高級(jí) DCAP+ 控制用于提供 CPU、存儲(chǔ)器和 ASIC 應(yīng)用所需的高速動(dòng)態(tài)控制。多達(dá)六個(gè)高電流同步功率級(jí)提供這些應(yīng)用所需的高電流和低損耗。通過(guò)多相，還可消除輸出紋波以及在給定開(kāi)關(guān)頻率下進(jìn)行有效的更高帶寬控制。

PMP10393 在硬件上與 1.0V PMP9738 相同，但它展示了在 12V 輸入、600mV 輸出、高達(dá) 200 A 時(shí)的運(yùn)行情況。在 600mV 時(shí)，固定的導(dǎo)通時(shí)間模式和降低的開(kāi)關(guān)頻率有助于降低損耗和改善 FET 之間的熱平衡。

此外還包括在 120A 輸出時(shí)通過(guò)三相、四相和更低成本的功率級(jí)進(jìn)行測(cè)試。設(shè)計(jì)注重輕松進(jìn)行電氣測(cè)試并能夠通過(guò) PMBus 接口進(jìn)行即時(shí)變更。板載偏置電源和一個(gè)高速動(dòng)態(tài)負(fù)載完善了豐富的測(cè)試接口。

特性

在硬件上與 1.0Vout PMP9738 相同，但具有 600mV 輸出測(cè)試功能

DCAP+ 控制（實(shí)現(xiàn)出色的步進(jìn)負(fù)載響應(yīng)）、SVID 和 PMBus 接口

在 12V 輸入、600mV 輸出時(shí)驗(yàn)證熱性能和動(dòng)態(tài)響應(yīng)

評(píng)估板側(cè)重于輕松進(jìn)行電氣測(cè)試，所有部件幾乎都位于頂端

豐富的測(cè)試接口，涵蓋 PMBus 插座、5V 和 3.3V 偏置電源以及板載高速動(dòng)態(tài)測(cè)試負(fù)載

原理圖、BOM、布局和測(cè)試報(bào)告（包括通過(guò)三相、四相和更低成本的功率級(jí)進(jìn)行的 120A 測(cè)試）

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