半導(dǎo)體芯片三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱控制系統(tǒng)：

1．采用進(jìn)口微電腦大型液晶LCD（320 x 240 Dots）中英文顯示控制系統(tǒng)。 

2．高程序記憶容量，可設(shè)定儲(chǔ)存 120 組程序，大循環(huán)設(shè)定 9999 Cycles，每段時(shí)間大設(shè)定 999 Hrs 59Mins。 

3．具有RS-232通訊界面及連接軟件，可于電腦熒幕上設(shè)計(jì)程序、收集測(cè)試資料與記錄、呼叫程序執(zhí)行、可實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程控制。

4．可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫、及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí)，可選擇二槽式或二槽式之功能，具備高低溫試驗(yàn)箱的功能。

5．可在預(yù)約開(kāi)機(jī)時(shí)間控制中自動(dòng)提前預(yù)熱、預(yù)冷待機(jī)，并可選擇起始位置，由高溫或低溫開(kāi)始循環(huán)或溫度沖擊，另具備設(shè)定循環(huán)次數(shù)擴(kuò)自動(dòng)除霜功能。

6．出風(fēng)口與回風(fēng)口傳感器檢知控制，風(fēng)向柵門機(jī)構(gòu)切換時(shí)間為10s內(nèi)完成，冷熱沖擊溫度恢復(fù)時(shí)間為5min鐘內(nèi)完成。

7．具有溫度線懷直流信號(hào)輸出到溫度記錄器，以了解測(cè)試條件之狀態(tài)，進(jìn)而提高檢測(cè)信賴度。

8．運(yùn)轉(zhuǎn)中發(fā)行異常狀況，熒幕上即刻自動(dòng)顯示故障原因及提供排除方法，并于發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)時(shí)，具有緊急停機(jī)裝置。

9．冷凍系統(tǒng)采用二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)，采用歐美進(jìn)口壓縮機(jī)組，并使用環(huán)保冷媒。

半導(dǎo)體芯片三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱特點(diǎn)：

1．采用鋁片驗(yàn)證機(jī)臺(tái)負(fù)載能力 

2．傳感器放置測(cè)試區(qū)而非風(fēng)道口符合實(shí)驗(yàn)有效性 

3．進(jìn)行兩箱沖擊時(shí)測(cè)試區(qū)濕度符合規(guī)范要求 

4．適用多項(xiàng)國(guó)際規(guī)范與試驗(yàn)條件 

5．可執(zhí)行低溫-10度沖擊并省電 

6．可執(zhí)行無(wú)鉛制程的錫須試驗(yàn) 

7．試驗(yàn)結(jié)束待測(cè)品自動(dòng)回常溫避免結(jié)霜結(jié)露保護(hù)機(jī)制 

8．完整實(shí)時(shí)試驗(yàn)曲線分析顯示 

半導(dǎo)體芯片三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱用途：

    工作原理可用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)及高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能承受的程度, 藉以在短時(shí)間內(nèi) 試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害.適用的對(duì)象包括金屬,塑料, 橡膠, 電子....等材料,可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。 冷熱沖擊試驗(yàn)箱生產(chǎn)企業(yè)，請(qǐng)選擇廣東艾思荔科技。廣東地區(qū)眾多企業(yè)選購(gòu)本品牌沖擊試驗(yàn)箱.