電子發(fā)燒友App
金鑒實驗室提供氬離子拋光制備SEM樣品加頁巖石SEM測試服務(wù)，超高分辨率sem。詳細(xì)咨詢金鑒在線客服。
審核編輯：ymf
?
頁巖樣品掃描電鏡觀察失效分析
- 分辨率(41529)
- SEM(14323)
- 電鏡(9309)
相關(guān)推薦
軌道交通電子元器件失效分析
、襯底檢查、掃描電鏡檢查、PN結(jié)染?、DB FIB、熱點檢測、漏電位置檢測、彈坑檢測、粗細(xì)撿漏、ESD 測試（2）常?失效模式分析：靜電損傷、過電損傷、鍵合
2024-03-15 17:34:29
MOSFET,IGBT功率器件失效根因分析功
基本介紹功率器件可靠性是器件廠商和應(yīng)用方除性能參數(shù)外最為關(guān)注的，也是特性參數(shù)測試無法評估的，失效分析則是分析器件封裝缺陷、提升器件封裝水平和應(yīng)用可靠性的基礎(chǔ)。廣電計量擁有業(yè)界領(lǐng)先的專家團(tuán)隊及先進(jìn)
2024-03-13 16:26:07
首樣免費掃描電鏡SEM-EDS測試分析【博仕檢測】
射線，表征材料元素方面的信息，可定性、半定量Be-U的元素 ；
定位測試點，如在失效分析中可以用來定位失效點，在異物分析中可以用來定位異物點。
博****仕檢測測試案例：
1.觀察材料的表面形貌
2024-03-01 18:59:58
掃描電鏡的操作步驟及日常維護(hù)
X射線衍射儀或電子能譜儀相結(jié)合，構(gòu)成電子微探針，用于物質(zhì)成分剖析;發(fā)射式電子顯微鏡用于自發(fā)射電子外表的研討。因電子束穿透樣品后，再用掃描電鏡成像縮小而得名，它的光路與光學(xué)顯微鏡相仿，可以直接取得一個樣本的投影。
2024-02-01 18:22:15
603
603MOSFET,IGBT功率器件失效根因分析
; QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求檢測項目試驗類型試驗項??損分析X 射線透視、聲學(xué)掃描顯微鏡、?相顯微鏡電特性/電性定位分析電參數(shù)測試、IV&a
2024-01-29 22:40:29
差示掃描量熱儀器操作步驟
差示掃描量熱儀器（DSC）是熱分析中常用的儀器之一，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、藥物研究、高分子材料、地質(zhì)學(xué)和石油化工等領(lǐng)域。DSC能夠測量物質(zhì)在加熱或冷卻過程中的熱量變化，從而揭示物質(zhì)的熱性質(zhì)和化學(xué)性質(zhì)
2024-01-18 13:24:10104
104
掃描電鏡為什么分辨率高，景深大，立體感強？
掃描電子顯微鏡是金屬科研工作中應(yīng)用最廣泛的“神器”。可以說，幾乎每一個研究生都把自己最重要的科研經(jīng)歷花在了身上。今天的我們就來介紹一下掃描電鏡的原理和應(yīng)用。 電子顯微鏡利用電子產(chǎn)生圖像，類似于光學(xué)
2024-01-17 09:39:56146
146什么是鋰離子電池失效？鋰離子電池失效如何有效分析檢測？
什么是鋰離子電池失效？鋰離子電池失效如何有效分析檢測？ 鋰離子電池失效是指電池容量的顯著下降或功能完全喪失，導(dǎo)致電池?zé)o法提供持久且穩(wěn)定的電能輸出。鋰離子電池失效是由多種因素引起的，包括電池化學(xué)反應(yīng)
2024-01-10 14:32:18216
216亞納米級高分辨率掃描電子顯微鏡
蔡司代理三本精密儀器小編介紹掃描電鏡的分辨率取得了重大進(jìn)步，已進(jìn)入亞納米級，這在很大程度上歸功于硬件的改進(jìn)，如更亮的場發(fā)射電子源，更好的電子光學(xué)設(shè)計(如單色器、像差矯正和減速技術(shù)等)，更高效的探測器
2024-01-03 16:43:59144
144
半導(dǎo)體芯片結(jié)構(gòu)分析
質(zhì)量控制，失效分析，競爭分析中，常常會要求分析芯片截面結(jié)構(gòu)分析，而且芯片橫截面的樣品制備的質(zhì)量十分重要，常規(guī)的機械研磨切片造成的劃痕損傷，常常會影響分析，下面為大家講解下先進(jìn)的芯片橫截面制樣方式。離子
2024-01-02 17:08:51
差示掃描量熱儀工作原理是什么
差示掃描量熱儀是一款常用的熱分析儀器，主要用于測量物質(zhì)在加熱或冷卻過程中的熱性質(zhì)變化，可測熔點、結(jié)晶、玻璃化、化學(xué)反應(yīng)、吸放熱等過程。被廣泛應(yīng)用在材料科學(xué)、化學(xué)、生物和新材料等領(lǐng)域。差示掃描
2024-01-02 15:45:39252
252
第20講：DIPIPM?市場失效分析（2）
在了解了DIPIPM失效分析的流程后是不是會很容易地找到市場失效的原因了呢？答案是否定的。不管是對收集到的市場失效信息還是對故障解析報告的解讀、分析都需要相應(yīng)的專業(yè)技能作為背景，對整機進(jìn)行的測試也需要相應(yīng)的測試技能。
2023-12-27 15:41:37278
278
差示掃描量熱儀能測什么？
