Ω）、避雷針（10Ω）多用機(jī)型，采用了新型變頻交流電源，并采用了微機(jī)處理控制和信號(hào)處理等措施，很好的解決了測(cè)試過(guò)程中的抗干擾問(wèn)題，簡(jiǎn)化了試驗(yàn)操作過(guò)程，提高了測(cè)試結(jié)果的精度和
2024-03-21 08:08:10
，以保證電力系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行和供電。 ??? 微機(jī)消諧裝置的運(yùn)行過(guò)程如下： 1.采樣：裝置通過(guò)內(nèi)置的采樣裝置，對(duì)電網(wǎng)中的電壓和電流進(jìn)行采樣，并將采樣信號(hào)送入數(shù)字信號(hào)處理器中。 2.數(shù)字信號(hào)處理：裝置采用數(shù)字信號(hào)處理器進(jìn)
2024-03-18 14:47:18
70 在電源模塊測(cè)試過(guò)程中不僅要了解測(cè)試過(guò)程和步驟，對(duì)于一些測(cè)試項(xiàng)目而言還需要了解其正確的計(jì)算測(cè)試方法，得到準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果。
2024-03-13 14:32:2787 在電網(wǎng)系統(tǒng)中，微機(jī)消諧裝置扮演著至關(guān)重要的角色。這一裝置通過(guò)其獨(dú)特的技術(shù)原理，能夠有效地消除電網(wǎng)中產(chǎn)生的諧波，保證電網(wǎng)的穩(wěn)定運(yùn)行。然而，為了確保微機(jī)消諧裝置在實(shí) 出廠測(cè)試是對(duì)微機(jī)消諧裝置性能的一次
2024-03-07 14:27:4470 武漢凱迪正大繼電保護(hù)測(cè)試儀主要特點(diǎn) 1．滿足現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)要求。本儀器具有標(biāo)準(zhǔn)的四相電壓，三相電流輸出，既可對(duì)傳統(tǒng)的各種繼電器及保護(hù)裝置進(jìn)行試驗(yàn)，也可對(duì)現(xiàn)代各種微機(jī)保護(hù)進(jìn)行各種試驗(yàn)，特別是對(duì)變壓器差功保護(hù)
2024-03-01 16:30:02151 
WK-94S1微機(jī)綜合保護(hù)裝置包含線路、變壓器、電動(dòng)機(jī)、電容器、母聯(lián)保護(hù)功能適用于10kV及以下電壓等級(jí)的電網(wǎng)用電系統(tǒng)。
2024-02-28 14:23:4581 
WK-94S1微機(jī)綜合保護(hù)裝置包含線路、變壓器、電動(dòng)機(jī)、電容器、母聯(lián)保護(hù)功能適用于10kV及以下電壓等級(jí)的電網(wǎng)用電系統(tǒng)。
2024-02-28 14:21:32107 
電源。其邏輯中考慮的是備用電源一直帶電，但備用電源也存在失電的情況。在對(duì)進(jìn)線備自投測(cè)試過(guò)程中發(fā)現(xiàn)，當(dāng)供電系統(tǒng)的電源不需要自復(fù)且主供電源和備用電源均失電時(shí)，主供電源恢復(fù)來(lái)電后，備自投會(huì)直接切換為主供電源供電
2024-02-20 11:01:34
探針測(cè)試臺(tái)是一種用于測(cè)試集成電路（IC）的設(shè)備，工作原理是將待測(cè)試的IC芯片安裝在測(cè)試座上，然后通過(guò)探針接觸到芯片的引腳，以測(cè)試芯片的功能和性能。在測(cè)試過(guò)程中，探針測(cè)試臺(tái)會(huì)生成一系列的測(cè)試信號(hào)，通過(guò)
2024-02-04 15:14:19234 在電源適配器測(cè)試過(guò)程中，安規(guī)測(cè)試是非常重要的環(huán)節(jié)，以確保符合安全標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)計(jì)要求，降低使用安全風(fēng)險(xiǎn)，提供可靠的產(chǎn)品質(zhì)量保證。
2024-01-18 16:29:44182 為啥nulink 會(huì)在調(diào)試過(guò)程中時(shí)不時(shí)的中斷？是不是要設(shè)置什么？
