在线观看www成人影院-在线观看www日本免费网站-在线观看www视频-在线观看操-欧美18在线-欧美1级

電子發燒友App

硬聲App

0
  • 聊天消息
  • 系統消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發帖/加入社區
創作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內不再提示

電子發燒友網>今日頭條>氬離子拋光SEM制樣失效分析

氬離子拋光SEM制樣失效分析

收藏

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規問題,請聯系本站處理。 舉報投訴

評論

查看更多

相關推薦

軌道交通電子元器件失效分析

、襯底檢查、掃描電鏡檢查、PN結染?、DB FIB、熱點檢測、漏電位置檢測、彈坑檢測、粗細撿漏、ESD 測試(2)常?失效模式分析:靜電損傷、過電損傷、鍵合
2024-03-15 17:34:29

MOSFET,IGBT功率器件失效根因分析

基本介紹功率器件可靠性是器件廠商和應用方除性能參數外最為關注的,也是特性參數測試無法評估的,失效分析則是分析器件封裝缺陷、提升器件封裝水平和應用可靠性的基礎。廣電計量擁有業界領先的專家團隊及先進
2024-03-13 16:26:07

MOS管熱阻測試失效分析

MOS管瞬態熱阻測試(DVDS)失效分析如何判斷是封裝原因還是芯片原因,有什么好的建議和思路
2024-03-12 11:46:57

背散SEM中那些位置是硅的顆粒?

如下硅與石墨復配的負極材料的背散SEM,圓圈標的地方是硅嗎?如果不是還請大佬指點一下,那些位置是硅?
2024-03-12 08:53:37

免費掃描電鏡SEM-EDS測試分析【博仕檢測】

射線,表征材料元素方面的信息,可定性、半定量Be-U的元素 ; 定位測試點,如在失效分析中可以用來定位失效點,在異物分析中可以用來定位異物點。 博****仕檢測測試案例: 1.觀察材料的表面形貌
2024-03-01 18:59:58

晶體管摻雜和導電離子問題原因分析

雙極性晶體管是利用兩種離子導電,空穴和自由電子,但是對于一個實際存在的系統,其整體上是呈現電中性的,當其中的電子或者空穴移動形成電流時,與之對應的空穴或者電子為什么不會一起隨著移動? 這個問題困擾
2024-02-21 21:39:24

貼片電阻阻值降低失效分析

貼片電阻阻值降低失效分析? 貼片電阻是電子產品中常見的元件之一。在電路中起著調節電流、電壓以及降低噪聲等作用。然而,就像其他電子元件一樣,貼片電阻也可能發生故障或失效。其中最常見的故障之一是電阻阻值
2024-02-05 13:46:22179

MOSFET,IGBT功率器件失效根因分析

; QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求檢測項目試驗類型試驗項??損分析X 射線透視、聲學掃描顯微鏡、?相顯微鏡電特性/電性定位分析電參數測試、IV&a
2024-01-29 22:40:29

電阻器的失效模式有哪些

或無法測量,導致電路中的電流無法通過。 短路失效:電阻器的阻值變為零或接近零,導致電路中的電流過大,可能會損壞其他元件。 阻值漂移超規范:電阻膜有缺陷或退化,基體有可動鈉離子,保護涂層不良。 引線斷裂:電阻體焊
2024-01-18 17:08:30441

半導體行業中的化學機械拋光技術

最后的拋光步驟是進行化學蝕刻和機械拋光的結合,這種形式的拋光稱為化學機械拋光(CMP)。首先要做的事是,將晶圓片安裝在旋轉支架上并且要降低到一個墊面的高度,在然后沿著相反的方向旋轉。墊料通常是由一種
2024-01-12 09:54:06359

宏集應用丨宏集七軸機械臂,以精準力控實現柔性拋光打磨!

傳統的手工拋光打磨存在勞動強度高、拋光效果不穩定、難以處理復雜形狀、安全風險和無法滿足高質量要求等痛點。因此,應用工業機器人進行自動化表面精加工的技術隨之崛起。
2024-01-11 11:03:37196

什么是鋰離子電池失效?鋰離子電池失效如何有效分析檢測?

