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掃描電鏡能夠直接觀察表面粗化后樣品表面的結(jié)構(gòu)，對比粗化處理前后表面的粗糙度。掃描電鏡景深大，圖象富有立體感，可觀察經(jīng)過粗化處理的表面三維島狀結(jié)構(gòu)。
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藍(lán)寶石圖形襯底表面形貌觀察SEM的分析
- SEM(14323)
- 掃描電鏡(8844)
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臺階儀接觸式表面形貌測量儀
臺階儀是一種接觸式表面形貌測量儀器，可以對微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。中圖儀器CP系列臺階儀接觸式表面形貌測量儀廣泛應(yīng)用于：大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所
2023-09-14 16:10:14
三維白光干涉表面形貌儀
SuperViewW1三維白光干涉表面形貌儀采用光學(xué)干涉技術(shù)、精密Z向掃描模塊和3D重建算法組成測量系統(tǒng)，高精度測量；隔振系統(tǒng)能夠有效隔離頻率2Hz以上絕大部分振動，消除地面振動噪聲和空氣中聲波振動
2023-09-13 10:30:22
錫膏量與再流焊后焊點(diǎn)形貌關(guān)系分析
表面貼裝技術(shù)中的鋼網(wǎng)設(shè)計(jì)是決定焊膏沉積量的關(guān)鍵因素，而再流焊后形成的焊點(diǎn)形貌與鋼網(wǎng)的開口設(shè)計(jì)有著千絲萬縷的聯(lián)系。從SMT錫膏印刷工藝的理論基礎(chǔ)出發(fā)，結(jié)合實(shí)際PCB（印制線路板）上錫膏印刷量，針對在不同線寬的高速信號線衍生形成的焊盤上印刷不同體積的錫膏量，論證再流焊后形成的焊點(diǎn)形貌。
2023-09-12 10:29:03383
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碲鎘汞貫穿型缺陷的形貌特征及成分構(gòu)成研究
，另一方面需要控制材料表面的缺陷密度，減少由缺陷導(dǎo)致的碲鎘汞外延片可用面積損失。研究人員已經(jīng)對碲鎘汞薄膜的表面缺陷進(jìn)行了大量研究。液相外延碲鎘汞材料表面出現(xiàn)的貫穿型缺陷深度超過10 μm，與碲鎘汞材料的厚度相近，可達(dá)碲鋅鎘襯底界面
2023-09-10 08:58:20368
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光學(xué)材料表面形貌測試儀
SuperViewW1光學(xué)材料表面形貌測試儀是利用光學(xué)干涉原理研制開發(fā)的超精細(xì)表面輪廓測量儀器，具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測量單個精細(xì)器件的過程用時2分鐘以內(nèi)，確保
2023-09-08 17:32:10
聚焦離子束FIBSEM切片測試【博仕檢測】
聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng) FIB-SEM應(yīng)用
聚焦離子束-掃描電鏡雙束系統(tǒng)主要用于表面二次電子形貌觀察、能譜面掃描、樣品截面觀察、微小樣品標(biāo)記以及TEM超薄片樣品的制備。
1.FIB切片
2023-09-05 11:58:27
Arm圖形分析器1.0版入門指南
此教程描述如何使用 Arm 圖形分析器來捕捉使用馬里 GPU 的 Android 設(shè)備運(yùn)行的可調(diào)試應(yīng)用程序的圖形痕跡。 您也可以觀看此教程的視頻: 在您開始在主機(jī)上 : 1. 下載并安裝適合您的主機(jī)
2023-08-24 08:04:03
白光干涉儀可以看顯微形貌嗎？
白光干涉儀是一種常見的測量設(shè)備，它能夠利用不同的光束干涉原理來觀察和測量顯微形貌。當(dāng)白色光經(jīng)過分束鏡分成兩束光線，這些光線在目標(biāo)物體上反射后重新合并。這樣，生成的光束會發(fā)生干涉，由此產(chǎn)生一系列明暗相間的干涉條紋。這些條紋的形狀和間距與目標(biāo)物體的表面形貌直接相關(guān)。
2023-08-23 10:35:21441
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白光干涉儀只能測同質(zhì)材料嗎？
、三維表面結(jié)構(gòu)：粗糙度，波紋度，表面結(jié)構(gòu)，缺陷分析，晶粒分析等；
2、二維圖像分析：距離，半徑，斜坡，格子圖，輪廓線等；
3、表界面測量：透明表面形貌，薄膜厚度，透明薄膜下的表面；
4、薄膜和厚膜
2023-08-21 13:46:12
光學(xué)3D表面輪廓儀可以測金屬嗎？
測量金屬制品的長度、寬度、高度等維度參數(shù)。
除了測量金屬表面的形狀和輪廓外，光學(xué)3D表面輪廓儀還可以生成三維點(diǎn)云數(shù)據(jù)和色彩圖像，用于進(jìn)一步分析和展示：
1、三維點(diǎn)云數(shù)據(jù)可以用于進(jìn)行CAD模型比對、工藝
