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標(biāo)簽 > 失效分析
失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過(guò)分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。本章就機(jī)械失效分析,失效分析實(shí)驗(yàn)室
失效分析流程,涂層失效分析,軸承失效分析。
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隨著電子產(chǎn)品的快速發(fā)展,電子設(shè)備更是朝著輕.薄.小的方向發(fā)展,使得印制電路板CAF問(wèn)題成為影響產(chǎn)品可靠性的重要因素.通過(guò)介紹CAF失效原理,及CAF失效...
分析,認(rèn)為造成陶瓷電容耐壓不良原因?yàn)槎伟饽K固化過(guò)程中及固化后應(yīng)力作用造成陶瓷-環(huán)氧界面存在間隙,導(dǎo)致其耐壓水平降低。
鋰電池在使用或儲(chǔ)存過(guò)程中會(huì)出現(xiàn)一定概率的失效, 包括容量衰減(跳水)、循環(huán)壽命短、內(nèi)阻增大、電壓異常、析鋰、產(chǎn)氣、漏液、短路、變形、熱失控等, 嚴(yán)重降低...
RMA是什么意思?IC芯片設(shè)計(jì)失效分析和RMA流程分解
2020年季豐電子集成電路運(yùn)營(yíng)工程技術(shù)研討會(huì)(GF Seminar 2020)已于2020年12月17日?qǐng)A滿落幕,應(yīng)廣大客戶要求,現(xiàn)將研討會(huì)PPT按系列...
2020-12-29 標(biāo)簽:芯片集成電路芯片設(shè)計(jì) 1.7萬(wàn) 0
晶體管器件為什么會(huì)失效 晶體管器件失效原因及老化篩選
電子設(shè)備及儀器使用的電子元器件,一般需要在長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)通電的情況下工作,并且受到環(huán)境條件(溫度和濕度等)的變化和各種其它因素的影響,(如是在煤礦井下惡劣的...
了解電子元器件失效的機(jī)理、模式以及分析技術(shù)等
對(duì)電子元器件的失效分析技術(shù)進(jìn)行研究并加以總結(jié)。方法 通過(guò)對(duì)電信器類、電阻器類等電子元器件的失效原因、失效機(jī)理等故障現(xiàn)象進(jìn)行分析。
開封方法有機(jī)械方法和化學(xué)方法兩種,按封裝材料來(lái)分類,微電子器件的封裝種類包括玻璃封裝(二極管)、金屬殼封裝、陶瓷封裝、塑料封裝等。?
2018-04-19 標(biāo)簽:失效分析電子元器件識(shí)別 1.0萬(wàn) 0
隨著人們對(duì)電子產(chǎn)品質(zhì)量可靠性的要求不斷增加,電子元器件的可靠性不斷引起人們的關(guān)注,如何提高可靠性成為電子元器件制造的熱點(diǎn)問(wèn)題。例如在衛(wèi)星、飛機(jī)、艦船和計(jì)...
SEM&EDS分析在PCB失效分析中的應(yīng)用
PCB失效原因越來(lái)越多,在以前看起來(lái)難以發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題,現(xiàn)在可以用掃描電子顯微鏡與能譜(SEM&EDS)分析出來(lái)。本文介紹了在PCB生產(chǎn)過(guò)程中利用S...
汽車行業(yè)工程技術(shù)中的失效分析、PFMEA DFMEA關(guān)系、文件結(jié)果化分享
失效分析 根據(jù)過(guò)程步驟,導(dǎo)出失效并從功能分析中創(chuàng)建失效鏈(即失效結(jié)構(gòu)/失效樹/失效網(wǎng))[詳情見過(guò)程FMEA步驟三:功能分析] 失效結(jié)構(gòu)的關(guān)注要素被稱為失...
抗靜電指標(biāo)差的LED失效分析案例分析 金鑒實(shí)驗(yàn)室失效分析方法
隨著LED業(yè)內(nèi)競(jìng)爭(zhēng)的不斷加劇,LED品質(zhì)受到了前所未有的重視。LED在制造、運(yùn)輸、裝配及使用過(guò)程中,生產(chǎn)設(shè)備、材料和操作者都有可能給LED帶來(lái)靜電(ES...
以IGBT、MOSFET為主的電力電子器件通常具有十分廣泛的應(yīng)用,但廣泛的應(yīng)用場(chǎng)景也意味著可能會(huì)出現(xiàn)各種各樣令人頭疼的失效情況,進(jìn)而導(dǎo)致機(jī)械設(shè)備發(fā)生故障!
有哪些全面的PCB失效分析技術(shù)詳細(xì)資料概述
PCB作為各種元器件的載體與電路信號(hào)傳輸?shù)臉屑~已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的最為重要而關(guān)鍵的部分,其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定了整機(jī)設(shè)備的質(zhì)量與可靠性。 隨著電...
PCB作為各種元器件的載體與電路信號(hào)傳輸?shù)臉屑~已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的最為重要而關(guān)鍵的部分,其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定了整機(jī)設(shè)備的質(zhì)量與可靠性。
IC故障診斷及失效分析:發(fā)現(xiàn)事實(shí)避免臆測(cè)
對(duì)一個(gè)復(fù)雜的設(shè)備進(jìn)行故障診斷的時(shí)候,知識(shí)儲(chǔ)備是最重要的。我們想要的并且需要去了解相關(guān)的一些問(wèn)題。它包括正確的IC版本號(hào),在哪里可以找到有關(guān)的參考資料,誰(shuí)...
你是否長(zhǎng)時(shí)間糾纏于線路板的失效分析?你是否花費(fèi)大量精力在樣板調(diào)試過(guò)程中?你是否懷疑過(guò)自己的原本正確的設(shè)計(jì)?
熱載流子注入(熱載流子誘生的MOS器件退化是由于高能量的電子和空穴注入柵氧化層引起的,注入的過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生界面態(tài)和氧化層陷落電荷,造成氧化層的損傷。)
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