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標(biāo)簽 > 高低溫測(cè)試機(jī)
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防爆型高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱用途及特點(diǎn)
此外,防爆型高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱還具備精準(zhǔn)的溫度控制和穩(wěn)定性。通過先進(jìn)的溫度控制系統(tǒng)和高精度的溫度傳感器,可以實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)和調(diào)節(jié)試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度變化,保證試驗(yàn)...
2023-06-29 標(biāo)簽:防爆試驗(yàn)箱高低溫試驗(yàn)箱 958 0
高低溫試驗(yàn)是一種環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試方法,主要用于測(cè)量物品在不同溫度條件下的性能和功能參數(shù)變化情況,以評(píng)估物品的耐用性、穩(wěn)定性和可靠性。根據(jù)試驗(yàn)溫度范圍的不...
2023-06-21 標(biāo)簽:測(cè)試設(shè)備高低溫試驗(yàn)箱 1419 0
作為檢測(cè)電子產(chǎn)品的常見設(shè)備之一,高低溫試驗(yàn)箱具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規(guī)律。主要針對(duì)于電工,電子產(chǎn)品,以及其元器件及其它材料在高溫、低溫綜合環(huán)境下運(yùn)輸,...
2023-06-14 標(biāo)簽:試驗(yàn)箱高低溫試驗(yàn)箱高低溫測(cè)試機(jī) 840 0
宏展科技通過ISO三體系認(rèn)證,開啟新篇章,共赴新征程!
宏展科技通過ISO三體系認(rèn)證
2023-05-30 標(biāo)簽:試驗(yàn)箱高低溫試驗(yàn)箱恒溫恒濕機(jī) 622 0
高低溫試驗(yàn)箱-高低溫循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備-電池高低溫可靠性測(cè)試設(shè)備
為確保實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性,該高低溫試驗(yàn)箱采用高品質(zhì)的制造工藝。內(nèi)外腔體由優(yōu)質(zhì)不銹鋼制成,其可很好地隔離冷、熱空氣。此外,在電路系統(tǒng)和控制面板等組成方面,...
2023-05-19 標(biāo)簽:試驗(yàn)箱高低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)設(shè)備 1415 0
高低溫試驗(yàn)箱是一種專門用于模擬各種溫度環(huán)境,進(jìn)行產(chǎn)品(材料)的熱性能測(cè)試的儀器設(shè)備。它具有溫度范圍廣、控制精度高、穩(wěn)定性好等特點(diǎn),因此廣泛應(yīng)用于電子...
2023-05-18 標(biāo)簽:試驗(yàn)箱高低溫試驗(yàn)箱高低溫測(cè)試機(jī) 905 0
高低溫試驗(yàn)箱的標(biāo)準(zhǔn)要求和試驗(yàn)方法
要滿足高低溫試驗(yàn)箱的標(biāo)準(zhǔn)要求,以及進(jìn)行相應(yīng)的試驗(yàn)方法。 《GB11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》是一項(xiàng)技術(shù)規(guī)范,適用于高溫試驗(yàn)箱等高溫環(huán)...
2023-05-16 標(biāo)簽:試驗(yàn)箱高低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)設(shè)備 2950 0
高低溫環(huán)境試驗(yàn)箱環(huán)境應(yīng)力值的選擇標(biāo)準(zhǔn)-貝爾試驗(yàn)箱
3、高低溫環(huán)境試驗(yàn)箱環(huán)境應(yīng)力值的選擇標(biāo)準(zhǔn) 環(huán)境測(cè)試基本采用極端條件,以苛刻代替溫和,即以產(chǎn)品在生命周期中可能遇到的稍微極端的環(huán)境條件作為測(cè)試條...
2022-09-14 標(biāo)簽:試驗(yàn)箱高低溫試驗(yàn)箱高低溫測(cè)試機(jī) 756 0
上海伯東美國 inTEST 熱流儀車規(guī)級(jí)芯片,汽車芯片高低溫沖擊測(cè)試
不同于傳統(tǒng)消費(fèi)電子產(chǎn)品, 車規(guī)芯片前期的開發(fā)及驗(yàn)證期可能長達(dá)3年, 相關(guān)研發(fā)費(fèi)用和時(shí)間成本高昂, 從而需要更快地響應(yīng)不斷變化的車輛架構(gòu)和嚴(yán)苛的產(chǎn)品上市時(shí)...
2022-06-13 標(biāo)簽:汽車芯片高低溫測(cè)試機(jī) 910 0
上海伯東美國 inTEST 熱流儀 MCU 芯片高低溫沖擊測(cè)試
上海伯東美國 inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)可以快速提供需要的模擬環(huán)境溫度, 解決了因?yàn)榄h(huán)境受限的 MCU 芯片高低溫測(cè)試難題.微控制器 MCU 芯片廣泛應(yīng)...
2022-06-13 標(biāo)簽:高低溫測(cè)試機(jī)MCU芯片 1034 0
上海伯東美國inTEST 熱流儀光通信模塊, 光纖收發(fā)器高低溫測(cè)試應(yīng)用
光通信器件在出廠前需要做元件級(jí)測(cè)試, 主要包括對(duì)光纖收發(fā)器內(nèi)部關(guān)鍵器件在電工作的電性能測(cè)試, 失效分析, 可靠性評(píng)估等, 例如溫度循環(huán)測(cè)試 Therma...
2022-06-13 標(biāo)簽:高低溫測(cè)試機(jī) 701 0
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