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標(biāo)簽 > 失效分析
失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開(kāi)始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過(guò)分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。本章就機(jī)械失效分析,失效分析實(shí)驗(yàn)室
失效分析流程,涂層失效分析,軸承失效分析。
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芯片開(kāi)封decap簡(jiǎn)介及芯片開(kāi)封在失效分析中應(yīng)用案例分析
DECAP:即開(kāi)封,業(yè)內(nèi)也稱開(kāi)蓋,開(kāi)帽。是指將完整封裝的IC做局部腐蝕,使得IC可以暴露出來(lái) ,同時(shí)保持芯片功能的完整無(wú)損,為下一步芯片失效分析實(shí)驗(yàn)做準(zhǔn)...
1、案例背景 LED燈帶在使用一段時(shí)間后出現(xiàn)不良失效,初步判斷失效原因?yàn)殂~腐蝕。據(jù)此情況,對(duì)失效樣品進(jìn)行外觀觀察、X-RAY分析、切片分析等一系列檢測(cè)手...
使用時(shí)間可控發(fā)射方法來(lái)進(jìn)行模擬電路的失效分析
時(shí)間可控發(fā)射方法(TRE)是一種常用的非入侵式波形測(cè)量方法,它能從芯片的背面探測(cè)芯片內(nèi)部節(jié)點(diǎn)的時(shí)序波形。完美的TRE系統(tǒng)能提供很高的帶寬 (》5GHz)...
案例背景 車載濾波器組件在可靠性試驗(yàn)后,主板上的插件引腳焊點(diǎn)發(fā)生開(kāi)裂異常。 分析過(guò)程 焊點(diǎn)外觀 說(shuō)明:插件器件引腳呈現(xiàn)出明顯的焊點(diǎn)開(kāi)裂狀態(tài)。 X-RAY...
“鯤龍”AG600全狀態(tài)新構(gòu)型滅火機(jī)首飛成功 廣電計(jì)量護(hù)航藍(lán)天逐夢(mèng)
在航空產(chǎn)品質(zhì)量管控領(lǐng)域,廣電計(jì)量具有多年的技術(shù)積累,構(gòu)建了涵蓋計(jì)量校準(zhǔn)、環(huán)境與可靠性試驗(yàn)、電磁兼容檢測(cè)、芯片檢測(cè)、軟件測(cè)評(píng)及軟件工程化管理、材料分析等的...
一、案例背景 車門控制板發(fā)生暗電流偏大異常的現(xiàn)象,有持續(xù)發(fā)生的情況,初步判斷發(fā)生原因?yàn)镃3 MLCC電容開(kāi)裂。據(jù)此情況,結(jié)合本次失效樣品,對(duì)失效件進(jìn)行分...
一、案例背景 PCBA組裝完成后,測(cè)試過(guò)程中插入U(xiǎn)SB時(shí)脫落。 #1-3為PCBA樣品,#4-5為USB單品。 二、分析過(guò)程 #1樣品PCB側(cè)剝離面特征...
離子束拋光在微電子封裝失效分析領(lǐng)域的應(yīng)用
共讀好書 王剛 馮麗婷 李潮 黎恩良 鄭林挺 胡宏偉劉家儒 夏姍姍 武慧薇 (工業(yè)和信息化部電子第五研究所) 摘要: 首先,以具體微電子封裝失效機(jī)理和失...
合作案例 | 一文解開(kāi)遠(yuǎn)山氮化鎵功率器件耐高壓的秘密
引言氮化鎵(GaN),作為一種具有獨(dú)特物理和化學(xué)性質(zhì)的半導(dǎo)體材料,近年來(lái)在電子領(lǐng)域大放異彩,其制成的氮化鎵功率芯片在功率轉(zhuǎn)換效率、開(kāi)關(guān)速度及耐高溫等方面...
顯微鏡在芯片失效分析中的具體應(yīng)用場(chǎng)景及前景
??? 在芯片這個(gè)微觀且精密的領(lǐng)域,失效分析猶如一場(chǎng)探秘之旅,旨在揭開(kāi)芯片出現(xiàn)故障背后的秘密。而顯微鏡,作為一種強(qiáng)大的觀察工具,在芯片失效分析中扮演著至...
三防漆也叫保固型涂層(Conformal Coating),是指增加一層防護(hù)涂層來(lái)保護(hù)產(chǎn)品、提高產(chǎn)品的可靠性,三防漆起著隔離電子元件和電路基板與惡劣環(huán)境...
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