2023-08-21 13:41:46
CP國產(chǎn)臺階儀 接觸式表面形貌測量儀器
CP國產(chǎn)臺階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀器，其主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測量。測量時通過使用2μm半徑的金剛石針尖在超精密位移臺移動樣品時掃描其表面，測針的垂直位移
2023-08-16 11:16:49
幾種led襯底的主要特性對比 氮化鎵同質(zhì)外延的難處
GaN半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈各環(huán)節(jié)為：襯底→GaN材料外延→器件設(shè)計(jì)→器件制造。其中，襯底是整個產(chǎn)業(yè)鏈的基礎(chǔ)。 作為襯底，GaN自然是最適合用來作為GaN外延膜生長的襯底材料。
2023-08-10 10:53:31664
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圖形分析器用戶指南
圖形分析器是一個幫助OpenGL ES和Vulkan開發(fā)人員通過API級別的分析來充分利用其應(yīng)用程序的工具。
該工具允許您觀察API調(diào)用參數(shù)和返回值，并與正在運(yùn)行的目標(biāo)應(yīng)用程序交互，以調(diào)查單個API
2023-08-09 06:08:14
結(jié)構(gòu)深、角度大、反射差？用共聚焦顯微鏡就對啦！
和共聚焦3D顯微形貌檢測技術(shù)，廣泛應(yīng)用于涉足超精密加工領(lǐng)域的三維形貌檢測與表面質(zhì)量檢測方案。其中，VT6000系列共聚焦顯微鏡，在結(jié)構(gòu)復(fù)雜且反射率低的表面3D微觀形貌重構(gòu)與檢測方面具有不俗的表現(xiàn)。
一
2023-08-04 16:12:06
SEM5000交付中國農(nóng)科院作科所重大平臺中心
平臺中心并正式投入使用。SEM5000可提供形貌觀測服務(wù)：（1）對于觀測已經(jīng)干燥的組織樣品，可以直接在儀器預(yù)約平臺上預(yù)約使用。（2）需要進(jìn)行干燥處理的新鮮組織樣品，可以采用固定液
2023-07-31 23:30:26350
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白光干涉儀測二維形貌怎么測
白光干涉儀利用白光干涉原理，通過測量光的相位變化來獲取物體表面的形貌信息。在工業(yè)制造、科學(xué)研究等領(lǐng)域，被廣泛用于測量精密器件的形貌、表面缺陷檢測等方面。白光干涉儀通過對干涉條紋進(jìn)行圖像處理，可以獲得
2023-07-21 11:05:48418
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白光干涉儀測三維形貌怎么測
白光干涉儀測量的結(jié)果通常以二維形貌圖或三維形貌圖的形式展示。二維形貌圖是對干涉條紋進(jìn)行圖像處理得到的，顯示出被測物體表面的高低起伏。而三維形貌圖則是在二維圖像的基礎(chǔ)上，進(jìn)一步還原出物體表面的立體形貌
2023-07-21 11:03:00522
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幾種常見的關(guān)于SEM IP的沖突
SEM IP是一種比較特殊的IP。它的基本工作就是不停地后臺掃描檢測FPGA配置RAM中的數(shù)據(jù)
2023-07-10 16:40:23420
420SEM掃描電鏡工作原理，SEM掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用
這是Amanda王莉第55篇文章,點(diǎn)這里關(guān)注我,記得標(biāo)星在當(dāng)今世界，SEM掃描電子顯微鏡分析技術(shù)，一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段，主要應(yīng)用在半導(dǎo)體、材料科學(xué)、生命科學(xué)和納米材料
2023-07-05 10:04:061995
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NightN光學(xué)表面形貌測試儀HION
NightN光學(xué)表面形貌測試儀HION產(chǎn)品介紹：光學(xué)測試儀HION用于光學(xué)表面測試。該技術(shù)基于 Shack-Hartmann 方法。激光束從被測光學(xué)表面反射并進(jìn)入 Shack-Hartmann 波前
2023-06-29 14:12:45
III族氮化物半導(dǎo)體外延層薄膜
基于具有規(guī)則六邊形孔的納米圖案化氮化鋁AlN/藍(lán)寶石模板，藍(lán)寶石氮化預(yù)處理和解理面的有序橫向生長，保證了離散的氮化鋁AlN柱，以均勻的面外和面內(nèi)取向結(jié)合，有效地抑制了凝聚過程中穿透位錯threading dislocations的再生。
2023-06-25 16:26:11359
