0 引言
　　近年來，RFID（Radio Frequency Identification）技術(shù)在物流行業(yè)、制造業(yè)、資產(chǎn)管理、人員跟蹤監(jiān)控等多個(gè)領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用，其基本原理是利用射頻信號和空間耦合（電感耦 合或電磁耦合）傳輸特性，實(shí)現(xiàn)對被識別物體的自動識別。RFID 系統(tǒng)一般由讀寫器和電子標(biāo)簽組成，讀寫器通過無線通信方式獲得標(biāo)簽信息，從而識別攜帶該標(biāo)簽的對象。因此，讀寫器性能對RFID系統(tǒng)功能的實(shí)現(xiàn)起著舉足輕 重的作用。
　　目前，對讀寫器所開展的測試包括一致性測試、通用性測試以及性能測試三個(gè)階段。一致性測試是為了測試設(shè)備如標(biāo)簽、讀寫器是否符合EPC global 的標(biāo)準(zhǔn)，這樣終端用戶可以購買到經(jīng)過認(rèn)證的產(chǎn)品;通用性測試是為了測試某種設(shè)備與其他設(shè)備的兼容性操作;性能測試是為了測試讀寫器在 某個(gè)具體環(huán)境、真實(shí)條件下的識讀水平，以保證所有環(huán)節(jié)識讀的準(zhǔn)確率。ISO/IEC 18046定義了RFID設(shè)備的性能檢測方法，包括對標(biāo)簽性能參數(shù)、速度、標(biāo)簽陣列、方向、單標(biāo)簽檢測及多標(biāo)簽檢測等標(biāo)簽性能檢測方法，以及對讀取距離、 讀取率、單標(biāo)簽和多標(biāo)簽讀取等讀寫器性能檢測方法。左中梁等在GTEM小室中測試了UHF RFID 系統(tǒng)的讀寫距離，分析了UHF RFID 系統(tǒng)通信的受限因素是前向鏈路，從而根據(jù)前向鏈路信號的衰減推導(dǎo)了使用GTEM 小室進(jìn)行UHF RFID 系統(tǒng)讀寫距離測量的公式及方法;史玉良等在高速環(huán)境下對UHFRFID標(biāo)簽讀取率進(jìn)行了測試，并設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了1款直線導(dǎo)軌以模擬低速到高速的不同應(yīng)用環(huán)境， 研究標(biāo)簽的讀取率與速度之間存在的對應(yīng)關(guān)系。然而，這些方法主要針對的是讀寫器本身的參數(shù)對其讀寫性能的影響，對于具體的環(huán)境因素對讀寫器讀寫性能的影響 研究較少。本文在現(xiàn)有物流分揀、混合生產(chǎn)智能制造生產(chǎn)線上，測試出了RRU9806SR超高頻臺面式讀寫器漏讀率，分析了實(shí)際生產(chǎn)線環(huán)境對漏讀率的影響。
　　1 測試平臺搭建與數(shù)據(jù)采集
　　1.1 RRU9806SR超高頻臺面式讀寫器
　　RRU9806SR超高頻臺面式讀寫器外形圖及其接口定義如圖1 所示，支持符合ISO18000-6C（EPC C1G2）、ISO18000-6B 協(xié)議電子標(biāo)簽，可用于物流、個(gè)人身份識別、會議簽到系統(tǒng)、門禁系統(tǒng)、防偽系統(tǒng)及生產(chǎn)過程控制等多種無線射頻識別（RFID）系統(tǒng)。RFID讀寫器硬件電路由以下幾部分組成：射頻識別模塊電路、微控制器電路、串行接口電路、射頻收發(fā)電路、電源電路等，如圖2所示。
　　
　　
　　讀寫器通過天線發(fā)送一定頻率的射頻信號，當(dāng)貼有電子標(biāo)簽的物體進(jìn)入無線識別系統(tǒng)讀寫器的識讀范圍時(shí)，其天線將產(chǎn)生感應(yīng)電流，電子標(biāo)簽獲得能量被 激活并向讀寫器發(fā)送自身的編碼等信息，讀寫器接收到電子標(biāo)簽發(fā)射回來的電磁波信號后，經(jīng)過處理得到電子標(biāo)簽存儲的代碼等信息，這些信息可以作為物體的特征 數(shù)據(jù)被傳送到計(jì)算機(jī)進(jìn)一步處理。