什么是鋰離子電池失效?鋰離子電池失效如何有效分析檢測? 鋰離子電池失效是指電池容量的顯著下降或功能完全喪失,導致電池無法提供持久且穩定的電能輸出。鋰離子電池失效是由多種因素引起的,包括電池化學反應
2024-01-10 14:32:18216

詳解陶瓷電容的失效分析

多層片狀陶介電容器由陶瓷介質、端電極、金屬電極三種材料構成,失效形式為金屬電極和陶介之間層錯,電氣表現為受外力(如輕輕彎曲板子或用烙鐵頭碰一下)和溫度沖擊(如烙鐵焊接)時電容時好時壞。
2024-01-10 09:28:16528

聚焦離子束與芯片失效分析與運用

去除表面鈍化層、金屬化層和層間介質后有時依然無法觀察到失效點,這時候就需要對芯片進行進一步處理,對于多層布線的芯片干法腐蝕或者濕法腐蝕來逐一去除,直至最后一層金屬化和介質層。
2024-01-09 15:17:27108

SEM掃描電子顯微鏡涂層磨損分析

在鉆孔過程中鉆頭會發生磨損,評估和量化磨損的狀況至關重要,因為鉆頭的狀態會直接影響加工孔的質量。如何簡單、快速的獲取鉆頭的磨損狀態?如何精準的定量分析鉆頭的磨損狀態?蔡司三本精密儀器可以通過同時提供
2024-01-08 15:12:5298

半導體芯片結構分析

SEM+EDS 可以實現對芯片結構層的測量和元素分析。 機械研磨和離子研磨測試對比:離子研磨制可避免機械研磨制會造成劃痕和軟質金屬的延展性形變問題的影響,離子研磨CP(離子拋光切割)可以避免在研磨
2024-01-02 17:08:51

SK海力士研發可重復使用CMP拋光墊技術,降低成本并加強ESG管理

CMP技術指的是在化學和機械的協同作用下,使得待拋光原料表面達到指定平面度的過程。化學藥水與原料接觸后,生成易于拋光的軟化層,隨后利用拋光墊以及研磨顆粒進行物理機械拋光,以清除軟化層。
2023-12-28 15:13:06409

第20講:DIPIPM?市場失效分析(2)

在了解了DIPIPM失效分析的流程后是不是會很容易地找到市場失效的原因了呢?答案是否定的。不管是對收集到的市場失效信息還是對故障解析報告的解讀、分析都需要相應的專業技能作為背景,對整機進行的測試也需要相應的測試技能。
2023-12-27 15:41:37278

SK海力士研發可重復使用CMP拋光墊技術

需要指出的是,CMP 技術通過化學與機械作用使得待拋光材料表面達到所需平滑程度。其中,拋光液中化學物質與材料表面發生化學反應,生成易于拋光的軟化層。拋光墊和研磨顆粒則負責物理機械拋光,清除這一軟化層。
2023-12-27 10:58:31335

BGA焊點失效分析——冷焊與葡萄球效應

BGA(Ball Grid Array)是一種高密度的表面貼裝封裝技術,它將芯片的引腳用焊球代替,并以網格狀排列在芯片的底部,通過回流焊與印刷電路板(PCB)上的焊盤連接。然而,BGA也存在一些可靠性問題,其中最常見的就是焊點失效。本文主要介紹兩種典型的BGA焊點失效模式:冷焊和葡萄球效應。
2023-12-27 09:10:47233

DIPIPM?市場失效分析(1)

DIPIPM是雙列直插型智能功率模塊的簡稱,由三菱電機于1997年正式推向市場,迄今已在家電、工業和汽車空調等領域獲得廣泛應用。本講座主要介紹DIPIPM的基礎、功能、應用和失效分析技巧,旨在幫助讀者全面了解并正確使用該產品。
2023-12-22 15:15:27241

常見的齒輪失效有哪些形式?失效的原因是什么?如何解決?

