Introduction of New Generation Field-Stop Shorted-Anode IGBT
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Introduction of New Generation Field-Stop Shorted-Anode IGBT
隨著電力電子和半導(dǎo)體的快速發(fā)展,每一個(gè)電力電子應(yīng)用都需要專用和專門的半導(dǎo)體開關(guān)器件從成本和性能的角度來(lái)看。現(xiàn)場(chǎng)停止(FS)的IGBT提供較低的飽和壓降和較低的開關(guān)損耗與傳統(tǒng)的非穿通(NPT)IGBT。此外,一個(gè)相對(duì)較新的改進(jìn),集成的反并聯(lián)二極管的IGBT芯片通過(guò)使用短路陽(yáng)極(SA)技術(shù),使FS IGBT非常適合軟開關(guān)功率變換應(yīng)用。
現(xiàn)場(chǎng)停止短路陽(yáng)極溝槽IGBT與NPT
盡管NPT IGBT提高降低少數(shù)載流子的注入量和關(guān)閉過(guò)渡期間提高重組率的開關(guān)速度,這是不可取的,由于其較高的VCE(SAT)的高功率應(yīng)用,因?yàn)樗腘-基板必須輕摻雜,因此,較厚的基板需要維持電場(chǎng)關(guān)閉狀態(tài)時(shí)如圖1所示(一)。的N -基是IGBTs的飽和壓降的主要因素的厚度。
The “n” doped field-stop layer between “n-” drift layer and “p+” collector of a conventional NPT IGBT, as shown in Figure 1(b), drastically improves the performance of IGBT. This is the field-stop IGBT concept. In the FS IGBT, the electric field rapidly decreases within the field-stop layer while gradually decreasing within “n-” drift layer. Therefore, the thickness of the “n-” drift layer and the saturation voltage drop can be significantly improved. The trench-gate structure also improves the saturation voltage drop. The field-stop layer of a FS IGBT accelerates the majority carrier recombination during the turn-off instance, and thereby, its tail current is much smaller than NPT or PT IGBTs. This leads to lower switching losses and lower turn-off energy, Eoff.
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