分層兩個(gè)主要失效問(wèn)題進(jìn)行了相應(yīng)的工藝改善。經(jīng)過(guò)可靠性試驗(yàn)對(duì)封裝的工藝進(jìn)行了驗(yàn)證，通過(guò)菊花鏈的通斷測(cè)試和阻值變化，對(duì)失效位置定位進(jìn)行了相應(yīng)的失效分析。
2023-10-07 11:29:02410 
NO.1 案例背景 某攝像頭模組，在生產(chǎn)測(cè)試過(guò)程中發(fā)生功能不良失效，經(jīng)過(guò)初步的分析，判斷可能是LGA封裝主芯片異常。 NO.2 分析過(guò)程 #1 X-ray分析 樣品#1 樣品#2 測(cè)試結(jié)果：兩個(gè)失效
2023-09-28 11:42:21399 
滾動(dòng)軸承的可靠性與滾動(dòng)軸承的失效形式有著密切的關(guān)系，要提高軸承的可靠性，就必須從軸承的失效形式著手，仔細(xì)分析滾動(dòng)軸承的失效原因，才能找出解決失效的具體措施。今天我們通過(guò)PPT來(lái)了解一下軸承失效。
2023-09-15 11:28:51212 
失效分析是一門(mén)發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開(kāi)始從軍工向普通企業(yè)普及，它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開(kāi)發(fā)、改進(jìn)，產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。
2023-09-12 09:51:47291 
為什么熒光發(fā)射波長(zhǎng)大于激發(fā)波長(zhǎng)? 熒光是一種可以被激發(fā)的物理現(xiàn)象，許多物質(zhì)在激發(fā)后能夠放出光子發(fā)出熒光。在某些情況下，熒光發(fā)射波長(zhǎng)比激發(fā)波長(zhǎng)更長(zhǎng)。這種現(xiàn)象被稱(chēng)為熒光紅移。 熒光的紅移現(xiàn)象可以用許多
2023-09-08 10:55:262972 過(guò)剩的能量，從而導(dǎo)致光子的發(fā)射。這些光子直接產(chǎn)生紅、黃、藍(lán)和綠色的光?；谌?，通過(guò)添加熒光粉，LED可以發(fā)出各種顏色的光。
2023-09-08 10:53:20502 
失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。
2023-09-06 10:28:051331 
Tektronix泰克TDS7254數(shù)字熒光粉示波器2.5G，采樣率20Gs/sTDS7254是泰克TDS7000系列示波器，是用于驗(yàn)證、調(diào)試和表征復(fù)雜的電子設(shè)計(jì)的高性能解決方案。TDS7000系列
2023-09-02 17:20:41
集成電路失效分析 隨著現(xiàn)代社會(huì)的快速發(fā)展，人們對(duì)集成電路（Integrated Circuit，簡(jiǎn)稱(chēng)IC）的需求越來(lái)越大，IC在各種電子設(shè)備中占據(jù)著至關(guān)重要的地位，如手機(jī)、電腦、汽車(chē)等都需要使用到
2023-08-29 16:35:13627 芯片失效分析方法 芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術(shù)的發(fā)展，各種芯片被廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)生產(chǎn)和家庭電器中。然而，在使用過(guò)程中，芯片的失效是非常常見(jiàn)的問(wèn)題。芯片失效分析是解決這個(gè)問(wèn)題的關(guān)鍵。 芯片
2023-08-29 16:29:112800 半導(dǎo)體失效分析? 半導(dǎo)體失效分析——保障電子設(shè)備可靠性的重要一環(huán) 隨著電子科技的不斷發(fā)展，電子設(shè)備已成為人們生活和工作不可或缺的一部分，而半導(dǎo)體也是電子設(shè)備中最基本的組成部分之一。其作用是將電能轉(zhuǎn)化
2023-08-29 16:29:08736 高頻變壓器的性能和效率很大程度上取決于所使用的鐵氧體磁芯的質(zhì)量。因此，對(duì)于高頻變壓器廠家來(lái)說(shuō)，鐵氧體磁芯的來(lái)料檢驗(yàn)非常重要。以下是詳細(xì)的檢驗(yàn)步驟和考慮因素：
