'ACT8990測(cè)試總線控制器（TBC）是德州儀器SCOPE ^TM 可測(cè)性集成電路系列的成員。該系列元件支持IEEE標(biāo)準(zhǔn)1149.1-1990（JTAG）邊界掃描，便于測(cè)試復(fù)雜的電路板組件。 'ACT8990與其他SCOPE ^TM 集成電路不同。它們的功能是控制JTAG串行測(cè)試總線，而不是目標(biāo)邊界可掃描設(shè)備。

JTAG串行測(cè)試總線所需的信號(hào) - 測(cè)試時(shí)鐘（TCK），測(cè)試模式選擇（TMS），測(cè)試數(shù)據(jù)輸入（TDI）和測(cè)試數(shù)據(jù)輸出（TDO）可以從TBC到目標(biāo)設(shè)備沒(méi)有額外的邏輯。這是作為IEEE標(biāo)準(zhǔn)1149.1-1990邊界可掃描組件的鏈完成的，它們共享相同的串行測(cè)試總線。 TBC為其目標(biāo)生成TMS和TDI信號(hào)，從其目標(biāo)接收TDO信號(hào)，并將其測(cè)試時(shí)鐘輸入（TCKI）緩沖到測(cè)試時(shí)鐘輸出（TCKO）以分發(fā)到其目標(biāo)。 TMS，TDI和TDO信號(hào)可以直接或通過(guò)流水線連接到目標(biāo)，重定時(shí)延遲高達(dá)31位。由于TBC可配置為生成多達(dá)六個(gè)獨(dú)立的TMS信號(hào)[TMS（5-0）]，因此可用于控制多達(dá)六個(gè)并行連接的目標(biāo)掃描路徑（即共享公共TCK，TDI和TDO信號(hào)）。

雖然TBC的大多數(shù)操作與TCKI同步，但是為目標(biāo)接口的輸出控制提供了測(cè)試關(guān)閉（TOFF \）輸入，并且測(cè)試復(fù)位（TRST \）輸入用于TBC的硬件/軟件復(fù)位。另外，提供四個(gè)事件[EVENT（3-0）] I /O用于與目標(biāo)設(shè)備的異步通信。每個(gè)事件都有自己的事件生成/檢測(cè)邏輯，檢測(cè)到的事件可以由兩個(gè)16位計(jì)數(shù)器計(jì)數(shù)。

TBC通過(guò)5位地址總線在主機(jī)微處理器/微控制器的控制下運(yùn)行[ADRS（4-0）]和16位讀/寫(xiě)數(shù)據(jù)總線[DATA（15-0）]。實(shí)現(xiàn)讀（RD \）和寫(xiě)（WR \）選通，使得關(guān)鍵主機(jī)接口時(shí)序獨(dú)立于TCKI周期。可以尋址24個(gè)寄存器中的任何一個(gè)用于讀取和/或?qū)懭氩僮鳌３刂坪蜖顟B(tài)寄存器外，TBC還包含兩個(gè)命令寄存器，一個(gè)讀緩沖區(qū)和一個(gè)寫(xiě)緩沖區(qū)。 TBC的狀態(tài)通過(guò)就緒（RDY \）和中斷（INT \）輸出傳輸?shù)街鳈C(jī)。

主機(jī)可以發(fā)出主要命令，使TBC生成移動(dòng)所需的TMS序列目標(biāo)從任何穩(wěn)定的測(cè)試訪問(wèn)端口（TAP）控制器狀態(tài)到任何其他穩(wěn)定的TAP狀態(tài)，執(zhí)行Run-Test /Idle TAP狀態(tài)的指令，或通過(guò)目標(biāo)掃描指令或測(cè)試數(shù)據(jù)（s） ）。可以預(yù)設(shè)一個(gè)32位計(jì)數(shù)器，以允許執(zhí)行預(yù)定數(shù)量的執(zhí)行或掃描操作。

在選定的TDI輸入（TDI1或TDI0）上出現(xiàn)的串行數(shù)據(jù)被傳輸?shù)阶x緩沖區(qū)，可以是由主機(jī)讀取以獲得最多16位的串行數(shù)據(jù)流。從TDO輸出發(fā)送的串行數(shù)據(jù)由主機(jī)寫(xiě)入寫(xiě)緩沖區(qū)。

SN54ACT8990的特點(diǎn)是在-55°C的整個(gè)軍用溫度范圍內(nèi)工作至125°C。 SN74ACT8990的工作溫度范圍為0°C至70°C。

NC - 無(wú)內(nèi)部連接