2024-01-17 06:52:23
1.測(cè)試過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)ADUC7020P.6口配置為PLA輸出時(shí)，輸出電壓較低，外面接個(gè)LED燈都無(wú)法正常點(diǎn)亮，串接510歐姆電阻，（很暗），但是配置為普通IO卻是好的，不知有沒(méi)有人也遇到過(guò)
2024-01-12 06:22:42
一款完整的用于管理和記錄測(cè)試過(guò)程的數(shù)據(jù)庫(kù)軟件IZYTRONIQ
2024-01-11 11:11:49148 
電路如上圖，調(diào)試過(guò)程中按照上圖正負(fù)15V均無(wú)輸出，將SDM100K3L反向以后得到+15V輸出，但是-15V僅有0.6V。
（反向二極管這個(gè)操作是詢問(wèn)過(guò)其他使用過(guò)ADP5070的人的調(diào)試經(jīng)驗(yàn)
2024-01-08 06:25:08
納米軟件ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備包含軟件ATE測(cè)試系統(tǒng)以及測(cè)試中需要的硬件設(shè)備，軟硬件會(huì)集成在一個(gè)機(jī)柜中，方便測(cè)試。ATE測(cè)試系統(tǒng)采取B/S架構(gòu)，無(wú)代碼開(kāi)發(fā)，對(duì)操作人員沒(méi)有高技術(shù)要求，可快速上手測(cè)試。自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)在測(cè)試過(guò)程中實(shí)時(shí)自動(dòng)采集記錄數(shù)據(jù)，并對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行多維度分析，快速定位問(wèn)題。
2023-12-28 15:55:30190 今年暑假，我中心訂購(gòu)了一套AD7760EDZ核心板。
在調(diào)試過(guò)程中發(fā)現(xiàn)AVDD1、VDRIVE、DVDD三個(gè)2.5V供電腳與GND腳用萬(wàn)用表測(cè)試時(shí)有短路現(xiàn)象，測(cè)量電阻為10歐姆
另外用萬(wàn)用表測(cè)量/DRDY腳和GND也有短路現(xiàn)象，上電后不加任何其它器件，RD/WR腳始終為低
請(qǐng)問(wèn)是什么原因？
2023-12-22 08:28:25
在調(diào)試過(guò)程中不明原因，芯片發(fā)燙，損壞
2023-12-21 06:29:29
以上就是峰值負(fù)載功率的測(cè)試方法，可以看到該方法在測(cè)試過(guò)程中需要不斷的記錄數(shù)據(jù)，手動(dòng)記錄數(shù)據(jù)比較浪費(fèi)時(shí)間，而且容易出錯(cuò)，需要的測(cè)試時(shí)間也長(zhǎng)。因此，為了提高測(cè)試速度和數(shù)據(jù)記錄速度，可以使用開(kāi)關(guān)電源ate測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試。
2023-12-19 15:55:48236 微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀單相、三相、六相我們?cè)撊绾芜x擇？ 微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀是用來(lái)測(cè)試電力系統(tǒng)中各種保護(hù)裝置的性能以及保護(hù)系統(tǒng)的功能的一種專用儀器。根據(jù)不同的電力系統(tǒng)需求，微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀可以分為單相
2023-12-19 15:04:38139 繼電保護(hù)測(cè)試儀可廣泛用于發(fā)電機(jī)、變壓器、輸配電線路和各種電壓等級(jí)的主要電氣設(shè)備；電力系統(tǒng)綜合自動(dòng)化是電力消費(fèi)的發(fā)展趨勢(shì)。因此，微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀是現(xiàn)代繼電維護(hù)工作者不可缺少的實(shí)驗(yàn)工具。根據(jù)不同用
