現實世界的本質就是模擬。我們需要從周圍世界采集的任何信息始終是一個模擬值。但要在微處理器內處理模擬數據需要先將這些數據轉換為數字形式。因此，SoC中使用多種不同的ADC（模數轉換器）。根據幾個參數（即吞吐量、噪聲抗擾度及設計復雜性）選擇相應類型的ADC。
　　SoC設計人員不需要了解集成到SoC中的任何IP的復雜深層設計。因此，如果將ADC視為一個黑盒，即使從SoC設計人員的角度來看，在SoC層面仍有許多因素會決定ADC的性能質量。我們必須格外注意這些因素。
　　將模擬信號轉換成數字數據需要在時間以及幅度上進行離散化。時間離散在采樣相位上進行，而幅度離散在量化相位進行。采樣通過采樣保持電路完成。采樣保持電路有一個開關、一個阻抗路徑以及一個電容，當開關關閉時在該電容上對電壓進行采樣。量化簡言之是指在一定范圍內（由ADC的參考電壓控制）將采樣值縮放為數字值。采樣和量化相位如圖1所示。
　　
　　圖1：通用模數轉換流程
　　即使在簡單的ADC黑盒示意圖中，我們也需要了解其在SoC中的集成知識：
　　● ADC有多個輸入信道，只有一個數字輸出。
　　● 信道之間存在復用，這樣，在任何時候ADC都能轉換來自于一個信道的數據。
　　● 采樣通過一個時鐘進行。
　　● 任何ADC在其量化相位都使用一個基準。
　　鑒于以上因素，我們便會明白，即使在同一個、甚至非常簡單的ADC外部視圖中也會有許多設計難點，同時還有許多常見問題。我們將在以下章節中逐一討論。圖2展示了將ADC集成到SoC的一般情況。
　　
　　圖2：ADC到SoC的一般集成
　　模擬輸入信道
　　在轉換的第一個相位，也就是采樣相位，輸入信道的模擬輸入是最重要的。采樣電容是ADC設計的組成部分，但是采樣遇到的電阻與SoC集成有較大的關聯。需要核實一些常見的整合細節。
　　模擬輸入路徑的電阻決定采樣所需的時間（如果C相同，采樣時間將隨著R的增加而增加，采樣時間等于電容器的充電時間）。采樣相位通過一個開關控制。在ADC IP設計的一個可編程寄存器指定的時段內，該開關保持關閉。