差示掃描量熱儀（DifferentialScanningCalorimetry，DSC）是一種常用的熱分析儀器，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、化學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域。它可以測量材料在升溫或降溫過程中吸熱或放熱
2023-12-25 14:25:32177
177
如何使用差示掃描量熱儀進(jìn)行材料研究？
差示掃描量熱儀是一種熱分析技術(shù)，可以用來研究材料的熱力學(xué)性質(zhì)和化學(xué)反應(yīng)過程。在材料研究中，儀器可以用來研究材料的熱穩(wěn)定性、玻璃化轉(zhuǎn)變溫度、結(jié)晶度、分子間相互作用等性質(zhì)。下面我們將詳細(xì)介紹
2023-12-25 14:17:0092
92
DIPIPM?市場失效分析（1）
DIPIPM是雙列直插型智能功率模塊的簡稱，由三菱電機于1997年正式推向市場，迄今已在家電、工業(yè)和汽車空調(diào)等領(lǐng)域獲得廣泛應(yīng)用。本講座主要介紹DIPIPM的基礎(chǔ)、功能、應(yīng)用和失效分析技巧，旨在幫助讀者全面了解并正確使用該產(chǎn)品。
2023-12-22 15:15:27241
241
如何使用頻譜分析儀來觀察和分析雜散信號？
如何使用頻譜分析儀來觀察和分析雜散信號？ 頻譜分析儀是一種廣泛應(yīng)用于電子領(lǐng)域的儀器，用于觀察和分析信號的頻譜特性。它可以幫助工程師們檢測和排除信號中的雜散信號，確保設(shè)備的正常工作和無干擾的信號傳輸
2023-12-21 15:37:16592
592蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 500介紹
蔡司代理三本精密儀器小編獲悉，近期蔡司對中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)龔明教授進(jìn)行了采訪，談了對于蔡司場發(fā)射掃描電鏡在工作研究中的使用感受：中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)工程與材料科學(xué)實驗中心副主任，材料顯微分析實驗室
2023-12-20 15:04:37226
226
淺談失效分析—失效分析流程
▼關(guān)注公眾號：工程師看海▼ 失效分析一直伴隨著整個芯片產(chǎn)業(yè)鏈，復(fù)雜的產(chǎn)業(yè)鏈中任意一環(huán)出現(xiàn)問題都會帶來芯片的失效問題。芯片從工藝到應(yīng)用都會面臨各種失效風(fēng)險，筆者平時也會參與到失效分析中，這一期就對失效
2023-12-20 08:41:04530
530
掃描電鏡的原理、優(yōu)勢、應(yīng)用領(lǐng)域你都知道嗎？
? ? ? ?掃描電子顯微鏡能夠以極高的分辨率觀察樣品表面的形貌和結(jié)構(gòu)，是材料相關(guān)工作者和學(xué)者研究的有力工具之一。其應(yīng)用范圍非常廣泛，甚至可以延伸到生物、醫(yī)療和工業(yè)領(lǐng)域。本文將對掃描電子顯微鏡
2023-12-19 15:31:37507
507
USB脫落失效分析
一、案例背景 PCBA組裝完成后，測試過程中插入USB時脫落。 #1-3為PCBA樣品，#4-5為USB單品。 二、分析過程 #1樣品PCB側(cè)剝離面特征分析 1）外觀分析 ? 測試結(jié)果：焊接面有較大
2023-12-18 09:56:12155
155
蔡司掃描電鏡與X射線顯微鏡檢測介紹
蔡司代理三本精密儀器小編介紹SEM掃描電鏡與X射線顯微鏡是生命科學(xué)研究中的重要儀器，憑借其納米級分辨率，SEM掃描電鏡與X射線顯微鏡極大地提升了我們對生物超微結(jié)構(gòu)的認(rèn)識，-些亞細(xì)胞結(jié)構(gòu)甚至是通過
2023-12-15 14:11:17142
142
差示掃描量熱儀dsc能測什么
差示掃描量熱儀dsc是一款熱分析儀器，在程序的控溫下，測量物質(zhì)與參比物之間單位時間的能力差隨溫度變化的一種技術(shù)。而差示掃描量熱儀分為熱流型、功率補償型、溫度調(diào)制型三種類型。1、熱流型。熱流型差示掃描
2023-12-13 11:48:44323
323
工業(yè)顯微CT機X射線微焦點斷層掃描系統(tǒng)介紹
工業(yè)顯微CT機X射線微焦點斷層掃描系統(tǒng)-XradiaContextmicroCT是一款大觀察視野、無損3DX射線微焦點計算斷層掃描系統(tǒng),現(xiàn)已加入蔡司X射線成像產(chǎn)品組合。蔡司XradiaContext
2023-12-12 15:44:27218
218
阻容感失效分析
有一批現(xiàn)場儀表在某化工廠使用一年后，儀表紛紛出現(xiàn)故障。經(jīng)分析發(fā)現(xiàn)儀表中使用的厚膜貼片電阻阻值變大了，甚至變成開路了。把失效的電阻放到顯微鏡下觀察，可以發(fā)現(xiàn)電阻電極邊緣出現(xiàn)了黑色結(jié)晶物質(zhì)，進(jìn)一步分析
2023-12-12 15:18:171020
1020
LED燈帶失效分析