常見的齒輪失效有哪些形式?失效的原因是什么?可采用哪些措施來減緩失效的發生? 齒輪是機械傳動中常用的一種傳動方式,它能夠將動力從一個軸傳遞到另一個軸上。然而,在長時間使用過程中,齒輪也會出現各種失效
2023-12-20 11:37:151052

ESD失效和EOS失效的區別

ESD失效和EOS失效的區別 ESD(電靜電放電)失效和EOS(電壓過沖)失效是在電子設備和電路中經常遇到的兩種失效問題。盡管它們都涉及電氣問題,但其具體產生的原因、影響、預防方法以及解決方法
2023-12-20 11:37:023069

淺談失效分析失效分析流程

▼關注公眾號:工程師看海▼ 失效分析一直伴隨著整個芯片產業鏈,復雜的產業鏈中任意一環出現問題都會帶來芯片的失效問題。芯片從工藝到應用都會面臨各種失效風險,筆者平時也會參與到失效分析中,這一期就對失效
2023-12-20 08:41:04530

USB脫落失效分析

的焊錫空洞。 2)SEM表面特征分析 #位置3: 測試結果:剝離面有應力斷裂痕跡,PCB鎳層有裂紋。 ? #位置2: 測試結果:焊接面有較大的焊錫空洞,斷裂面有應力斷裂痕跡。 ? 3)EDS成分分析 ? 測試結果:剝離面主要成分為Sn、Ni, 未發現異常元素。 4)切片斷面分析 #PCB側脫落點切片斷面
2023-12-18 09:56:12155

車規MCU之設計失效模式和影響分析(DFMEA)詳解

失效模式和影響分析(DFMEA,Design Failure Mode and Effects Analysis)在汽車工業中扮演著非常重要的角色。
2023-12-14 18:21:402297

保護器件過電應力失效機理和失效現象淺析

保護器件過電應力失效機理和失效現象淺析
2023-12-14 17:06:45262

阻容感失效分析

有一批現場儀表在某化工廠使用一年后,儀表紛紛出現故障。經分析發現儀表中使用的厚膜貼片電阻阻值變大了,甚至變成開路了。把失效的電阻放到顯微鏡下觀察,可以發現電阻電極邊緣出現了黑色結晶物質,進一步分析
2023-12-12 15:18:171020

LED燈帶失效分析

1、案例背景 LED燈帶在使用一段時間后出現不良失效,初步判斷失效原因為銅腐蝕。據此情況,對失效樣品進行外觀觀察、X-RAY分析、切片分析等一系列檢測手段,明確失效原因。 2、分析過程 2.1 外觀
2023-12-11 10:09:07188

鋰電池失效原因及解決方法

短路、電解液的腐蝕等。本文將詳細介紹鋰電池失效的原因及解決方法。 首先,鋰電池失效的一個常見原因是化學物質的析出。鋰離子電池中的電解液在長時間使用后,其中的溶解物質可能會聚集起來,形成固體物質。這些固體物質會
2023-12-08 15:47:14598

晶振失效了?怎么解決?

晶振失效了?怎么解決?
2023-12-05 17:22:26230

CMP拋光墊有哪些重要指標?

CMP(Chemical Mechanical Polishing)即“化學機械拋光”,是為了克服化學拋光和機械拋光的缺點
2023-12-05 09:35:19416

調節用于高性能水系鋅離子電池的多金屬離子溶劑化結構

由于在鍍鋅/剝鋅過程中不可避免地在鋅負極表面形成枝晶,大多數水系鋅離子電池(AZIBs)會出現嚴重的容量衰退和電池失效
2023-12-04 09:52:12459

如何利用FIB和SEM中的有源和無源電位襯度進行失效定位呢?

