E4991A 射頻阻抗/材料分析提供極限阻抗測量性能和功能強大的內置分析功能。它將為元器件和電路設計人員測量 3 GHz 以內的元器件提供創新功能，幫助他們進行研發工作。與反射測量技術不同，E4991A 使用射頻電流–電壓（RF-IV）技術，可在廣泛的阻抗范圍內提供更精確的阻抗測量結果。基本阻抗精度是 +/-0.8%。高 Q 精度有利于進行低功耗元器件分析。內置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的掃描范圍和 1 mHz的分辨率。
回收1.本公司長期現金高價：收購/回收/銷售/租憑/維修,進口儀器儀表,二手儀器、工廠倒閉、整批處理或單出，個人閑置儀器.
材料評估
E4991A 提供完整的介電/磁性材料測量解決方案，涵蓋 1 MHz 至 1 GHz的寬頻率范圍。
主要特性與技術指標
基本精度
基本精度 +/-0.8%
掃描參數
頻率：1 MHz 至 3 GHz
振蕩器電平：高達 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
DC 偏置電平（選件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA
更多特性
Windows 風格的用戶界面
內置 VBA 編程功能
通過 LAN 接口進行數據傳輸
多功能測量選件
介電/磁性材料測量（選件 E4991A-002）
可靠的晶圓測量（選件 E4991A-010）