1、案例背景 LED燈帶在使用一段時間后出現(xiàn)不良失效，初步判斷失效原因為銅腐蝕。據(jù)此情況，對失效樣品進(jìn)行外觀觀察、X-RAY分析、切片分析等一系列檢測手段，明確失效原因。 2、分析過程 2.1 外觀
2023-12-11 10:09:07188
188
掃描電鏡能測出線寬的真實長度嗎？如何才能測準(zhǔn)？
大部分掃描電鏡實驗室對于納米尺寸的準(zhǔn)確測量，要求沒有那么嚴(yán)格，比如線寬或顆粒大小到底是105nm還是95nm，似乎不太重要
2023-12-09 17:36:52428
428
蔡司掃描電子顯微鏡的工作原理及主要特點
蔡司代理三本精密儀器小編介紹掃描電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像。試樣為塊狀或粉末顆粒，成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。其中二次電子是最主要的成像信號。由電子槍發(fā)射的能量
2023-12-07 11:49:36284
284DIPIPM失效解析報告解讀及失效樹分析
DIPIPM是雙列直插型智能功率模塊的簡稱，由三菱電機于1997年正式推向市場，迄今已在家電、工業(yè)和汽車空調(diào)等領(lǐng)域獲得廣泛應(yīng)用。本講座主要介紹DIPIPM的基礎(chǔ)、功能、應(yīng)用和失效分析技巧，旨在幫助讀者全面了解并正確使用該產(chǎn)品。
2023-11-29 15:16:24414
414
助力鋰電池材料的“升華和蛻變”，蔡司掃描電鏡全流程深度研究
模擬技術(shù)被用于分析和預(yù)測與電池性能相關(guān)的各種參數(shù)。 ? ? ?蔡司顯微鏡的多尺度、多維度研究平臺為鋰離子電池正負(fù)極材料、隔膜及關(guān)鍵輔助材料提供從材料樣品制備、理化性能表征到智能數(shù)據(jù)分析的全面解決方案，協(xié)助鋰電池材料
2023-11-29 15:10:27267
267
有效減少掃描電鏡荷電效應(yīng)的幾種方法
掃描電子顯微鏡（SEM簡稱掃描電鏡）是一個集電子光學(xué)技術(shù)、真空技術(shù)、精細(xì)機械結(jié)構(gòu)以及現(xiàn)代計算機控制技術(shù)于一體的復(fù)雜系統(tǒng)
2023-11-24 15:39:53352
352
IGBT的失效模式與失效機理分析探討及功率模塊技術(shù)現(xiàn)狀未來展望
壓接型IGBT器件與焊接式IGBT模塊封裝形式的差異最終導(dǎo)致兩種IGBT器件的失效形式和失效機理的不同，如表1所示。本文針對兩種不同封裝形式IGBT器件的主要失效形式和失效機理進(jìn)行分析。1.焊接式IGBT模塊封裝材料的性能是決定模塊性能的基礎(chǔ)，尤其是封裝
2023-11-23 08:10:07721
721
差示掃描量熱法熱分析方法
的特性進(jìn)行分析，軟件記錄樣品隨溫度變化而發(fā)生的變化曲線，然后進(jìn)行數(shù)據(jù)的分析。差示掃描量熱儀能測什么？1、相變分析。通過測量焓隨溫度的變化來確定熔點、結(jié)晶點和相變。2、
2023-11-21 13:37:56374
374
蔡司掃描電鏡Sigma系列：掃描電子顯微鏡的用途原來這么多
掃描電子顯微鏡是一種全自動的、非破壞性的顯微分析系統(tǒng)，可針對無機材料和部分有機材料，迅速提供在統(tǒng)計學(xué)上可靠且可重復(fù)的礦物學(xué)、巖相學(xué)和冶金學(xué)數(shù)據(jù)，在采礦業(yè)，可用于礦產(chǎn)勘查、礦石表征和選礦工藝優(yōu)化
2023-11-21 13:16:41235
235
FPC焊點剝離失效分析
FPC在后續(xù)組裝過程中，連接器發(fā)生脫落。在對同批次的樣品進(jìn)行推力測試后，發(fā)現(xiàn)連接器推力有偏小的現(xiàn)象。據(jù)此進(jìn)行失效分析，明確FPC連接器脫落原因。
2023-11-20 16:32:22312
312
光耦失效的幾種常見原因及分析
光耦失效的幾種常見原因及分析? 光耦是一種光電耦合器件，由發(fā)光二極管和光探測器組成。它能夠?qū)㈦娏餍盘栟D(zhuǎn)換為光信號，或者將光信號轉(zhuǎn)換為電流信號。但是，由于各種原因，光耦可能會出現(xiàn)失效的情況。本文
2023-11-20 15:13:441445
1445PCB失效分析技術(shù)概述
那么就要用到一些常用的失效分析技術(shù)。介于PCB的結(jié)構(gòu)特點與失效的主要模式，其中金相切片分析是屬于破壞性的分析技術(shù)，一旦使用了這兩種技術(shù)，樣品就破壞了，且無法恢復(fù)；另外由于制樣的要求，可能掃描電鏡分析和X射線能譜分析有時也需要部分破壞樣品。
2023-11-16 17:33:05115
115九項PCB失效分析的技術(shù)總結(jié)
切片分析切片分析就是通過取樣、鑲嵌、切片、拋磨、腐蝕、觀察等一系列手段和步驟獲得 PCB 橫截面結(jié)構(gòu)的過程。
2023-11-16 16:31:56156
156一文帶您了解掃描電子顯微鏡EBSD技術(shù)的原理、采集及分辨率