2023-12-18 15:01:54
微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀在電力系統(tǒng)中扮演著至關(guān)重要的角色，然而，其正常運(yùn)行常常受到多種干擾因素的影響。本文將詳細(xì)探討微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀所面臨的四種主要干擾因素，包括靜電放電干擾、輻射干擾、雷擊和高頻干擾。
2023-12-05 10:56:52276 問(wèn)一下，搖表分500V1000V2500V,都在什么情況下使用啊？
2023-11-24 08:04:50
如何解決車載部品測(cè)試過(guò)程中峰值電流不足的問(wèn)題？ 隨著汽車電子系統(tǒng)的不斷發(fā)展和普及，車載部品的測(cè)試過(guò)程變得更加復(fù)雜和嚴(yán)峻。其中一個(gè)常見(jiàn)的問(wèn)題是峰值電流不足。峰值電流不足可能導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確、設(shè)備損壞
2023-11-23 10:33:05205 作者|Poplar小編|吃不飽概述在模型開(kāi)發(fā)過(guò)程中，測(cè)試是一個(gè)不可或缺的環(huán)節(jié)。在測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試用例的編寫是所有測(cè)試工程師關(guān)注的重點(diǎn)和難點(diǎn)。在編寫的過(guò)程中，可能會(huì)遇到各種各樣的問(wèn)題，比如歷史測(cè)試
2023-11-23 08:24:53239 
本篇將深入討論單元測(cè)試過(guò)程中，如何在保質(zhì)保量完成測(cè)試任務(wù)的同時(shí)，縮減時(shí)間成本、提高測(cè)試效率，并分享目前行業(yè)內(nèi)的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)以及相關(guān)自動(dòng)化測(cè)試工具。
2023-11-17 15:18:34270 
在調(diào)試過(guò)程中，我們可通過(guò)Trace監(jiān)視電流值來(lái)看下電機(jī)選型是否為最優(yōu)，那么如何來(lái)正確判斷呢？電機(jī)工作在-重載高速時(shí)的值應(yīng)為額定值之上多少一般認(rèn)為是最優(yōu)的呢？特此請(qǐng)教
2023-11-16 07:43:03
380V 三相4線，穿管，現(xiàn)場(chǎng)搖表測(cè)試
兩相的阻值不到2兆歐姆，3*180+1 YJV電纜
3*95+1現(xiàn)場(chǎng)搖表測(cè)試，兩相的阻值超過(guò)200兆歐姆。
2兆歐姆的是不是有點(diǎn)低，有沒(méi)有相關(guān)標(biāo)準(zhǔn).
現(xiàn)場(chǎng)有點(diǎn)潮濕，電纜在水里浸泡，新買的電纜。
2023-11-09 06:14:39
本文主要探討了千兆光模塊和萬(wàn)兆光模塊的測(cè)試技術(shù)及測(cè)試設(shè)備，讓讀者了解光模塊測(cè)試的具體方法。同時(shí)，文章還對(duì)測(cè)試過(guò)程中需要注意的細(xì)節(jié)進(jìn)行了提醒和分析，讓讀者能夠在測(cè)試過(guò)程中注意到問(wèn)題，并及時(shí)解決。通過(guò)閱讀本文，讀者可以更加深入的了解千兆光模塊和萬(wàn)兆光模塊的測(cè)試方法。
2023-11-06 15:00:54320 按鍵消抖都有哪些處理方式除了硬件消抖電路用軟件怎么實(shí)現(xiàn)
2023-11-01 07:06:20
基于以上的信號(hào)分類，印制電路板的測(cè)試過(guò)程可簡(jiǎn)單歸納為激勵(lì)和響應(yīng)的過(guò)程，即在印制電路板的測(cè)試過(guò)程中，在適當(dāng)?shù)臅r(shí)刻在適當(dāng)?shù)墓?jié)點(diǎn)施加適當(dāng)?shù)募?lì)，然后在適當(dāng)?shù)臅r(shí)刻在適當(dāng)?shù)墓?jié)點(diǎn)抄板檢測(cè)響應(yīng)并作出判斷， 判斷此響應(yīng)是否與預(yù)期的響應(yīng)一致