無源電位襯度(Passive Voltage Contrast,PVC)定位基于導電結構的FIB或SEM圖像或多或少的亮度差異,可用于半導體電路的失效定位。
2023-12-01 16:18:08514

SEM:掃描線圈和放大倍率簡析

常規的TEM使用固定的入射電子束,而SEM的電子束在兩個垂直的(X和Y)方向上水平掃描樣品。
2023-12-01 11:37:50686

DIPIPM失效解析報告解讀及失效分析

DIPIPM是雙列直插型智能功率模塊的簡稱,由三菱電機于1997年正式推向市場,迄今已在家電、工業和汽車空調等領域獲得廣泛應用。本講座主要介紹DIPIPM的基礎、功能、應用和失效分析技巧,旨在幫助讀者全面了解并正確使用該產品。
2023-11-29 15:16:24414

損壞的器件不要丟,要做失效分析

損壞的器件不要丟,要做失效分析
2023-11-23 09:04:42181

IGBT的失效模式與失效機理分析探討及功率模塊技術現狀未來展望

壓接型IGBT器件與焊接式IGBT模塊封裝形式的差異最終導致兩種IGBT器件的失效形式和失效機理的不同,如表1所示。本文針對兩種不同封裝形式IGBT器件的主要失效形式和失效機理進行分析。1.焊接式IGBT模塊封裝材料的性能是決定模塊性能的基礎,尤其是封裝
2023-11-23 08:10:07721

AD623放大失效怎么解決?

:當出現失效時,如果有熱電偶連接,AD623的2,3引腳處會出現與被測溫度對應的電壓,和正常工作時一,但是輸出端沒有電壓輸出(多數情況是沒有輸出,也偶爾會有輸出,但是輸出電壓不是真實的按放大系數放大
2023-11-22 06:30:34

FPC焊點剝離失效分析

FPC在后續組裝過程中,連接器發生脫落。在對同批次的樣品進行推力測試后,發現連接器推力有偏小的現象。據此進行失效分析,明確FPC連接器脫落原因。
2023-11-20 16:32:22312

光耦失效的幾種常見原因及分析

光耦失效的幾種常見原因及分析? 光耦是一種光電耦合器件,由發光二極管和光探測器組成。它能夠將電流信號轉換為光信號,或者將光信號轉換為電流信號。但是,由于各種原因,光耦可能會出現失效的情況。本文
2023-11-20 15:13:441445

PCB失效分析技術概述

 那么就要用到一些常用的失效分析技術。介于PCB的結構特點與失效的主要模式,其中金相切片分析是屬于破壞性的分析技術,一旦使用了這兩種技術,樣品就破壞了,且無法恢復;另外由于制樣的要求,可能掃描電鏡分析和X射線能譜分析有時也需要部分破壞樣品。
2023-11-16 17:33:05115

芯秦微獲A+輪融資,用于化學機械拋光液產線建設

化學機械拋光(CMP)是目前最主流的晶圓拋光技術,拋光過程中,晶圓廠會根據每一步晶圓芯片平坦度的加工要求,選擇符合去除率(MRR)和表面粗糙度(Ra)等指標要求的拋光液,來提高拋光效率和產品良率。
2023-11-16 16:16:35212

LGA器件焊接失效分析及對策

介紹LGA器件焊接失效分析及對策
2023-11-15 09:22:14349

如何對失效的電子主板進行FA分析

在電子主板生產的過程中,一般都會出現失效不良的主板,因為是因為各種各樣的原因所導致的,比如短路,開路,本身元件的問題或者是認為操作不當等等所引起的。 所以在電子故障的分析中,需要考慮這些因素,從而
2023-11-07 11:46:52386

什么是FIB?FIB有哪些應用?如何修改線路做FIB?FIB怎么做失效分析

什么是FIB?FIB有哪些應用?如何修改線路做FIB?FIB怎么做失效分析?FIB還能生長PAD?FIB案例有些? FIB是Focused Ion Beam(聚焦離子束)的縮寫,是一種利用離子束刻蝕
2023-11-07 10:35:041668