EBSD技術(shù)是一種常用的材料顯微技術(shù)，全稱電子背散射衍射。它通過測量反射電子的角度和相位差來確定樣品的晶體結(jié)構(gòu)和晶粒取向等特征。與傳統(tǒng)的掃描電鏡技術(shù)相比，EBSD技術(shù)具有更高的空間分辨率，可以獲得亞微米級的晶體學(xué)數(shù)據(jù)。
2023-11-16 13:31:48366
366
SEM掃描電鏡中鎢燈絲與場發(fā)射的區(qū)別
相同點：都是電子槍即發(fā)射電子的裝置，都有陰極和陽極,陰極都是點源發(fā)射，陰極和陽極之間有直流高壓電場存在，高壓一般可調(diào)，用于控制電子的發(fā)射速度（能量），電子槍發(fā)射的電流強度很小，微安級別和納安級別，為防止氣體電離造成的大電流擊穿高壓電源，都需要高真空環(huán)境。電子槍陰極都屬于耗材系列。差異和優(yōu)劣:1、點源直徑不同及優(yōu)劣：鎢燈絲電子槍陰極使用0.1mm直徑的鎢絲制成
2023-11-10 18:43:39353
353差示掃描量熱儀是測什么的？
和晟HS-DSC-101差示掃描量熱儀DSC通過測量樣品和參考物之間的熱流差異來分析材料的熱性質(zhì)。在實驗過程中，樣品和參考物被同時加熱或冷卻，并測量兩者之間熱流的差
2023-11-10 15:05:03307
307
鎢燈絲掃描電鏡使用的一些注意事項
鎢絲掃描電子顯微鏡的總發(fā)射電流和光斑大，抗干擾能力和穩(wěn)定性好。可在低真空下不充電對非導(dǎo)電樣品進(jìn)行成像，并可用于形貌觀察、微觀結(jié)構(gòu)分析，以及斷口形貌分析。分析，在材料、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、機械、化學(xué)
2023-11-06 13:52:52176
176
車門控制板暗電流失效分析
一、案例背景 車門控制板發(fā)生暗電流偏大異常的現(xiàn)象，有持續(xù)發(fā)生的情況，初步判斷發(fā)生原因為C3 MLCC電容開裂。據(jù)此情況，結(jié)合本次失效樣品，對失效件進(jìn)行分析，明確失效原因。 二、分析過程 1、失效復(fù)現(xiàn)
2023-11-03 11:24:22279
279
差示掃描量熱儀熔點檢測：實驗過程與結(jié)果分析
差示掃描量熱儀（DSC）是一種熱分析技術(shù)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、藥品研發(fā)、食品分析等領(lǐng)域。通過DSC可以研究物質(zhì)的熱性質(zhì)，如熔點、玻璃化轉(zhuǎn)變溫度等。本文將介紹DSC熔點檢測的實驗步驟、結(jié)果及分析。上海
2023-11-02 17:00:37348
348
一文帶您了解鎢燈絲掃描電鏡的一些使用注意事項
鎢絲掃描電子顯微鏡的發(fā)射電流和光斑都比較適中，抗干擾能力和穩(wěn)定性比較好。可在低真空下對非導(dǎo)電樣品進(jìn)行成像，并可用于形貌觀察、微觀結(jié)構(gòu)分析，以及斷口形貌分析。分析，在材料、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、機械、化學(xué)
2023-10-31 15:17:52249
249廣東全自動SEM掃描電鏡的原理和構(gòu)造
廣東全自動SEM掃描電鏡是一種高分辨率的顯微鏡，通過掃描樣品表面并利用電子信號生成圖像。它與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡不同，能夠提供更高的放大倍數(shù)和更好的表面細(xì)節(jié)。以下是廣東全自動SEM掃描電鏡的原理和構(gòu)造
2023-10-31 15:12:41770
770差示掃描量熱儀的應(yīng)用領(lǐng)域
差示掃描量熱儀是一種重要的熱分析儀器，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、化學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。它通過測量樣品在加熱過程中吸收或釋放熱量的方式，提供有關(guān)材料熱性質(zhì)的信息。本文將介紹差示掃描量熱儀的應(yīng)用領(lǐng)域、實驗過程
2023-10-30 11:51:35388
388高端新品發(fā)布！國產(chǎn)雙束電鏡+超高分辨電鏡閃耀2023全國電鏡年會
10月26日，2023年全國電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會在東莞市召開。國儀量子在會議期間重磅發(fā)布自主研制的聚焦離子束電子束雙束顯微鏡DB500、超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡SEM5000X，開啟了國產(chǎn)高端電鏡
2023-10-29 08:25:471158
1158
一文帶您了解場發(fā)射掃描電鏡
1. 工作原理 掃描電子顯微鏡以電子束為光源，以光柵式掃描方式將精細(xì)聚焦的電子束照射到樣品上。二次電子、背散射電子等。電子與樣品之間相互作用所產(chǎn)生的電子然后被收集和處理，以獲得顯微形貌的放大圖像