2023-08-28 11:23:031020 受到消費(fèi)者的青睞。而在LED燈的工作原理中，恒流驅(qū)動(dòng)被廣泛應(yīng)用，為什么LED燈使用恒流不使用恒壓，成為了許多人關(guān)心的問(wèn)題。 首先，我們需要了解LED的結(jié)構(gòu)與工作原理。一般LED由PN結(jié)、熒光粉和導(dǎo)電化合物組成。當(dāng)電流通過(guò)PN結(jié)時(shí)，電子和空穴結(jié)
2023-08-27 16:26:062408 鉭電容失效分析 鉭電容失效原因分析 鉭電容燒壞的幾種原因 鉭電容是一種電子元器件，通常用于將電場(chǎng)儲(chǔ)存為電荷的裝置。它們具有高電容和低ESR等優(yōu)點(diǎn)，因此被廣泛應(yīng)用于數(shù)字電路、模擬電路和電源等領(lǐng)域。然而
2023-08-25 14:27:562133 摘要：光譜成像組合了光譜技術(shù)和成像技術(shù)。通過(guò)運(yùn)用成像光譜儀，光譜成像方法可以記錄被檢驗(yàn)物體在一個(gè)較寬光譜范圍內(nèi)均勻密集分布的窄波段反射光或熒光亮度分布影像，形成含有物體亮度信息和光譜信息的光譜影像
2023-08-21 06:37:19425 
本文通過(guò)對(duì)典型案例的介紹，分析了鍵合工藝不當(dāng)，以及器件封裝因素對(duì)器件鍵合失效造成的影響。通過(guò)對(duì)鍵合工藝參數(shù)以及封裝環(huán)境因素影響的分析，以及對(duì)各種失效模式總結(jié)，闡述了鍵合工藝不當(dāng)及封裝不良，造成鍵合本質(zhì)失效的機(jī)理；并提出了控制有缺陷器件裝機(jī)使用的措施。
2023-07-26 11:23:15930 電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《高功率因數(shù)導(dǎo)致替換T8熒光燈使用AL9910高壓LED控制器.pdf》資料免費(fèi)下載
2023-07-25 16:15:220 隨著市場(chǎng)需求的不斷增加，近年從事LED制造和研發(fā)的人員大大增加。LED企業(yè)亦如雨后春筍般成長(zhǎng)。由于從事LED驅(qū)動(dòng)研發(fā)的企業(yè)和人眾多，其技術(shù)水平參 差不齊，研發(fā)出來(lái)的LED驅(qū)動(dòng)電路質(zhì)量好壞不一。導(dǎo)致LED燈具的失效時(shí)常發(fā)生，阻礙了LED照明的市場(chǎng)推廣。
2023-07-25 09:12:046864 
本標(biāo)準(zhǔn)是將恒溫恒濕試驗(yàn)烘箱的溫度和相對(duì)濕度設(shè)置至85±1 ℃和85±2%，待溫度和相對(duì)濕度達(dá)到設(shè)定值時(shí)，放入熒光粉樣品，儲(chǔ)存1000h，隨即取出，在干燥器中自然冷卻至室溫。
2023-07-19 10:30:24226 
與開(kāi)封前測(cè)試結(jié)果加以比較，是否有改變，管殼內(nèi)是否有水汽的影響。進(jìn)一步可將表面氧化層、鋁條去掉，用機(jī)械探針扎在有關(guān)節(jié)點(diǎn)上進(jìn)行靜態(tài)（動(dòng)態(tài)）測(cè)試、判斷被隔離部分是否性能正常，分析失效原因。
2023-07-05 09:43:04317 
與外界的連接。然而，在使用過(guò)程中，封裝也會(huì)出現(xiàn)失效的情況，給產(chǎn)品的可靠性帶來(lái)一定的影響。因此，對(duì)于封裝失效的分析和解決方法具有很重要的意義。
2023-06-28 17:32:001779 BGA失效分析與改善對(duì)策
2023-06-26 10:47:41438 
為了防止在失效分析過(guò)程中丟失封裝失效證據(jù)或因不當(dāng)順序引人新的人為的失效機(jī)理，封裝失效分析應(yīng)按一定的流程進(jìn)行。
2023-06-25 09:02:30315 
集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關(guān)的失效現(xiàn)象、形式（失效模式），查找封裝失效原因，確定失效的物理化學(xué)過(guò)程（失效機(jī)理），為集成電路封裝糾正設(shè)計(jì)、工藝改進(jìn)等預(yù)防類(lèi)似封裝失效的再發(fā)生，提升