2023-10-31 15:16:18160 測(cè)試過(guò)程是否有誤？制造過(guò)程是否存在缺陷？設(shè)計(jì)是否存在偏差？用戶提出的設(shè)計(jì)需求是否存在矛盾？
隨著芯片設(shè)計(jì)的發(fā)展，芯片內(nèi)部的集成度越來(lái)越高，芯片測(cè)試也面臨著挑戰(zhàn)：如何加大測(cè)試覆蓋率？如何在有效時(shí)間內(nèi)進(jìn)行測(cè)試并控制測(cè)試成本？
2023-10-27 12:43:052804 
AT32 Printf Debug Demo介紹了在AT32微控制器上的各種調(diào)試過(guò)程信息輸出方法，可滿足不具備串口助手條件下的調(diào)試過(guò)程信息輸出。
2023-10-23 06:19:14
短路保護(hù)測(cè)試是為了測(cè)試S.M.P.S.輸出端在開(kāi)機(jī)前或在工作中短路時(shí)，產(chǎn)品是否有保護(hù)功能。測(cè)試過(guò)程中需要用到的測(cè)試設(shè)備有交流電源、電子負(fù)載、示波器和低阻抗短路夾。依SPEC.規(guī)定，輸入電壓AC LINE和負(fù)載LOAD值以及低阻抗短路夾。
2023-10-18 17:16:46457 
。測(cè)試儀的結(jié)構(gòu)：魯爾圓錐接頭多功能測(cè)試儀由主機(jī)、探頭、支架和壓力表組成。主機(jī)用于控制測(cè)試過(guò)程，探頭用于產(chǎn)生和接收超聲波脈沖，支架用于支撐探頭與管道的接觸面，壓力表用于
2023-10-11 17:12:03
/輸出接口、接口、電源五個(gè)部分。 1、數(shù)據(jù)采集單元 繼電保護(hù)裝置從電流、電壓互感器二次獲得的電流、電壓是模擬信號(hào)，微機(jī)保護(hù)能夠處理的信號(hào)是離散化的數(shù)字信號(hào)，將模擬量轉(zhuǎn)換成為數(shù)字量的過(guò)程就是通常所說(shuō)的數(shù)據(jù)采集，也稱
2023-10-11 11:08:51707 
矩陣按鍵在識(shí)別的過(guò)程中是否要進(jìn)行消抖處理
2023-10-11 06:30:44
一、微機(jī)保護(hù)裝置的硬件系統(tǒng) 1、數(shù)據(jù)采集單元 即模擬量輸入系統(tǒng)，包括電流、電壓形成和模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊，完成將模擬輸入量準(zhǔn)確地變換為數(shù)字量的功能。 2、數(shù)據(jù)處理單元 即微機(jī)主系統(tǒng)，包括微處理器、只讀存儲(chǔ)器
2023-09-22 16:34:33546 
隨著現(xiàn)代集成電路工藝的發(fā)展，芯片制成越來(lái)越來(lái)精密，出現(xiàn)缺陷的可能性也越來(lái)越高，有時(shí)候一個(gè)微不足道的影響就可能導(dǎo)致芯片報(bào)廢
2023-09-15 11:29:251049 
dc-dc電源模塊因其特性被廣泛應(yīng)用于醫(yī)療、軍工、電子等領(lǐng)域。隨著技術(shù)的發(fā)展，電源模塊測(cè)試項(xiàng)目也逐漸增多，測(cè)試過(guò)程變得復(fù)雜。而納米軟件dc-dc電源模塊測(cè)試系統(tǒng)基于一種智能云測(cè)試平臺(tái)，可以為其提供高效快捷的電源測(cè)試方案。
2023-09-12 15:46:09384 
HDJB-702A微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀上位機(jī)做直流試驗(yàn)直流試驗(yàn)?zāi)K提供專門的直流電壓和電流輸出，主要是為了滿足做直流電壓繼電器、時(shí)間繼電器以及中間繼電器等試驗(yàn)的要求。直流模塊的主界面如圖所示：第一節(jié)
2023-09-11 09:50:47336 
測(cè)試新唐nuc980串口功能的過(guò)程
2023-09-04 16:07:37573 
請(qǐng)問(wèn)有人測(cè)試過(guò)ETH0網(wǎng)口的速度嗎?
在開(kāi)發(fā)版上使用iperf3測(cè)試，得到的結(jié)果大約為54M左右，離100M的差距不小，想問(wèn)是不是有方法改善效能?