2023-10-23 14:56:393838
3838
電子背散射衍射(EBSD)裝置的基本布局
EBSD 分析系統(tǒng)的基本布局如圖所示。放入掃描電鏡樣品室內(nèi)的樣品經(jīng)大角度傾轉(zhuǎn)后(一般傾轉(zhuǎn) 65°-70°，通過減小背散射電子射出表面的路徑以獲取足夠強的背散射衍射信號，減小吸收信號），入射
2023-10-21 16:51:22384
384
你了解掃描電鏡的特點和結(jié)構(gòu)嗎
。 特點 制樣簡單、放大倍率可調(diào)范圍寬、圖像分辨率高、景深大、高保真度、真實的三維效果等特點。對于導(dǎo)電材料，它們可以直接放入樣品室進(jìn)行分析。對于導(dǎo)電性差或絕緣性差的樣品，需噴涂導(dǎo)電層。 基本結(jié)構(gòu) 從結(jié)構(gòu)上看，掃描電鏡主
2023-10-19 15:38:30357
357
HIP失效分析、HIP解決對策及實戰(zhàn)案例
本文涵蓋HIP失效分析、HIP解決對策及實戰(zhàn)案例。希望您在閱讀本文后有所收獲，歡迎在評論區(qū)發(fā)表您的想法。
2023-10-16 15:06:08299
299
電鏡常用元素分析方法：EDS、EELS、HAADF-STEM
不同的波長λ對應(yīng)于不同的原子序數(shù)Z。根據(jù)這個特征能量， 即可知所分析的區(qū)域存在什么元素及各元素的含量。根據(jù)掃描的方式， EDS 可分為點分析、線掃描及面掃描三種：EDS 點分析是將電子束固定于樣品中某一點上，進(jìn)行定性或者定量的分析。
2023-09-28 15:54:341719
1719
LGA封裝芯片焊接失效
NO.1 案例背景 某攝像頭模組，在生產(chǎn)測試過程中發(fā)生功能不良失效，經(jīng)過初步的分析，判斷可能是LGA封裝主芯片異常。 NO.2 分析過程 #1 X-ray分析 樣品#1 樣品#2 測試結(jié)果：兩個失效
2023-09-28 11:42:21399
399
季豐電子新熱場電子顯微鏡可幫助客戶快速獲取清晰的圖像
? 季豐電子目前擁有蔡司GeminiSEM500掃描電鏡SEM熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡，可為客戶呈現(xiàn)任意樣品表面更強的信號和更豐富的細(xì)節(jié)信息；尤其在低的加速電壓下，可在避免樣品損傷的同時，快速獲取更高
2023-09-23 09:50:44375
375
2023國產(chǎn)掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用研討會順利召開
（合肥）技術(shù)有限公司承辦的“2023國產(chǎn)掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用研討會”在合肥召開。來自中國科學(xué)院、北京大學(xué)、中南大學(xué)、中國農(nóng)科院、中國醫(yī)學(xué)科學(xué)院、浙江中醫(yī)藥大學(xué)等高校科研
2023-09-13 08:30:05502
502各種材料失效分析檢測方法
失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開始從軍工向普通企業(yè)普及，它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機理的活動。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開發(fā)、改進(jìn)，產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。
2023-09-12 09:51:47291
291
功率放大器在掃描顯微鏡中的應(yīng)用有什么
功率放大器在掃描顯微鏡中起到了至關(guān)重要的作用。掃描顯微鏡是一種高分辨率的顯微鏡技術(shù)，它能夠以極高的精度觀察和研究樣品的表面形貌和結(jié)構(gòu)特征。而功率放大器則能夠提供所需的信號增益，使得掃描顯微鏡能夠獲得
2023-09-07 18:28:23209
209
集成電路為什么要做失效分析？失效分析流程？
失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機理的活動。
2023-09-06 10:28:051331
1331
聚焦離子束FIBSEM切片測試【博仕檢測】
聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng) FIB-SEM應(yīng)用
聚焦離子束-掃描電鏡雙束系統(tǒng)主要用于表面二次電子形貌觀察、能譜面掃描、樣品截面觀察、微小樣品標(biāo)記以及TEM超薄片樣品的制備。
1.FIB切片
2023-09-05 11:58:27
蔡司掃描電鏡在第三代半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用成果