2023-06-21 08:53:40572 應(yīng)用概述 什么是扭曲檢驗(yàn)測(cè)試系統(tǒng)? 扭曲檢驗(yàn)測(cè)試系統(tǒng)，是一種專(zhuān)門(mén)用來(lái)檢驗(yàn)測(cè)試材料和產(chǎn)品的耐扭曲強(qiáng)調(diào)、鋼度和應(yīng)力應(yīng)變特性的設(shè)備。通常是在一定的實(shí)用模擬環(huán)境中，通過(guò)扭力傳感器來(lái)檢驗(yàn)或測(cè)試被測(cè)對(duì)象的軸向
2023-06-14 09:48:44394 
EMMI：Emission microscopy 。與SEM，F(xiàn)IB，EB等一起作為最常用的失效分析手段。
2023-06-12 18:21:182310 
日立分析儀器（上海）有限公司于2023年6月宣布推出EA1280，這是一款用于在中國(guó)測(cè)量環(huán)境有害物質(zhì)的新型能量色散X射線(xiàn)熒光分析儀。
2023-06-12 12:40:50281 
01來(lái)料檢驗(yàn)入門(mén)公司在采購(gòu)物料到貨之后會(huì)有一個(gè)檢驗(yàn)的過(guò)程，需要驗(yàn)證產(chǎn)品符不符合當(dāng)初采購(gòu)的要求，產(chǎn)品數(shù)量是否準(zhǔn)確，產(chǎn)品參數(shù)等各方面是否合格的，然后才會(huì)錄入系統(tǒng)、交付需求部門(mén)。保證來(lái)料合規(guī)主
2023-06-09 09:56:06239 
LED驅(qū)動(dòng)電源作為LED照明中不可或缺的一部分，對(duì)其電子封裝技術(shù)要求亦愈發(fā)嚴(yán)苛，不僅需要具備優(yōu)異的耐候性能、機(jī)械力學(xué)性能、電氣絕緣性能和導(dǎo)熱性能，同時(shí)也需要兼顧灌封材料和元器件的粘接性。那么在LED驅(qū)動(dòng)電源的使用中，導(dǎo)致LED驅(qū)動(dòng)電源失效的原因都有哪些呢?下面就跟隨名錦坊小編一起來(lái)看看吧!
2023-05-18 11:21:19851 紅光LED芯片是單電極結(jié)構(gòu)，它兩個(gè)電極之間的材質(zhì)、厚度、襯底材料與雙電極的藍(lán)綠光LED不一樣，所承受的靜電能量要比雙電極的高很多。
2023-05-15 09:26:20423 
失效分析為設(shè)計(jì)工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計(jì)，使之與設(shè)計(jì)規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。
2023-05-13 17:16:251365 。
通過(guò)對(duì)TVS篩選和使用短路失效樣品進(jìn)行解剖觀察獲得其失效部位的微觀形貌特征．結(jié)合器件結(jié)構(gòu)、材料、制造工藝、工作原理、篩選或使用時(shí)所受的應(yīng)力等。采用理論分析和試驗(yàn)證明等方法分析導(dǎo)致7rvS器件短路失效的原因。
2023-05-12 17:25:483678 
失效模式：各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。
2023-05-11 14:39:113227 
芯片對(duì)于電子設(shè)備來(lái)說(shuō)非常的重要，進(jìn)口芯片在設(shè)計(jì)、制造和使用的過(guò)程中難免會(huì)出現(xiàn)失效的情況。于是當(dāng)下，生產(chǎn)對(duì)進(jìn)口芯片的質(zhì)量和可靠性的要求越來(lái)越嚴(yán)格。因此進(jìn)口芯片失效分析的作用也日漸凸顯了出來(lái)，那么進(jìn)口芯片失效分析常用的方法有哪些呢？下面安瑪科技小編為大家介紹。
2023-05-10 17:46:31548 LED是一種直接將電能轉(zhuǎn)換為可見(jiàn)光和輻射能的發(fā)光器件，具有耗電量小、發(fā)光效率高、體積小等優(yōu)點(diǎn)，目前已經(jīng)逐漸成為了一種新型高效節(jié)能產(chǎn)品，并且被廣泛應(yīng)用于顯示、照明、背光等諸多領(lǐng)域。近年來(lái)，隨著LED
2023-04-26 14:45:59544 