車門控制板暗電流失效分析

一、案例背景 車門控制板發生暗電流偏大異常的現象,有持續發生的情況,初步判斷發生原因為C3 MLCC電容開裂。據此情況,結合本次失效樣品,對失效件進行分析,明確失效原因。 二、分析過程 1、失效復現
2023-11-03 11:24:22279

廣東全自動SEM掃描電鏡的原理和構造

廣東全自動SEM掃描電鏡是一種高分辨率的顯微鏡,通過掃描樣品表面并利用電子信號生成圖像。它與傳統光學顯微鏡不同,能夠提供更高的放大倍數和更好的表面細節。以下是廣東全自動SEM掃描電鏡的原理和構造
2023-10-31 15:12:41770

大功率固態高功放功率合成失效分析

電子發燒友網站提供《大功率固態高功放功率合成失效分析.pdf》資料免費下載
2023-10-20 14:43:470

HIP失效分析、HIP解決對策及實戰案例

本文涵蓋HIP失效分析、HIP解決對策及實戰案例。希望您在閱讀本文后有所收獲,歡迎在評論區發表您的想法。
2023-10-16 15:06:08299

SEM IP多種工作模式的區別和選擇指導

UltraScale / UlraScale+系列的SEM IP一共有6種工作模式
2023-10-13 10:06:59432

SEM/FIB雙束系統截面加工:實現離子的成像、注入、刻蝕和沉積

束經過離子槍聚焦、加速后作用于樣品表面,實現離子的成像、注入、刻蝕和沉積。 截面分析SEM/FIB(Scanning Electron Microscope/Focused Ion beam)雙束系統
2023-10-07 14:44:41393

基于扇出型封裝結構的芯片失效位置定位方法

本文主要設計了用于封裝可靠性測試的菊花鏈結構,研究了基于扇出型封裝結構的芯片失效位置定位方法,針對芯片偏移、RDL 分層兩個主要失效問題進行了相應的工藝改善。經過可靠性試驗對封裝的工藝進行了驗證,通過菊花鏈的通斷測試和阻值變化,對失效位置定位進行了相應的失效分析
2023-10-07 11:29:02410

CD-SEM是怎樣測線寬呢?CD-SEM與普通SEM有哪些區別?

CD-SEM,全名Critical Dimension Scanning Electron Microscopy,中文翻譯過來是:特征尺寸掃描電子顯微鏡。
2023-10-07 10:34:231434

LGA封裝芯片焊接失效

NO.1 案例背景 某攝像頭模組,在生產測試過程中發生功能不良失效,經過初步的分析,判斷可能是LGA封裝主芯片異常。 NO.2 分析過程 #1 X-ray分析 樣品#1 樣品#2 測試結果:兩個失效
2023-09-28 11:42:21399

滾動軸承的失效原因及措施

滾動軸承的可靠性與滾動軸承的失效形式有著密切的關系,要提高軸承的可靠性,就必須從軸承的失效形式著手,仔細分析滾動軸承的失效原因,才能找出解決失效的具體措施。今天我們通過PPT來了解一下軸承失效
2023-09-15 11:28:51212

各種材料失效分析檢測方法

失效分析是一門發展中的新興學科,近年開始從軍工向普通企業普及,它一般根據失效模式和現象,通過分析和驗證,模擬重現失效的現象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。在提高產品質量,技術開發、改進,產品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。
2023-09-12 09:51:47291

集成電路為什么要做失效分析失效分析流程?

失效分析(FA)是根據失效模式和現象,通過分析和驗證,模擬重現失效的現象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。
2023-09-06 10:28:051331

聚焦離子束FIBSEM切片測試【博仕檢測】

見的應用。這種刻蝕斷面定位精度極高,在整個制過程中樣品所受應力很小,制作的斷面因此也具有很好的完整性。這種應用在微電子領域具體運用場合主要有:定點觀測芯片的內部結構;失效樣品分析燒毀的具體位置并定位至外延層
2023-09-05 11:58:27

