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標(biāo)簽 > 失效分析
失效分析是一門(mén)發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開(kāi)始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過(guò)分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。本章就機(jī)械失效分析,失效分析實(shí)驗(yàn)室
失效分析流程,涂層失效分析,軸承失效分析。
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三防漆也叫保固型涂層(Conformal Coating),是指增加一層防護(hù)涂層來(lái)保護(hù)產(chǎn)品、提高產(chǎn)品的可靠性,三防漆起著隔離電子元件和電路基板與惡劣環(huán)境...
顯微鏡在芯片失效分析中的具體應(yīng)用場(chǎng)景及前景
??? 在芯片這個(gè)微觀且精密的領(lǐng)域,失效分析猶如一場(chǎng)探秘之旅,旨在揭開(kāi)芯片出現(xiàn)故障背后的秘密。而顯微鏡,作為一種強(qiáng)大的觀察工具,在芯片失效分析中扮演著至...
合作案例 | 一文解開(kāi)遠(yuǎn)山氮化鎵功率器件耐高壓的秘密
引言氮化鎵(GaN),作為一種具有獨(dú)特物理和化學(xué)性質(zhì)的半導(dǎo)體材料,近年來(lái)在電子領(lǐng)域大放異彩,其制成的氮化鎵功率芯片在功率轉(zhuǎn)換效率、開(kāi)關(guān)速度及耐高溫等方面...
芯片開(kāi)封decap簡(jiǎn)介及芯片開(kāi)封在失效分析中應(yīng)用案例分析
DECAP:即開(kāi)封,業(yè)內(nèi)也稱(chēng)開(kāi)蓋,開(kāi)帽。是指將完整封裝的IC做局部腐蝕,使得IC可以暴露出來(lái) ,同時(shí)保持芯片功能的完整無(wú)損,為下一步芯片失效分析實(shí)驗(yàn)做準(zhǔn)...
離子束拋光在微電子封裝失效分析領(lǐng)域的應(yīng)用
共讀好書(shū) 王剛 馮麗婷 李潮 黎恩良 鄭林挺 胡宏偉劉家儒 夏姍姍 武慧薇 (工業(yè)和信息化部電子第五研究所) 摘要: 首先,以具體微電子封裝失效機(jī)理和失...
電驅(qū)失效類(lèi)型和風(fēng)險(xiǎn)分析,如何從測(cè)試端提升電驅(qū)可靠性?
電子發(fā)燒友網(wǎng)報(bào)道(文/吳子鵬)近日,北理工電動(dòng)車(chē)輛國(guó)家工程研究中心主任王志福在演講中表示,“我們現(xiàn)在越來(lái)越多地關(guān)注電驅(qū)系統(tǒng)的故障問(wèn)題,比如短路、斷路、失...
2024-06-24 標(biāo)簽:測(cè)試失效分析電驅(qū)動(dòng) 1.0萬(wàn) 0
一、什么是紅墨水實(shí)驗(yàn)? 將焊點(diǎn)置于紅色墨水或染料中, 讓紅墨水或染料滲入焊點(diǎn)的裂紋之中,干燥后將焊點(diǎn)強(qiáng)行分離, 焊點(diǎn)一般會(huì)從薄弱的環(huán)節(jié)(裂紋處)開(kāi)裂。 ...
專(zhuān)家訪談丨中國(guó)“芯”飽受良率之痛,芯片制造該如何破局?
芯片被稱(chēng)為信息產(chǎn)業(yè)的糧食和“大腦”,是信息社會(huì)的基石,在信息化、智能化不斷加快的今天,芯片已經(jīng)成為戰(zhàn)略性、基礎(chǔ)性產(chǎn)業(yè)。可以說(shuō),芯片作為支撐中國(guó)經(jīng)濟(jì)持續(xù)高...
BGA焊點(diǎn)失效分析——冷焊與葡萄球效應(yīng)
BGA(Ball Grid Array)是一種高密度的表面貼裝封裝技術(shù),它將芯片的引腳用焊球代替,并以網(wǎng)格狀排列在芯片的底部,通過(guò)回流焊與印刷電路板(P...
2023-12-27 標(biāo)簽:BGA焊點(diǎn)失效分析 1341 0
▼關(guān)注公眾號(hào):工程師看海▼ 失效分析一直伴隨著整個(gè)芯片產(chǎn)業(yè)鏈,復(fù)雜的產(chǎn)業(yè)鏈中任意一環(huán)出現(xiàn)問(wèn)題都會(huì)帶來(lái)芯片的失效問(wèn)題。芯片從工藝到應(yīng)用都會(huì)面臨各種失效風(fēng)險(xiǎn)...
2023-12-20 標(biāo)簽:芯片電路設(shè)計(jì)失效分析 3397 0
一、案例背景 PCBA組裝完成后,測(cè)試過(guò)程中插入U(xiǎn)SB時(shí)脫落。 #1-3為PCBA樣品,#4-5為USB單品。 二、分析過(guò)程 #1樣品PCB側(cè)剝離面特征...
1、案例背景 LED燈帶在使用一段時(shí)間后出現(xiàn)不良失效,初步判斷失效原因?yàn)殂~腐蝕。據(jù)此情況,對(duì)失效樣品進(jìn)行外觀觀察、X-RAY分析、切片分析等一系列檢測(cè)手...
有一批現(xiàn)場(chǎng)儀表在某化工廠使用一年后,儀表紛紛出現(xiàn)故障。經(jīng)分析發(fā)現(xiàn)儀表中使用的厚膜貼片電阻阻值變大了,甚至變成開(kāi)路了。把失效的電阻放到顯微鏡下觀察,可以發(fā)...
一、定義 X-RAY是利用陰極射線(xiàn)管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊,在撞擊過(guò)程中,因電子突然減速,其損失的動(dòng)能會(huì)以X-RAY形式放出。 對(duì)于無(wú)法以外觀方式檢...
在PCBA生產(chǎn)過(guò)程中,錫膏和助焊劑會(huì)產(chǎn)生殘留物質(zhì),殘留物中包含的有機(jī)酸和電離子,前者易腐蝕PCBA,后者會(huì)造成焊盤(pán)間短路故障。且近年來(lái),用戶(hù)對(duì)產(chǎn)品的清潔...
一、案例背景 車(chē)門(mén)控制板發(fā)生暗電流偏大異常的現(xiàn)象,有持續(xù)發(fā)生的情況,初步判斷發(fā)生原因?yàn)镃3 MLCC電容開(kāi)裂。據(jù)此情況,結(jié)合本次失效樣品,對(duì)失效件進(jìn)行分...
車(chē)規(guī)驗(yàn)證對(duì)銅線(xiàn)的可靠性要求
在集成電路封裝行業(yè)中,引線(xiàn)鍵合工藝的應(yīng)用產(chǎn)品超過(guò)90%。引線(xiàn)鍵合是指在一定的環(huán)境下,采用超聲加壓的方式,將引線(xiàn)兩端分別焊接在芯片焊盤(pán)上和引線(xiàn)框架上,從而...
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