為了將制程問(wèn)題降至最低，環(huán)旭電子利用高精度3D X-Ray定位異常元件的位置，利用激光去層和重植球技術(shù)提取SiP 模組中的主芯片。同時(shí)，利用X射線(xiàn)光電子能譜和傅立葉紅外光譜尋找元件表面有機(jī)污染物的源頭，持續(xù)強(qiáng)化SiP模組失效分析領(lǐng)域分析能力。
2023-04-24 11:31:411357 失效率是可靠性最重要的評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)，所以研究IGBT的失效模式和機(jī)理對(duì)提高IGBT的可靠性有指導(dǎo)作用。
2023-04-20 10:27:041117 
失效分析（FA）是一門(mén)發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開(kāi)始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開(kāi)發(fā)
2023-04-18 09:11:211360 
如圖，第十二道主流程為FQC。FQC的目的：FQC即final quality control，最終品質(zhì)控制。在這道工序主要是對(duì)PCB的外觀進(jìn)行檢驗(yàn)。檢驗(yàn)外觀，大家可能覺(jué)得就沒(méi)有什么流程了吧？其實(shí)
2023-04-14 11:53:26
如圖，第十二道主流程為FQC。FQC的目的：FQC即final quality control，最終品質(zhì)控制。在這道工序主要是對(duì)PCB的外觀進(jìn)行檢驗(yàn)。檢驗(yàn)外觀，大家可能覺(jué)得就沒(méi)有什么流程了吧？其實(shí)
2023-04-14 11:43:02
中。LED大燈是一種固態(tài)照明產(chǎn)品，它與常規(guī)氙氣、鹵素大燈存在許多區(qū)別。一方面由于芯片設(shè)計(jì)，熒光粉及封裝工藝等因素的影響，可能造成不同批LED組件間甚至同一批LED組件
2023-04-14 10:23:30933 BGA失效分析與改善對(duì)策
2023-04-11 10:55:48577 常規(guī)的熒光光譜儀主要來(lái)測(cè)試物質(zhì)的激發(fā)光譜、發(fā)射光譜、量子產(chǎn)率、熒光壽命、三維熒光等方面的信息，其它的像磷光、上轉(zhuǎn)換發(fā)光、變溫光譜、熒光偏振以及激光誘導(dǎo)熒光等性能，也可通過(guò)配置適宜的附件進(jìn)行檢測(cè)分析
2023-04-11 07:36:371041 
程中出現(xiàn)了大量的失效問(wèn)題。 對(duì)于這種失效問(wèn)題，我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù)，來(lái)使得PCB在制造的時(shí)候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證，本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù)，供參考借鑒。
2023-04-10 14:16:22749 基于熒光方法的IVD檢測(cè)使用特定波長(zhǎng)的光激發(fā)含有熒光標(biāo)記的樣本，如圖1的綠色箭頭所示。如果樣本中包含目標(biāo)分析物，被熒光標(biāo)記的目標(biāo)分析物會(huì)發(fā)射低能量的光對(duì)激發(fā)做出反應(yīng)。
2023-04-04 10:29:28964 德索五金電子工程師指出，電子線(xiàn)束、連接器、硬件組件是線(xiàn)束加工廠的主要原材料，確保原材料質(zhì)量是線(xiàn)束加工廠質(zhì)量控制的源泉，一方面尋找優(yōu)質(zhì)供應(yīng)商，另一方面是控制進(jìn)料檢驗(yàn)，那么線(xiàn)束加工廠進(jìn)貨檢驗(yàn)的主要環(huán)節(jié)是什么?
2023-03-29 14:31:57421 
目前熒光分析法已經(jīng)發(fā)展成為一種重要且有效的光譜化學(xué)分析手段。在我國(guó)，50年代初期僅有極少數(shù)的分析化學(xué)工作者從事熒光分析方面的研究工作，但到了70年代后期，熒光分析法已引起國(guó)內(nèi)分析界的廣泛重視，在全國(guó)
2023-03-29 08:03:18819 
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