雙束聚焦離子束FIBSEM在微電子技術中的應用

博仕檢測聚焦離子束FIB-SEM測試案例
2023-09-04 18:49:41461

集成電路失效分析

集成電路失效分析 隨著現代社會的快速發展,人們對集成電路(Integrated Circuit,簡稱IC)的需求越來越大,IC在各種電子設備中占據著至關重要的地位,如手機、電腦、汽車等都需要使用到
2023-08-29 16:35:13627

芯片失效分析方法 芯片失效原因分析

芯片失效分析方法 芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術的發展,各種芯片被廣泛應用于各種工業生產和家庭電器中。然而,在使用過程中,芯片的失效是非常常見的問題。芯片失效分析是解決這個問題的關鍵。 芯片
2023-08-29 16:29:112800

半導體失效分析

半導體失效分析? 半導體失效分析——保障電子設備可靠性的重要一環 隨著電子科技的不斷發展,電子設備已成為人們生活和工作不可或缺的一部分,而半導體也是電子設備中最基本的組成部分之一。其作用是將電能轉化
2023-08-29 16:29:08736

平面拋光機的工藝要求

光學加工是一個非常復雜的過程。難以通過單一加工方法加工滿足各種加工質量指標要求的光學元件。平面拋光機的基礎是加工材料的微去除。實現這種微去除的方法包括研磨加工、微粉顆粒拋光和納米材料拋光。根據
2023-08-28 08:08:59355

鉭電容失效分析 鉭電容失效原因分析 鉭電容燒壞的幾種原因 ;我需要詳盡、詳實、細致的最少1500字的文

鉭電容失效分析 鉭電容失效原因分析 鉭電容燒壞的幾種原因 鉭電容是一種電子元器件,通常用于將電場儲存為電荷的裝置。它們具有高電容和低ESR等優點,因此被廣泛應用于數字電路、模擬電路和電源等領域。然而
2023-08-25 14:27:562133

電阻失效發生的機理是什么 引起電阻失效的原因有哪些

電阻膜腐蝕造成電阻失效的發生機理為:外部水汽通過表面樹脂保護層浸入到電阻膜層,在內部電場作用下,發生水解反應。電阻膜表面殘留的K離子、Na離子極易溶于水,加速了電阻膜的水解反應,致使電阻膜腐蝕失效
2023-08-18 11:41:371102

SEM5000交付中國農科院作科所重大平臺中心

場發射掃描電鏡SEM5000正式上線使用左側設備為鎢燈絲掃描電鏡SEM3200右側設備為場發射掃描電鏡SEM5000近日,國儀量子場發射掃描電鏡SEM5000交付中國農科院作科所重大
2023-07-31 23:30:26350

半導體器件鍵合失效模式及機理分析

本文通過對典型案例的介紹,分析了鍵合工藝不當,以及器件封裝因素對器件鍵合失效造成的影響。通過對鍵合工藝參數以及封裝環境因素影響的分析,以及對各種失效模式總結,闡述了鍵合工藝不當及封裝不良,造成鍵合本質失效的機理;并提出了控制有缺陷器件裝機使用的措施。
2023-07-26 11:23:15930

幾種常見的關于SEM IP的沖突

SEM IP是一種比較特殊的IP。它的基本工作就是不停地后臺掃描檢測FPGA配置RAM中的數據
2023-07-10 16:40:23420

SEM掃描電鏡工作原理,SEM掃描電鏡技術應用

這是Amanda王莉第55篇文章,點這里關注我,記得標星在當今世界,SEM掃描電子顯微鏡分析技術,一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段,主要應用在半導體、材料科學、生命科學和納米材料
2023-07-05 10:04:061995

芯片失效分析程序的基本原則

與開封前測試結果加以比較,是否有改變,管殼內是否有水汽的影響。進一步可將表面氧化層、鋁條去掉,用機械探針扎在有關節點上進行靜態(動態)測試、判斷被隔離部分是否性能正常,分析失效原因。
2023-07-05 09:43:04317

集成電路封裝失效的原因、分類和分析方法

與外界的連接。然而,在使用過程中,封裝也會出現失效的情況,給產品的可靠性帶來一定的影響。因此,對于封裝失效分析和解決方法具有很重要的意義。
2023-06-28 17:32:001779