2023-09-01 09:14:16
引言：晶振內(nèi)部結(jié)構(gòu)比較復(fù)雜，如果連接不妥當(dāng)或者布線錯(cuò)誤，就會(huì)影響晶振不起振或者EMC測(cè)試fail，從而導(dǎo)致產(chǎn)品不能使用。因此晶振電路的PCB設(shè)計(jì)非常重要，本節(jié)主要簡(jiǎn)述無(wú)源/有源晶振的布局布線要點(diǎn)。
2023-08-15 12:36:214767 
微機(jī)消諧器的用處有什么
2023-08-14 10:55:52388 本篇將從軌交軟件生命周期入手，重點(diǎn)從軟件不同階段、不同類型闡述各階段的測(cè)試的重點(diǎn)。
2023-08-08 14:50:51424 
在現(xiàn)代科技的發(fā)展中，時(shí)鐘測(cè)試扮演著非常重要的角色。如今，我們生活在一個(gè)高度數(shù)字化的世界中，時(shí)鐘準(zhǔn)確性對(duì)于各種設(shè)備和系統(tǒng)的正常運(yùn)行至關(guān)重要。然而，在時(shí)鐘測(cè)試過(guò)程中，差分探頭的應(yīng)用對(duì)結(jié)果產(chǎn)生了一定的影響。本文將詳細(xì)探討差分探頭對(duì)時(shí)鐘測(cè)試的影響，從而加深我們對(duì)該領(lǐng)域的理解和認(rèn)識(shí)。
2023-08-07 11:37:31285 最近可能不少人手上弄到了ST發(fā)布的的基于M33內(nèi)核的H5系列Nucleo開(kāi)發(fā)板，這里也用該開(kāi)發(fā)板體驗(yàn)下UART通信，做些驗(yàn)證與確認(rèn)。【提醒，下面測(cè)試過(guò)程中沒(méi)有開(kāi)啟TrustZone功能】
2023-08-04 09:16:18510 
微機(jī)消諧的使用條件 在工業(yè)生產(chǎn)和實(shí)驗(yàn)室中，微機(jī)消諧是一種廣泛應(yīng)用于電力諧波治理的技術(shù)。其基本原理是通過(guò)數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)和特殊的濾波器設(shè)計(jì)，對(duì)電力系統(tǒng)的諧波進(jìn)行監(jiān)測(cè)和消除。本文將詳細(xì)介紹微機(jī)
2023-07-25 09:11:21280 HNWJB-702微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀可對(duì)各類型電壓、電流、頻率、功率、阻抗、諧波、差動(dòng)、同期等繼電器以手動(dòng)或自動(dòng)方式進(jìn)行測(cè)試
2023-07-21 09:46:47331 HNWJB-802微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀采用可單機(jī)獨(dú)立運(yùn)行，亦可聯(lián)接其它電腦運(yùn)行的先進(jìn)結(jié)構(gòu)，主機(jī)內(nèi)置高性能工控機(jī)和高速數(shù)字信號(hào)處理器，真16位DAC模塊、新型模塊式高保真大功率功放，自帶TFT真彩色LCD顯示器和嵌入式微機(jī)鍵盤。
2023-07-20 16:43:43267 在電力系統(tǒng)中，諧波污染是一個(gè)常見(jiàn)且棘手的問(wèn)題。為了解決這個(gè)問(wèn)題，微機(jī)消諧裝置逐漸成為了行業(yè)中的主流選擇。微機(jī)消諧裝置具有以下幾個(gè)顯著的特點(diǎn)： 微機(jī)消諧裝置具有高效性。這種裝置通過(guò)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)電網(wǎng)中的諧波
2023-07-19 13:55:56233 原來(lái)buck芯片與替代料的buck芯片在哪些參數(shù)上有差異？ 針對(duì)第一個(gè)問(wèn)題，我們經(jīng)過(guò)查閱資料和跟設(shè)備原廠溝通得知，CCH模式負(fù)載可調(diào)范圍比CCL模式下更大，意味著其內(nèi)部有更多的負(fù)載瞬間被啟動(dòng)。
2023-07-14 10:16:59609 
一、功能與用途除可對(duì)各種繼電器（如電流、電壓、反時(shí)限、功率方向、阻抗、差動(dòng)、低周、同期、頻率、直流、中間、時(shí)間等）及微機(jī)保護(hù)進(jìn)行檢定外，并可模擬單相至三相的瞬時(shí)性、永久性、轉(zhuǎn)換性故障進(jìn)行
2023-07-13 09:25:11
一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介HMJBC-702微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀是在參照電力部頒發(fā)的《微機(jī)型繼電保護(hù)試驗(yàn)裝置技術(shù)條件(討論稿)》的基礎(chǔ)上，廣泛聽(tīng)取用戶意見(jiàn)，總結(jié)目前國(guó)內(nèi)同類產(chǎn)品優(yōu)缺點(diǎn)，充分使用現(xiàn)代先進(jìn)