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白光干涉儀(光學(xué)3D表面輪廓儀)能測什么？應(yīng)用案例介紹
白光干涉儀是以白光干涉技術(shù)原理，對各種精密器件表面進(jìn)行納米級測量的光學(xué)3D表面輪廓測量儀，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸
2023-06-16 11:53:051106
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GaN單晶襯底顯著改善HEMT器件電流崩塌效應(yīng)
最重要的器件之一，在功率器件和射頻器件領(lǐng)域擁有廣泛的應(yīng)用前景。HEMT器件通常是在硅(Si)、藍(lán)寶石(Al2O3)、碳化硅(SiC)等異質(zhì)襯底上通過金屬有機(jī)氣象外延(MOCVD)進(jìn)行外延制備。由于異質(zhì)
2023-06-14 14:00:551652
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講一下失效分析中最常用的輔助實(shí)驗(yàn)手段：亮點(diǎn)分析（EMMI）
EMMI：Emission microscopy 。與SEM，F(xiàn)IB，EB等一起作為最常用的失效分析手段。
2023-06-12 18:21:182310
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載體晶圓對蝕刻速率、選擇性、形貌的影響
等離子體蝕刻是氮化鎵器件制造的一個必要步驟，然而，載體材料的選擇可能會實(shí)質(zhì)上改變蝕刻特性。在小型單個芯片上制造氮化鎵（GaN）設(shè)備，通常會導(dǎo)致晶圓的成本上升。在本研究中，英思特通過鋁基和硅基載流子來研究蝕刻過程中蝕刻速率、選擇性、形貌和表面鈍化的影響。
2023-05-30 15:19:54452
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VT6000共聚焦顯微鏡 超高清三維形貌成像系統(tǒng)
在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中，共聚焦顯微鏡主要測量表面物理形貌，進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析，如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓（縱深、寬度、曲率、角度）、表面粗糙度等。與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡相比，它具有更高
2023-05-25 11:27:02
基于AlN單晶襯底的AlGaN溝道型MOSHFET最新進(jìn)展
AlN基器件的熱阻抗降至AlN/藍(lán)寶石基器件的1/3（從31K-mm/W壓降至10K-mm/W），與SiC和銅散熱器相當(dāng)，相較于其他半導(dǎo)體器件體現(xiàn)出顯著的熱電協(xié)同設(shè)計(jì)優(yōu)勢，從而實(shí)現(xiàn)峰值漏極飽和電流
2023-05-25 09:51:23599
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白光干涉儀可以測曲面粗糙度嗎？
測表面反射回來，另外一束光經(jīng)參考鏡反射，兩束反射光最終匯聚并發(fā)生干涉，顯微鏡將被測表面的形貌特征轉(zhuǎn)化為干涉條紋信號，通過測量干涉條紋的變化，能實(shí)現(xiàn)表面輪廓的三維重建并可進(jìn)行輪廓尺寸分析。
白光干涉儀的形貌
2023-05-23 13:58:04
白光干涉儀(光學(xué)3D表面輪廓儀)與臺階儀的區(qū)別
特性與使用性能的關(guān)系、控制和改進(jìn)加工方法等都有著顯著的意義。隨著微電子技術(shù)、光學(xué)技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)、傳感技術(shù)、信號分析和處理技術(shù)等飛速發(fā)展，對表面形貌測量精度不斷提高
2023-05-19 16:52:10411
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PTFE表面等離子改性的原理 引入活性基團(tuán) 提高粘附性
PTFE表面等離子改性是一種有效的技術(shù)手段，可以改變PTFE表面的性質(zhì)，增加其在各個領(lǐng)域的應(yīng)用。通過引入親水基團(tuán)、改善表面形貌、形成致密的氟化物膜等方式，可以提高PTFE表面的粘附性、潤濕性、抗腐蝕性、耐磨性、生物相容性和電性能。
2023-05-19 10:45:39628
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藍(lán)寶石陶瓷基板在MEMS器件中發(fā)揮的作用
藍(lán)寶石是一種高硬度、高強(qiáng)度、高熔點(diǎn)的陶瓷材料，其主要成分是氧化鋁（Al2O3）。藍(lán)寶石陶瓷基板的制備方法是在高溫高壓下燒結(jié)制成。藍(lán)寶石陶瓷基板的晶體結(jié)構(gòu)具有六方晶系，其晶體密度為3.98 g/cm
