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標(biāo)簽 > 開關(guān)損耗
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開關(guān)損耗是電力電子設(shè)備中的一個重要性能指標(biāo),它直接影響到設(shè)備的效率和熱管理。差分探頭作為一種高精度的測量工具,在開關(guān)損耗的測量中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。本文將介...
2024-08-09 標(biāo)簽:差分探頭開關(guān)損耗 308 0
SiC MOSFET的設(shè)計挑戰(zhàn)——如何平衡性能與可靠性
碳化硅(SiC)的性能潛力是毋庸置疑的,但設(shè)計者必須掌握一個關(guān)鍵的挑戰(zhàn):確定哪種設(shè)計方法能夠在其應(yīng)用中取得最大的成功。
2023-05-04 標(biāo)簽:MOSFETSiC開關(guān)損耗 642 0
如今的開關(guān)電源技術(shù)很大程度上依托于電源半導(dǎo)體開關(guān)器件,如MOSFET和IGBT。這些器件提供了快速開關(guān)速度,能夠耐受沒有規(guī)律的電壓峰值。同時在On或Of...
半導(dǎo)體器件并不完美——所有二極管和晶體管都因開關(guān)和導(dǎo)通而產(chǎn)生功率損耗。開關(guān)損耗發(fā)生在結(jié)的通斷狀態(tài)之間的間隔期間,此時器件端子上既有電壓又有電流流過。傳導(dǎo)...
2022-04-21 標(biāo)簽:電子設(shè)備半導(dǎo)體器件開關(guān)損耗 3581 0
功率損耗是開關(guān)器件性能評估的重要環(huán)節(jié),也是工程師在選配時重點關(guān)注的一項高級功能。雖然很多實驗室配備了功率損耗測量環(huán)境,對設(shè)備和探頭也投入不菲,但如果工程...
2021-12-15 標(biāo)簽:示波器探頭開關(guān)損耗 717 0
一個高質(zhì)量的開關(guān)電源效率高達95%,而開關(guān)電源的損耗大部分來自開關(guān)器件(MOSFET和二極管),所以正確的測量開關(guān)器件的損耗,對于效率分析是非常關(guān)鍵的。...
2019-06-26 標(biāo)簽:開關(guān)損耗 894 0
理解MOSFET開關(guān)損耗和主導(dǎo)參數(shù)
為了使MOSFET整個開關(guān)周期都工作于ZVS,必須利用外部的條件和電路特性,實現(xiàn)其在開通過程的ZVS。如同步BUCK電路下側(cè)續(xù)流管,由于其寄生的二極管或...
2012-04-12 標(biāo)簽:MOSFET開關(guān)損耗 6.2萬 1
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