測試材料的阻抗Z，導納Y，電感L，電阻R,介電損耗D ,品質(zhì)因數(shù)
射頻阻抗計量器具檢定系統(tǒng)
 Verification Scheme of RF
Impedance Measuring Instruments  　JJG 2011-87
 代替：高頻阻抗量值傳遞系統(tǒng)  
射頻阻抗計量器具檢定系統(tǒng)
 本檢定系統(tǒng)適用于射（高）頻集總參數(shù)阻抗計量器具（即檢測20kHz-1GHz頻段的R，L，C元件和材料電磁特性所有物儀器設備和量具、標準件），規(guī)定了射頻（習慣上也稱高頻）集總參數(shù)阻抗量的量值溯源途徑、傳遞程序及計量器具的檢定方法。
 、計量基準器具
 1、高頻集總參數(shù)阻抗的國家計量基準器具是指用于復現(xiàn)和保存20kHz-1000GHz高頻阻抗量值（包括電介質(zhì)材料的復數(shù)介電常數(shù)和軟磁材料的復數(shù)導磁率）的計量設備和量具。
 2、射（高）頻集總參數(shù)阻抗計量基準器具包括：
 　2.1空氣介質(zhì)同軸線阻抗基準，其阻抗量值由同軸線尺寸和材料電磁特性經(jīng)理論計算求得。它用以校準按反射系數(shù)測量原理設計的高頻阻抗精密測量裝置。空氣 介質(zhì)同軸線也是微波阻抗國家基準，本檢定系統(tǒng)移用它，有利于射（高）頻、微波阻抗量值的統(tǒng)。在（1-1000）MHz頻段，其技術指標為：
   反射系數(shù)模值｜г｜：1.000±0.002；    相角：±180°±0.5°。
 2.2高頻阻高頻阻抗精密測量裝置，它是利用從美國引進的HP4191A高頻阻抗分析儀，經(jīng)過準確度論證分析，保證高頻集總參數(shù)阻抗量的以下計量工作性能：
   頻率：（1-1000）MHz
   反射系數(shù)模值｜г｜：1.000±(0.003-0.007)
   相角θ：±180°±0.5°；
   阻抗模值｜Z｜：1Ω-10kΩ±（0.5-10）%
   電容C：10pF-100nF±(0.2-10)%;
   電感L：10nH-100μH±（0.2-10）%
   損耗：tgδ（D）0.001-0.5±<(0.002-0.05)
 

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