2023-07-12 11:58:22
一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介HMJBC-1200微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀是在參照電力部頒發(fā)的DL/T624-1997《微機(jī)型繼電保護(hù)試驗(yàn)裝置技術(shù)條件》的基礎(chǔ)上，廣泛聽(tīng)取用戶意見(jiàn)，總結(jié)目前國(guó)內(nèi)同類產(chǎn)品優(yōu)缺點(diǎn)
2023-07-12 11:52:23
工業(yè)交換機(jī)在出廠前要經(jīng)過(guò)哪些測(cè)試呢？測(cè)試過(guò)程又是怎么樣的呢？主要是工業(yè)交換機(jī)性能檢驗(yàn)和可靠性檢驗(yàn)，又包括了電阻檢驗(yàn)、電容耐壓測(cè)試、電源功率測(cè)試、線材、模塊、電纜、網(wǎng)卡數(shù)據(jù)流量性能測(cè)試、高低溫耐沖擊
2023-07-07 11:03:39259 
在這篇文章中，我們將探討等價(jià)類在用TPT做測(cè)試過(guò)程中的使用，以及它們?nèi)绾蝺?yōu)化測(cè)試過(guò)程。等價(jià)類將值分類為不同的子集，通過(guò)從每個(gè)類中選擇一個(gè)具有代表性的值來(lái)簡(jiǎn)化測(cè)試過(guò)程。
2023-07-06 14:52:39319 
測(cè)試是軟件開(kāi)發(fā)中的一個(gè)關(guān)鍵過(guò)程。為了確保軟件產(chǎn)品的質(zhì)量和功能，擁有結(jié)構(gòu)良好且有效的測(cè)試過(guò)程是很重要的。在這種情況下，TPT中的狀態(tài)機(jī)（Testlet）已被證明是一種簡(jiǎn)化測(cè)試過(guò)程的有用方法。
2023-07-06 14:50:37276 
示教器的使用環(huán)境通常是電磁干擾、溫濕度變化、灰塵覆蓋等多變的工業(yè)場(chǎng)所，同時(shí)示教器作為手持操作裝置，也存在脫手跌落、振動(dòng)沖擊等可能性。那么示教器該如何應(yīng)對(duì)？ZTP800示教器的開(kāi)發(fā)測(cè)試過(guò)程告訴
2023-07-01 10:01:29295 
Air780EG使用EVB_Air780X_V1.7開(kāi)發(fā)板，借助串口調(diào)試助手與EVB_Air780X_V1.7對(duì)接，通過(guò)AT命令控制HTTP對(duì)接百度紅綠燈API。本文是對(duì)這個(gè)測(cè)試過(guò)程的總結(jié)。EVB_Air780X_V1.7獲取百度紅綠燈信息示例
2023-06-30 11:48:17
1 示教器的使用環(huán)境通常是電磁干擾、溫濕度變化、灰塵覆蓋等多變的工業(yè)場(chǎng)所，同時(shí)示教器作為手持操作裝置，也存在脫手跌落、振動(dòng)沖擊等可能性。那么示教器該如何應(yīng)對(duì)？ZTP800示教器的開(kāi)發(fā)測(cè)試過(guò)程告訴
2023-06-30 11:40:02208 
二次回路簡(jiǎn)述
2023-06-28 10:15:59490 
4559群?jiǎn)纹?位微機(jī)
2023-06-27 20:08:390 7544組單片8位微機(jī)
2023-06-27 19:37:330 成品測(cè)試主要是指晶圓切割變成芯片后，針 對(duì)芯片的性能進(jìn)行最終測(cè)試，需要使用的設(shè)備主要為測(cè)試機(jī)和分選機(jī)。晶圓測(cè)試（Chip Probing），簡(jiǎn)稱 CP 測(cè)試，是指通過(guò)探針臺(tái)和測(cè)試機(jī)的配合使用，對(duì)晶圓 上的裸芯片（gross die）進(jìn)行功能和電學(xué)性能參數(shù)的測(cè)試。
2023-06-25 12:26:501310 
測(cè)試PCB或印刷電路板是PCB制造中的重要過(guò)程。這個(gè)過(guò)程與制造本身一樣重要。測(cè)試過(guò)程可以為公司節(jié)省數(shù)百萬(wàn)美元并提高產(chǎn)品質(zhì)量。在本文中，我們將看到常見(jiàn)的PCB測(cè)試方法。
2023-06-18 11:36:431779 引言：和上一節(jié)不同的逆變器（傳送門：FCD-6：逆變器）不同的是，本節(jié)簡(jiǎn)述的整流器是和逆變器相反的一個(gè)過(guò)程，即將交流電AC轉(zhuǎn)換為直流電DC。小功率輸入的可以由集成方案解決，功率稍大的都是采用分立方案，本節(jié)主要簡(jiǎn)述分立式整流器的整流原理，集成式同理。
2023-06-14 16:45:31507 
請(qǐng)問(wèn)有人測(cè)試過(guò)ETH0網(wǎng)口的速度嗎?