2023-05-17 08:42:00519
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rt_sem_control的使用場景是什么？
在信號量的api中有一個api: rt_sem_control ,目前只支持一個命令RT_IPC_CMD_RESET 即重置信號量值，在官方的demo中經(jīng)常看到這種用法rt_sem
2023-05-05 17:26:37
藍(lán)寶石陶瓷電路板在MEMS器件發(fā)揮的作用
藍(lán)寶石是一種高硬度、高強(qiáng)度、高熔點(diǎn)的陶瓷材料，其主要成分是氧化鋁（Al2O3）。藍(lán)寶石陶瓷基板的制備方法是在高溫高壓下燒結(jié)制成。藍(lán)寶石陶瓷基板的晶體結(jié)構(gòu)具有六方晶系，其晶體密度為3.98 g/cm3，熔點(diǎn)為2040℃。
2023-05-05 16:35:28343
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氮化鎵（GaN）的晶體結(jié)構(gòu)與性質(zhì)
生長中主要以藍(lán)寶石、Si、砷化鎵、氧化鎂等的立方相結(jié)構(gòu)作為襯底，以（011）面為基面有可能得到比較穩(wěn)定的閃鋅礦結(jié)構(gòu)的氮化鎵納米材料。
2023-04-29 16:41:0012092
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上海光機(jī)所在光學(xué)操控二維納米片運(yùn)動方面獲得進(jìn)展
研究團(tuán)隊(duì)利用傳統(tǒng)的機(jī)械剝離法在藍(lán)寶石襯底上制備了二維金屬納米片，利用光學(xué)顯微鏡將飛秒脈沖激光垂直輻射在納米片上：當(dāng)脈沖激光照射時，二維納米片開始運(yùn)動，并在均勻光照區(qū)域內(nèi)持續(xù)運(yùn)動，通過激光的移動來改變輻照區(qū)域
2023-04-28 10:35:17483
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藍(lán)寶石陶瓷電路板在MEMS器件發(fā)揮的作用
藍(lán)寶石陶瓷基板是一種高硬度、高強(qiáng)度、高熔點(diǎn)的陶瓷材料，其主要成分是氧化鋁（Al2O3）。藍(lán)寶石陶瓷基板的制備方法是在高溫高壓下燒結(jié)制成。藍(lán)寶石陶瓷基板的晶體結(jié)構(gòu)具有六方晶系，其晶體密度為3.98 g/cm3，熔點(diǎn)為2040℃。
2023-04-25 15:38:04400
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光刻技術(shù)的種類介紹
根據(jù)維基百科的定義，光刻是半導(dǎo)體器件制造工藝中的一個重要步驟，該步驟利用曝光和顯影在光刻膠層上刻畫幾何圖形結(jié)構(gòu)，然后通過刻蝕工藝將光掩模上的圖形轉(zhuǎn)移到所在襯底上。這里所說的襯底不僅包含硅晶圓，還可以是其他金屬層、介質(zhì)層，例如玻璃、SOS中的藍(lán)寶石。
2023-04-25 11:11:331243
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【核芯觀察】衛(wèi)星通信產(chǎn)業(yè)鏈分析（二）
【核芯觀察】是電子發(fā)燒友編輯部出品的深度系列專欄，目的是用最直觀的方式令讀者盡快理解電子產(chǎn)業(yè)架構(gòu)，理清上、中、下游的各個環(huán)節(jié)，同時迅速了解各大細(xì)分環(huán)節(jié)中的行業(yè)現(xiàn)狀。本期【核芯觀察】的主題是衛(wèi)星通信產(chǎn)業(yè)，對上下游企業(yè)、技術(shù)、市場等方面進(jìn)行梳理，分析當(dāng)前衛(wèi)星通信產(chǎn)業(yè)中芯片的需求趨勢。
2023-04-23 00:01:004089
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HF5000球差電鏡功能介紹和亮點(diǎn)功能案例分析
季豐電子HITACHI HF5000功能豐富，借助超高的分辨率和獨(dú)特的探頭設(shè)計(jì)，可滿足客戶大多數(shù)極限應(yīng)用需求，比如高分辨單原子像、輕元素成像、表面納米級至原子級形貌觀察以及納米結(jié)構(gòu)至原子形貌mapping等，對于常規(guī)需求能輕松應(yīng)對。
2023-04-11 17:08:181472
1472Roban系列飛秒激光加工系統(tǒng)應(yīng)用案例
。左圖直徑800 mm、500 mm、 300 mm 和 200 mm 微孔陣列. 右圖直徑5mm、3mm、 2mm、1mm、800 mm and 500 mm 微孔圖樣。 圖2. 藍(lán)寶石晶體表面光柵刻劃，周期2 mm和3 mm。 圖3. 透明材料（藍(lán)寶石）內(nèi)部激光誘導(dǎo)折射率變化--衍射光柵 審核編輯?黃宇
2023-04-06 07:43:13306
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