掃描電子顯微鏡-電子通道對比成像（SEM-ECCI）是在掃描電子顯微鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展已經(jīng)取代了透射電子顯微鏡（TEM）在缺陷表征領(lǐng)域的部分功能。與TEM
2023-09-04 14:56:47356
356
集成電路失效分析
集成電路失效分析 隨著現(xiàn)代社會的快速發(fā)展，人們對集成電路（Integrated Circuit，簡稱IC）的需求越來越大，IC在各種電子設(shè)備中占據(jù)著至關(guān)重要的地位，如手機、電腦、汽車等都需要使用到
2023-08-29 16:35:13627
627芯片失效分析方法 芯片失效原因分析
芯片失效分析方法 芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術(shù)的發(fā)展，各種芯片被廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)生產(chǎn)和家庭電器中。然而，在使用過程中，芯片的失效是非常常見的問題。芯片失效分析是解決這個問題的關(guān)鍵。 芯片
2023-08-29 16:29:112800
2800半導(dǎo)體失效分析
半導(dǎo)體失效分析? 半導(dǎo)體失效分析——保障電子設(shè)備可靠性的重要一環(huán) 隨著電子科技的不斷發(fā)展，電子設(shè)備已成為人們生活和工作不可或缺的一部分，而半導(dǎo)體也是電子設(shè)備中最基本的組成部分之一。其作用是將電能轉(zhuǎn)化
2023-08-29 16:29:08736
736透射電鏡TEM測試原理及過程
散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏，膠片以及感光耦合組件）上顯示出來的顯微鏡。 透射電鏡TEM原理 博仕檢測工程師對客戶指定樣品區(qū)域內(nèi)定點制備高質(zhì)量的透射電子顯微鏡(TEM) 樣品 聚焦離子束FI
2023-08-29 14:54:151371
1371
EDS面掃、線掃、點掃的應(yīng)用
能譜儀（EDS）是一種快速分析樣品微區(qū)內(nèi)元素種類及含量的重要工具，通常與掃描電鏡（SEM）、透射電鏡（TEM）組合使用，實現(xiàn)形貌與成分的對照。它的工作原理是：當(dāng)電子束掃描樣品時，不同元素被激發(fā)出來的x射線能量不同，通過探測這些特征X射線的能量與強度，可以確定樣品中的元素組成和含量。
2023-08-29 09:43:241953
1953
鉭電容失效分析 鉭電容失效原因分析 鉭電容燒壞的幾種原因 ;我需要詳盡、詳實、細(xì)致的最少1500字的文
鉭電容失效分析 鉭電容失效原因分析 鉭電容燒壞的幾種原因 鉭電容是一種電子元器件，通常用于將電場儲存為電荷的裝置。它們具有高電容和低ESR等優(yōu)點，因此被廣泛應(yīng)用于數(shù)字電路、模擬電路和電源等領(lǐng)域。然而
2023-08-25 14:27:562133
2133國儀量子高速掃描電子顯微鏡HEM6000
“在大規(guī)模成像場景中，常規(guī)掃描電鏡成像速度和自動化程度都無法滿足應(yīng)用需求。例如，在芯片結(jié)構(gòu)成像應(yīng)用中，需要在幾周內(nèi)完成數(shù)百平方毫米區(qū)域的連續(xù)拍攝；在人類腦圖譜研究中，需要對百億級神經(jīng)元進(jìn)行高分辨成像
2023-08-09 08:29:23453
453蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)
蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對于材料科學(xué)、電子、地質(zhì)、物理、化工、農(nóng)醫(yī)、公安、食品和輕工等領(lǐng)域的科學(xué)研究，人們總是關(guān)心微觀形態(tài)、晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)組成與宏觀物理或化學(xué)性質(zhì)之間的關(guān)系。光學(xué)顯微系統(tǒng)
2023-08-08 15:50:351419
1419蔡司掃描電鏡下金剛石形貌
金剛石礦物的晶體結(jié)構(gòu)屬于等軸晶系同極鍵四面體結(jié)構(gòu)。碳原子位于四面體的角部和中心，具有高度的對稱性。晶胞中的碳原子以同極鍵連接，距離為154pm。。常見的晶形有八面體、菱形十二面體、立方體、四面體和六面體等。鉆石的應(yīng)用范圍非常廣泛，例如:工藝品和工業(yè)中的切割工具。石墨在高溫高壓下能形成人造金剛石，也是一種珍貴的寶石。中國也有制造鉆石的技術(shù)。需要注意的是，石墨和金剛石的物理性質(zhì)是完全不同的。鉆石有各種顏色，從無
2023-08-04 11:50:01458
458
SEM5000交付中國農(nóng)科院作科所重大平臺中心
場發(fā)射掃描電鏡SEM5000正式上線使用左側(cè)設(shè)備為鎢燈絲掃描電鏡SEM3200右側(cè)設(shè)備為場發(fā)射掃描電鏡SEM5000近日，國儀量子場發(fā)射掃描電鏡SEM5000交付中國農(nóng)科院作科所重大