BGA失效分析與改善對策

BGA失效分析與改善對策
2023-06-26 10:47:41438

集成電路封裝失效分析流程

為了防止在失效分析過程中丟失封裝失效證據或因不當順序引人新的人為的失效機理,封裝失效分析應按一定的流程進行。
2023-06-25 09:02:30315

集成電路封裝失效分析方法

集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關的失效現象、形式(失效模式),查找封裝失效原因,確定失效的物理化學過程(失效機理),為集成電路封裝糾正設計、工藝改進等預防類似封裝失效的再發生,提升
2023-06-21 08:53:40572

什么是電拋光smt鋼網工藝?

拋光smt鋼網是什么工藝,它與其他smt鋼網相比有哪些優點呢,今天我們為大家做深入的講解,希望幫助大家在選購適合自己工廠真正需要的smt鋼網。
2023-06-19 10:17:44569

講一下失效分析中最常用的輔助實驗手段:亮點分析(EMMI)

EMMI:Emission microscopy 。與SEM,FIB,EB等一起作為最常用的失效分析手段。
2023-06-12 18:21:182310

一文讀懂CMP拋光

在現代工業中,表面加工是至關重要的一環。為了達到所需的表面粗糙度、光潔度和平整度等要求,往往需要進行拋光處理。
2023-06-08 11:13:552653

碳化硅晶片的超精密拋光工藝

使用化學機械拋光(CMP)方法對碳化硅晶片進行了超精密拋光試驗,探究了滴液速率、拋光頭轉 速、拋光壓力、拋光時長及晶片吸附方式等工藝參數對晶片表面粗糙度的影響,并對工藝參數進行了優化,最終 得到了表面粗糙度低于0.1 nm的原子級光滑碳化硅晶片。
2023-05-31 10:30:062215

怎樣進行芯片失效分析

失效分析為設計工程師不斷改進或者修復芯片的設計,使之與設計規范更加吻合提供必要的反饋信息。
2023-05-13 17:16:251365

TVS二極管失效機理與失效分析

。 通過對TVS篩選和使用短路失效樣品進行解剖觀察獲得其失效部位的微觀形貌特征.結合器件結構、材料、制造工藝、工作原理、篩選或使用時所受的應力等。采用理論分析和試驗證明等方法分析導致7rvS器件短路失效的原因。
2023-05-12 17:25:483678

電阻、電容、電感的常見失效分析

失效模式:各種失效的現象及其表現的形式。
2023-05-11 14:39:113227

在什么情況下信號量斷言會失效呢?

, line); }}看一下打印信息里的參數,提示是下面函數的斷言失效,問題一:在什么情況下,一個信號量的類型不是信號量呢? rt_err_t rt_sem_release(rt_sem_t sem
2023-05-11 14:35:31

進口芯片失效怎么辦?做個失效分析查找源頭

芯片對于電子設備來說非常的重要,進口芯片在設計、制造和使用的過程中難免會出現失效的情況。于是當下,生產對進口芯片的質量和可靠性的要求越來越嚴格。因此進口芯片失效分析的作用也日漸凸顯了出來,那么進口芯片失效分析常用的方法有哪些呢?下面安瑪科技小編為大家介紹。
2023-05-10 17:46:31548

rt_sem_control的使用場景是什么?

在信號量的api中有一個api: rt_sem_control ,目前只支持一個命令RT_IPC_CMD_RESET 即重置信號量值,在官方的demo中經常看到這種用法rt_sem
2023-05-05 17:26:37

如何讓自動拋光設備達到理想的拋光效果

一、自動拋光機的拋光效果因素自動拋光機的拋光效果取決于多個因素,除了自動拋光機本身的質量以外,還包括使用工藝、選用什么樣的拋光輔料,要拋光物件材質,操作者的經驗技術等,在條件都合適的情況下,自動
2023-05-05 09:57:03535