2023-06-13 06:38:38
模糊化有可能在測(cè)試過(guò)程中培養(yǎng)效率目標(biāo)，縮小測(cè)試范圍。
2023-06-12 11:35:00297 
一、凱迪正大微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀功能與用途 可對(duì)各種繼電器（如電流、電壓、反時(shí)限、功率方向、阻抗、差動(dòng)、低周、同期、頻率、直流、中間、時(shí)間等）及微機(jī)保護(hù)進(jìn)行檢定，并可模擬各種復(fù)雜的瞬時(shí)性、戰(zhàn)略管理性
2023-06-05 15:19:28443 
差分探頭是一種廣泛應(yīng)用于電子測(cè)試領(lǐng)域的測(cè)試工具。MIPI(Mobile Industry Processor Interface)是由一組移動(dòng)行業(yè)領(lǐng)先公司聯(lián)合開(kāi)發(fā)的一種高效的串行總線協(xié)議。在移動(dòng)設(shè)備的生產(chǎn)和測(cè)試中，差分探頭被廣泛地應(yīng)用于MIPI總線調(diào)試和測(cè)試過(guò)程中。
2023-05-31 09:59:01533 
時(shí)間值 微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀對(duì)繼電器測(cè)試項(xiàng)目：1.微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀過(guò)電壓繼電器測(cè)試 采用“交流試驗(yàn)”程序，當(dāng)繼電器額定電壓小于120V時(shí)，可用單相電壓值為變量進(jìn)行測(cè)試。選定電壓步長(zhǎng)和電壓初始值，采用
2023-05-30 10:22:57
晶圓測(cè)試的方式主要是通過(guò)測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng)，在測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試機(jī)臺(tái)并不能直接對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行量測(cè)，而是透過(guò)探針卡（Probe Card）中的探針（Probe）與晶圓上的焊墊（Pad）或凸塊（Bump）接觸而構(gòu)成電性接觸
2023-05-11 14:35:142362 
無(wú)線收發(fā)系統(tǒng)架構(gòu)簡(jiǎn)述
2023-05-09 11:15:21645 
4559群?jiǎn)纹?位微機(jī)
2023-05-08 20:28:310 7544組單片8位微機(jī)
2023-05-08 19:57:340 探針卡是半導(dǎo)體晶圓測(cè)試過(guò)程中需要使用的重要零部件，被認(rèn)為是測(cè)試設(shè)備的“指尖”。由于每一種芯片的引腳排列、尺寸、間距變化、頻率變化、測(cè)試電流、測(cè)試機(jī)臺(tái)有所不同，針對(duì)不同的芯片都需要有定制化的探針卡
2023-05-08 10:38:273459 
晶圓測(cè)試的方式主要是通過(guò)測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng)，在測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試機(jī)臺(tái)并不能直接對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行量測(cè)，而是透過(guò)探針卡（Probe Card）中的探針（Probe）與晶圓上的焊墊（Pad）或凸塊（Bump）接觸而構(gòu)成電性接觸。
2023-05-08 10:36:02885 
6-35KV微機(jī)線路保護(hù)試驗(yàn)本測(cè)試模塊集中了低壓微機(jī)線路保護(hù)的大部分測(cè)試項(xiàng)目，適用于6～35KV中性點(diǎn)不接地系統(tǒng)的線路保護(hù)的測(cè)試。完整接線后，能一次性測(cè)試完所有項(xiàng)目，中間不需要人為干預(yù)?可不退出其它