2023-07-31 23:30:26350
350蔡司掃描電鏡在半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用成果
掃描電鏡-電子通道襯度成像技術(shù)（SEM-ECCI）是一種在掃描電鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展在缺陷表征領(lǐng)域替代了一部分透射電鏡（TEM）的功能，相對透射電鏡分析而言
2023-07-31 15:59:56330
330
半導(dǎo)體器件鍵合失效模式及機理分析
本文通過對典型案例的介紹，分析了鍵合工藝不當(dāng)，以及器件封裝因素對器件鍵合失效造成的影響。通過對鍵合工藝參數(shù)以及封裝環(huán)境因素影響的分析，以及對各種失效模式總結(jié)，闡述了鍵合工藝不當(dāng)及封裝不良，造成鍵合本質(zhì)失效的機理；并提出了控制有缺陷器件裝機使用的措施。
2023-07-26 11:23:15930
930蔡司熱場掃描電鏡Sigma 300電子顯微鏡
蔡司熱場掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠?qū)Ω鞣N材質(zhì)的導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附件可以實現(xiàn)樣品表面微觀區(qū)域內(nèi)的成分和織構(gòu)分析
2023-07-26 10:48:06650
650蔡司場發(fā)射掃描電鏡SIGMA 500
蔡司場發(fā)射掃描電鏡SIGMA500采用了GEMINI電子束無交叉光路設(shè)計，打破了傳統(tǒng)設(shè)計中電子束交叉三次發(fā)生能量擴(kuò)散的局限性，束流大小適中，極大地降低色差對圖像質(zhì)量的影響;鏡筒內(nèi)置電子束加速器，無需
2023-07-14 16:26:59916
916
EM科特 CUBE-Ⅱ臺式桌面掃描電鏡與傳統(tǒng)掃描電鏡的區(qū)別
EM科特（EmCrafts）Cube系列桌面式掃描電鏡，是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。區(qū)別與傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機身，Cube系列占地面積小，便攜性能好，可遵照客戶服務(wù)指南任意移動SEM設(shè)備。 EM
2023-07-05 15:24:02433
433
關(guān)于EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列的特點分析
的高性能高效率，大樣品倉內(nèi)含5軸共心電動樣品臺，可更輕松地測量大尺寸樣品。 EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列 產(chǎn)品優(yōu)勢 l大尺寸樣品分析? Veritas系列可以分析常規(guī)SEM無法分析的大尺寸樣品。例如：晶圓，磁盤 l無損樣品分析?? 無需切割即可分析樣品。例如PCB，半導(dǎo)體圖案分析 l較重
2023-07-05 15:13:38270
270
SEM掃描電鏡工作原理，SEM掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用
等領(lǐng)域。SEM掃描電鏡分析實驗室圖源：優(yōu)爾鴻信華南檢測中心SEM掃描電鏡工作原理SEM電鏡工作原理，主要基于聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品，通過光束與物質(zhì)間的相
2023-07-05 10:04:061995
1995
AMEYA360談蔡司場發(fā)射掃描電鏡Sigma系列
近日，蔡司中國新一代場發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma系列新品線上發(fā)布會成功舉行。為了滿足新能源、新材料、電子半導(dǎo)體和集成電路、深海、航天、生命科學(xué)和考古學(xué)等熱門領(lǐng)域高分辨率成像和綜合分析的需要，蔡司
2023-07-04 15:39:24249
249
集成電路封裝失效分析流程
為了防止在失效分析過程中丟失封裝失效證據(jù)或因不當(dāng)順序引人新的人為的失效機理，封裝失效分析應(yīng)按一定的流程進(jìn)行。
2023-06-25 09:02:30315
315
集成電路封裝失效分析方法
Analysis, DPA)是為防止有明顯缺陷或潛在缺陷的集成電路等被使用，而在指定時機、指定機構(gòu)隨機抽取適 當(dāng)樣品，進(jìn)行一系列破壞性和非破壞性的物理試驗和失效分析，是破壞性分析的一類。
2023-06-21 08:53:40572
572場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 500規(guī)格參數(shù)