ABAQUS中的損壞與失效模型

ABAQUS為材料失效提供了一個通用建模框架,其中允許同一種材料應用多種失效機制。
2023-05-02 18:12:002842

環旭電子發展先進失效分析技術

為了將制程問題降至最低,環旭電子利用高精度3D X-Ray定位異常元件的位置,利用激光去層和重植球技術提取SiP 模組中的主芯片。同時,利用X射線光電子能譜和傅立葉紅外光譜尋找元件表面有機污染物的源頭,持續強化SiP模組失效分析領域分析能力。
2023-04-24 11:31:411357

壓接型與焊接式IGBT的失效模式與失效機理

失效率是可靠性最重要的評價標準,所以研究IGBT的失效模式和機理對提高IGBT的可靠性有指導作用。
2023-04-20 10:27:041117

半導體集成電路失效分析原理及常見失效分析方法介紹!

失效分析(FA)是一門發展中的新興學科,近年開始從軍工向普通企業普及。它一般根據失效模式和現象,通過分析和驗證,模擬重現失效的現象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。在提高產品質量,技術開發
2023-04-18 09:11:211360

失效分析和可靠性測試:為什么SAM現在是必不可少的設備

對所有制造材料進行100%全面檢查。 制造商測試實驗室、研發中心、材料研究小組和質量控制部門,尋找微小缺陷正在刺激對掃描聲學顯微鏡(SAM)設備的投資。失效分析和可靠性檢測計量技術已變得至關重要,現在SAM與X射線和掃描電子顯微鏡(SEM)等其他實驗室測試和測量儀器并駕齊驅。
2023-04-14 16:21:39925

通過物聯網網關實現拋光設備數據采集遠程監控

拋光工作在電鍍、涂裝、陽極氧化等表面處理過程中發揮重要作用。早期的拋光工作由工人手動操作,通過經驗和觀察進行打磨拋光。此種作業方式既損害環境和身體健康,也具備較大的安全風險和人力成本,逐漸被自動拋光
2023-04-14 10:21:59338

超精密拋光技術,不簡單!

很早以前看過這樣一個報道:德國、日本等國家的科學家耗時5年時間,花了近千萬元打造了一個高純度的硅-28材料制成的圓球,這個1kg純硅球要求超精密加工研磨拋光、精密測量(球面度、粗糙度和質量),可謂
2023-04-13 14:24:341685

BGA失效分析與改善對策

BGA失效分析與改善對策
2023-04-11 10:55:48577

PCB失效分析技術總結

程中出現了大量的失效問題。 對于這種失效問題,我們需要用到一些常用的失效分析技術,來使得PCB在制造的時候質量和可靠性水平得到一定的保證,本文總結了十大失效分析技術,供參考借鑒。
2023-04-10 14:16:22749

已全部加載完成

主站蜘蛛池模板: 天天干天天射天天| 日日射天天射| 国内一级野外a一级毛片| 酒色激情网| 高清国产在线| 国产精品入口免费视频| 97午夜| 天天夜夜久久| 免费无毒片在线观看| 黄a在线| 97se亚洲综合| 亚洲第一黄色网| 在线精品国产三级| 五月天激情综合网| 日本大片成人免费播放| 久久国产视频一区| 又黄又爽的成人免费网站 | 国产精品爱久久久久久久三级| 高清一区二区| 色天使美国| 美女教师一级毛片| 俺去啦在线视频| 色老头成人免费视频天天综合| 国产天天在线| 亚洲成在人天堂一区二区| 亚洲 欧美 动漫| 九九国产精品| 我被黑人巨大开嫩苞在线观看| 午夜国产精品久久久久| 亚洲开心激情网| 高h乱肉辣文辣书阁| 亚洲色吧| 欧美大狠狠大臿蕉香蕉大视频| 色女人在线| 免费抓胸吻胸激烈视频网站| 国产精品17p| 免费国产99久久久香蕉| 91华人在线视频| 在线观看一区二区三区视频| 在线电影亚洲| 嫩草影院入口一二三免费|