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樣品制備的關(guān)鍵要素電子背散射衍射技術(shù)(EBSD)是一種用于分析材料微觀結(jié)構(gòu)的強大工具,而樣品的制備質(zhì)量直接影響分析結(jié)果的準確性。以下是制備樣品時需滿足的...
2024-12-27 標簽:機械數(shù)據(jù)采集材料 114 0
在材料科學(xué)中,對晶體結(jié)構(gòu)和晶粒取向的深入研究對于揭示材料性能具有決定性作用。傳統(tǒng)技術(shù),如X光衍射和中子衍射,雖然能夠提供宏觀層面的晶體結(jié)構(gòu)和取向信息,但...
熱重分析儀是一種材料分析的檢測儀器,主要利用熱重發(fā)檢測物質(zhì)溫度和質(zhì)量變化,被廣泛應(yīng)用在材料科學(xué)領(lǐng)域,比如:塑料、橡膠、金屬、聚合物和高分子材料等,其基本...
氬離子拋光技術(shù)概述氬離子拋光技術(shù)是一種精密的材料表面處理方法,它通過精細調(diào)控氬離子束的深度和強度,實現(xiàn)對樣品表面的拋光,以消除表面損傷并展示材料的微觀結(jié)...
材料失效分析在材料科學(xué)和工程實踐中,失效分析扮演著至關(guān)重要的角色,它致力于探究產(chǎn)品或構(gòu)件在實際使用過程中出現(xiàn)的失效現(xiàn)象。這些現(xiàn)象可能表現(xiàn)為由多種因素引起...
濕熱試驗中的物理現(xiàn)象在進行濕熱試驗時,樣品會因為溫度和濕度的交互影響而遭受潮濕侵害。這種潮濕侵害表現(xiàn)為多種物理現(xiàn)象,包括物質(zhì)的吸附作用、液滴的形成(凝露...
熱重分析儀是通過準確測量物質(zhì)在加熱過程中的質(zhì)量變化,為研究物質(zhì)的熱穩(wěn)定性、成分分析以及反應(yīng)動力學(xué)提供了極為重要的數(shù)據(jù)支持。一、工作原理熱重分析儀的基本工...
材料老化測試的重要性材料老化測試是材料科學(xué)中的一項關(guān)鍵技術(shù),它涉及對材料在自然環(huán)境下長期使用后性能變化的預(yù)測和評估。這項技術(shù)對于橡膠、塑料、絕緣材料等的...
聚焦離子束(FIB)技術(shù)憑借其在微納米尺度加工和分析上的高精度和精細控制,已成為材料科學(xué)、納米技術(shù)和半導(dǎo)體工業(yè)等領(lǐng)域的關(guān)鍵技術(shù)。該技術(shù)通過精確操控具有特...
鎂合金微觀結(jié)構(gòu)分析:EBSD制樣技術(shù)的應(yīng)用與經(jīng)驗探討
電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)在材料科學(xué)領(lǐng)域,電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)以其卓越的晶體微區(qū)取向和結(jié)構(gòu)分析能力,已經(jīng)成為全球研究者不可或缺的工具。它不...
EBSD技術(shù)的重要地位與樣品制備基礎(chǔ)經(jīng)濟快速發(fā)展以來,電子背散射衍射技術(shù)(EBSD)便在金屬材料研究領(lǐng)域嶄露頭角,成為不可或缺的關(guān)鍵工具,有力地促進了材...
在材料科學(xué)的研究領(lǐng)域,隨著對物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)探索的不斷深入,對于樣品制備技術(shù)的要求也在不斷提高。超高分辨率電鏡(HREM)技術(shù)的發(fā)展,已經(jīng)將分辨率推進到了0...
什么是再結(jié)晶過程再結(jié)晶是一種重要的材料科學(xué)現(xiàn)象,它涉及到材料在經(jīng)歷塑性變形后的微觀結(jié)構(gòu)恢復(fù)過程。這一過程對于理解材料的性能和優(yōu)化加工工藝至關(guān)重要。再結(jié)晶...
新質(zhì)生產(chǎn)力材料 | 納米晶與鐵氧體對比
納米晶是用于控制和轉(zhuǎn)換電能的新一代先進軟磁合金。1共模電感定義:當(dāng)電流流經(jīng)電路時,扼流圈使用裝有高導(dǎo)磁率芯的電感器濾除外部干擾。共模電感利用纏繞在一個磁...
在現(xiàn)代電子產(chǎn)業(yè)中,芯片封裝作為半導(dǎo)體制造的關(guān)鍵環(huán)節(jié),不僅保護芯片免受外界環(huán)境的影響,還承擔(dān)著電氣連接、散熱、機械支撐等重要功能。而封裝的核心材料,則是實...
隨著電子技術(shù)的快速發(fā)展,高頻材料在通信、雷達、衛(wèi)星等領(lǐng)域發(fā)揮著越來越重要的作用。信號完整性是衡量高頻電路性能的關(guān)鍵指標之一。本文主要探討線路板如何選擇合...
材料故障診斷學(xué):失效分析技術(shù)失效分析技術(shù),作為材料科學(xué)領(lǐng)域內(nèi)的關(guān)鍵分支,致力于運用科學(xué)方法論來識別、分析并解決材料與產(chǎn)品在實際應(yīng)用過程中出現(xiàn)的故障問題。...
電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)在孿晶結(jié)構(gòu)分析中的應(yīng)用研究
電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)作為一種先進的材料表征手段,其在孿晶分析中的應(yīng)用日益廣泛。EBSD技術(shù)通過分析掃描電鏡中電子束與樣品表面相互作用產(chǎn)生的衍射...
雙束FIB-SEM系統(tǒng)在材料科學(xué)中的應(yīng)用
導(dǎo)語聚焦離子束掃描電鏡雙束系統(tǒng)(FIB-SEM)是一種先進的微納加工和成像技術(shù),它在材料科學(xué)研究中扮演著不可或缺的角色。FIB-SEM系統(tǒng)能夠?qū)Σ牧线M行...
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