今天三本精密儀器小編給您介紹場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM500規(guī)格參數(shù)及樣品制備要求：一、樣品要求（1）本儀器不接收磁性、易潮、液體、有機、生物、不耐熱、熔融蒸發(fā)、松動粉末或碎屑等有揮發(fā)物樣品
2023-06-19 11:15:40813
813喜提儀器行業(yè)大獎！國儀量子場發(fā)射掃描電鏡SEM5000獲“3i獎”
5月18日，2023第十六屆中國科學(xué)儀器發(fā)展年會(ACCSI2023)在北京雁棲湖國際會展中心盛大開幕，并頒發(fā)“儀器及檢測3i獎”。國儀量子自主研發(fā)的場發(fā)射掃描電鏡SEM5000榮獲“3i
2023-05-30 17:19:16366
366芯明天壓電鏡架選型
芯明天壓電鏡架是一種利用壓電效應(yīng)來控制鏡片位置的光學(xué)機械。壓電效應(yīng)是指在某些晶體中，如壓電陶瓷，當(dāng)施加電場時，壓電陶瓷會發(fā)生形變，通過機械結(jié)構(gòu)將這種形變轉(zhuǎn)換為直線毫米級行程，該運動對鏡架進(jìn)行角度偏轉(zhuǎn)
2023-05-25 10:27:45350
350
怎樣進(jìn)行芯片失效分析？
失效分析為設(shè)計工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計，使之與設(shè)計規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。
2023-05-13 17:16:251365
1365TVS二極管失效機理與失效分析
。
通過對TVS篩選和使用短路失效樣品進(jìn)行解剖觀察獲得其失效部位的微觀形貌特征．結(jié)合器件結(jié)構(gòu)、材料、制造工藝、工作原理、篩選或使用時所受的應(yīng)力等。采用理論分析和試驗證明等方法分析導(dǎo)致7rvS器件短路失效的原因。
2023-05-12 17:25:483678
3678
進(jìn)口芯片失效怎么辦？做個失效分析查找源頭
芯片對于電子設(shè)備來說非常的重要，進(jìn)口芯片在設(shè)計、制造和使用的過程中難免會出現(xiàn)失效的情況。于是當(dāng)下，生產(chǎn)對進(jìn)口芯片的質(zhì)量和可靠性的要求越來越嚴(yán)格。因此進(jìn)口芯片失效分析的作用也日漸凸顯了出來，那么進(jìn)口芯片失效分析常用的方法有哪些呢？下面安瑪科技小編為大家介紹。
2023-05-10 17:46:31548
548Multisim軟件之交流掃描分析
交流掃描分析
交流掃描分析是在正弦小信號工作條件下的一種頻域分析。它可以計算電路的幅頻特性和相頻特性，是一種線性分析方法。
Multisim 軟件在進(jìn)行交流頻率分析時，首先分析電路的直流
2023-04-27 16:15:27
Multisim直流掃描分析
直流掃描分析是計算電路中某一節(jié)點直流工作點隨著電路中一個或兩個直流電源數(shù)值變化情況。在分析前，可以選擇直流電源的變化范圍和增量。在直流掃描分析時，電路中的所有電容視為開路，所有電感視為短路
2023-04-27 14:48:48
半導(dǎo)體集成電路失效分析原理及常見失效分析方法介紹！
失效分析（FA）是一門發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機理的活動。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開發(fā)
2023-04-18 09:11:211360
1360
喜報！國儀量子電子顯微鏡單年交付超100臺
磁性樣品可適用。光學(xué)導(dǎo)航、完善的自動功能、精心設(shè)計的人機交互，優(yōu)化的操作和使用流程，無論經(jīng)驗是否豐富，都可以快速上手，完成高分辨率拍攝任務(wù)。場發(fā)射掃描電鏡SEM4
2023-04-12 11:38:30572
572PCB失效分析技術(shù)總結(jié)
程中出現(xiàn)了大量的失效問題。 對于這種失效問題，我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù)，來使得PCB在制造的時候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證，本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù)，供參考借鑒。
2023-04-10 14:16:22749
749北京大學(xué)先進(jìn)光子集成公共平臺正式開放運行
該平臺擁有超凈間面積約300平方米，其中百級潔凈區(qū)50平米，配備了可完整涵蓋微加工需求的大、中、小型設(shè)備，包括電子束曝光機、掃描電鏡、磁控濺射儀、等離子刻蝕機、快速退火爐、精密貼片機、勻膠機、離子濺射儀、膜厚計、原子力顯微鏡、任意波形發(fā)生器、高速采樣示波器、信號分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀等。
2023-04-10 11:24:06712
712
工商網(wǎng)監(jiān)
評論