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標(biāo)簽 > 熱阻測試
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AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn):汽車電子散熱性能的熱阻測試指南
汽車電子領(lǐng)域的散熱挑戰(zhàn)在汽車電子領(lǐng)域,隨著電子設(shè)備在車輛中的廣泛應(yīng)用,對電子器件的性能和可靠性要求也日益嚴(yán)格。AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)作為汽車電子委員會(huì)(A...
車規(guī)級 | 功率半導(dǎo)體模塊封裝可靠性試驗(yàn)-熱阻測試
在因?yàn)楣β势骷嚓P(guān)原因所引起電子系統(tǒng)失效的原因中,有超過50%是因?yàn)闇囟冗^高導(dǎo)致的熱失效。結(jié)溫過高會(huì)導(dǎo)致電子系統(tǒng)性能降低、可靠性降低、壽命降低、引發(fā)器件...
T3Ster是一款先進(jìn)的半導(dǎo)體器件封裝熱特性測試儀器,在數(shù)分鐘內(nèi)提供各類封裝的熱特性數(shù)據(jù)。T3Ster專為半導(dǎo)體、電子應(yīng)用和LED行業(yè)以及研發(fā)實(shí)驗(yàn)室的應(yīng)...
半導(dǎo)體集成電路封裝結(jié)到外殼熱阻測試方法立即下載
類別:半導(dǎo)體技術(shù)論文 2011-11-22 標(biāo)簽:集成電路半導(dǎo)體熱阻測試 972 0
探索熱阻測試儀在半導(dǎo)體器件熱管理中的應(yīng)用與前景
隨著半導(dǎo)體器件不斷向高頻、高功率、高集成度方向發(fā)展,器件的有源區(qū)工作溫升也隨之升高,導(dǎo)致性能及長期可靠性降低。為了有效進(jìn)行散熱設(shè)計(jì)和性能檢測,必須精確測...
對于半導(dǎo)體器件而言熱阻是一個(gè)非常重要的參數(shù)和指標(biāo),是影響半導(dǎo)體性能和穩(wěn)定性的重要因素。如果熱阻過大,那么半導(dǎo)體器件的熱量就無法及時(shí)散出,導(dǎo)致半導(dǎo)體器件溫...
季豐RA實(shí)驗(yàn)室最新引進(jìn)了T3Ster 瞬時(shí)熱阻量測儀、T3Ster Booster增壓穩(wěn)壓系統(tǒng)、Power Tester功率循環(huán)信賴性測試。 T3Ste...
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