2023-05-05 16:04:29341 測(cè)試SoC芯片需要專業(yè)的測(cè)試設(shè)備、軟硬件工具和測(cè)試流程，同時(shí)需要一定的測(cè)試經(jīng)驗(yàn)和技能。并且在測(cè)試過(guò)程中需要注意安全問(wèn)題，避免對(duì)芯片造成損壞。
2023-05-03 08:26:003594 7542組單片8位微機(jī)
2023-04-27 20:29:380 有關(guān)555定時(shí)器的小知識(shí)，如何對(duì)555定時(shí)器進(jìn)行仿真測(cè)試，可以采用電子仿真軟件MultisimV11.0來(lái)搭建仿真電路測(cè)試，以下是555定時(shí)器的完整測(cè)試過(guò)程，一起來(lái)了解下。
2023-04-27 16:26:402439 
目前傳導(dǎo)測(cè)試系統(tǒng)主要由各大設(shè)備廠商根據(jù)客戶及相應(yīng)的EMC檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)的要求，搭建和配置測(cè)試系統(tǒng)，但是針對(duì)不同行業(yè)、不同電壓、不同電流以及不同測(cè)試頻率的測(cè)試樣品,需配備不同型號(hào)的LISN,而不同型
2023-04-19 11:36:15715 微機(jī)保護(hù)是用微型計(jì)算機(jī)構(gòu)成的繼電保護(hù)，是電力系統(tǒng)繼電保護(hù)的發(fā)展方向。微機(jī)保護(hù)是指應(yīng)用計(jì)算機(jī)技術(shù)和數(shù)字化技術(shù)，設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)具有保護(hù)、測(cè)量、控制、通信、信息處理、自診斷等多種功能的電力系統(tǒng)保護(hù)裝置。與傳統(tǒng)保護(hù)裝置相比，微機(jī)保護(hù)具有更高的可靠性、靈活性、智能化和自適應(yīng)能力，更能適應(yīng)電力系統(tǒng)的復(fù)雜需求。
2023-04-16 14:24:094833 微機(jī)消諧裝置的操作說(shuō)明如下： 將微機(jī)消諧裝置接入電網(wǎng)，在電網(wǎng)正常運(yùn)行狀態(tài)下，裝置應(yīng)能正常運(yùn)行。 進(jìn)入微機(jī)消諧裝置的設(shè)置菜單，對(duì)裝置進(jìn)行必要的參數(shù)設(shè)置，例如調(diào)節(jié)諧波濾波器的電容值、電抗器的電感
2023-04-13 17:00:32437 近場(chǎng)探頭是用于測(cè)試電磁波的一種測(cè)量設(shè)備，可以用于天線測(cè)試、無(wú)線電設(shè)備測(cè)試以及電磁兼容性測(cè)試等。在近場(chǎng)探頭的測(cè)試過(guò)程中，我們需要注意以下問(wèn)題。
2023-04-12 11:49:43781 微機(jī)消諧裝置使用場(chǎng)景受到哪些影響 微機(jī)消諧裝置的使用場(chǎng)景受到以下因素的影響： 電網(wǎng)電壓和電流的波動(dòng)范圍：微機(jī)消諧裝置是根據(jù)電網(wǎng)的實(shí)時(shí)電壓和電流進(jìn)行自適應(yīng)諧波消除的，因此電網(wǎng)電壓和電流的波動(dòng)范圍會(huì)對(duì)
2023-04-06 08:40:07292 注射針韌性測(cè)試是針對(duì)注射器針頭的韌性和抗折斷力進(jìn)行的一種測(cè)試。測(cè)試的目的是確保注射器的針頭能夠在注射過(guò)程中不折斷或斷裂，并且保持其形狀，以確保安全和有效的注射。 在測(cè)試過(guò)程中，樣品針頭放在
2023-03-31 17:30:55683 
JMeter安裝完了，那我們來(lái)一個(gè)簡(jiǎn)單的實(shí)驗(yàn)。性能測(cè)試當(dāng)然得有個(gè)測(cè)試目標(biāo)，就是被測(cè)系統(tǒng)是什么，xmeter君這里就以測(cè)度娘為例來(lái)描述構(gòu)造一個(gè)簡(jiǎn)單的性能測(cè)試過(guò)程：xmeter君保證你在5分鐘之內(nèi)完成一次測(cè)試體驗(yàn)。
2023-03-23 12:48:22275
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