芯片測試程序

一、測試程序的基本概念測試程序，即被ATE（AutomaticTestEquipment，自動測試設(shè)備）識別和執(zhí)行的指令集，是集成電路測試的核心。測試程...

2024-11-16 標(biāo)簽：芯片測試ATE測試程序 277 0

IC測試基本原理與ATE測試向量生成

IC測試主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展，其規(guī)模越來越大，對電路的質(zhì)量與可靠性要求進一步提高...

2024-10-12 標(biāo)簽：芯片IC測試功能測試 1125 0

ATE測試設(shè)備：光纖連接解決方案

OM3多模光纖（Multi-ModeFiber），屬于OM系列光纖中的一種。光纖芯直徑通常為50μm，包層直徑為125μm。具有低色散和激光優(yōu)化的性能特...

2024-08-30 標(biāo)簽：光纖ATE測試設(shè)備 271 0

如何選擇和應(yīng)用機電繼電器實現(xiàn)多功能且可靠的信號切換

作者：Bill Schweber 投稿人：DigiKey 北美編輯 2024-08-20 電信和網(wǎng)絡(luò)設(shè)備、自動測試設(shè)備 (ATE) 和安全設(shè)備等應(yīng)用越來...

2024-10-02 標(biāo)簽：繼電器射頻ATE 334 0

如何顯著提高ATE電源吞吐量？

作為一名測試工程師，你的工作并不容易。降低成本和提高系統(tǒng)吞吐量的壓力一直存在。本文中，我們將討論影響系統(tǒng)吞吐量的關(guān)鍵因素以及如何降低ATE測試成本。

2023-11-08 標(biāo)簽：電源吞吐量ATE 724 0

聊聊IC測試機（4）DFT PLL向量，ATE怎么用？

自動測試設(shè)備 (ATE)對PLL（鎖相環(huán)）進行測試時，我們首先要明白PLL在系統(tǒng)級芯片（SoC）中的重要性。

2023-11-01 標(biāo)簽：鎖相環(huán)DFTATE 2492 0

聊聊IC測試機（3）基于ATE的IC測試原理、方法及故障分析

本文以ATE為基礎(chǔ)，討論了 集成電路測試的基本原理和測試方法，并進行了故 障分析.

2023-11-01 標(biāo)簽：濾波電容輸出電壓PSRR 2166 0

聊聊IC測試機（1）ATE/ATS內(nèi)部結(jié)構(gòu)簡介

ATE(Auto Test Equipment) 在測試工廠完成. 大致是給芯片的輸入管道施加所需的激勵信號，同時監(jiān)測芯片的輸出管腳，看其輸出信號是否是...

2023-11-01 標(biāo)簽：控制器適配器DSP芯片 4615 0

ATE如何測試PLL

兩種方法： 時域和頻域測試，如下： ?方法1. ATE time measurement unit （ TMU）測試。（時域，需要額外的TMU lice...

2023-10-30 標(biāo)簽：測試ICpll 1181 0

測試向量是什么意思

測試向量及其生成 測試向量（Test Vector）的一個基本定義是：測試向量是每個時鐘周期應(yīng)用于器件管腳的用于測試或者操作的邏輯1和邏輯0數(shù)據(jù)。 這一...

2023-10-30 標(biāo)簽：測試IC測量 3461 0

ATE/ATS內(nèi)部結(jié)構(gòu)簡介

ATE/ATS：自動測試設(shè)備/自動測試系統(tǒng)，也稱測試機是測試工程師在IC測試中必須使用的工具，本文主要從技術(shù)層面對ATE/ATS的組成及軟硬件及其接口要...

2023-10-30 標(biāo)簽：測試IC儀器 1565 0

IT8500G+升級版可編程直流電子負(fù)載解決方案

傳統(tǒng)電源測試，需要工程師手動設(shè)置直流電子負(fù)載的參數(shù)進行拉載測試，人工記錄電源在不同負(fù)載狀態(tài)下的輸出參數(shù)，再由操作者根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)判斷電源是否合格，測試效率極其...

2023-08-23 標(biāo)簽：示波器電子負(fù)載電源測試 1040 0

基于新型MEMS開關(guān)提高SoC測試能力及系統(tǒng)產(chǎn)出

本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開關(guān)如何助力一次性通過單插入測試，以幫助進行DC參數(shù)測試和高速數(shù)字測試，從而降低測試成本，簡化數(shù)字/RF片...

2023-07-10 標(biāo)簽：ATEMEMS開關(guān)寬帶寬 557 0

ATE引腳電子器件的電平設(shè)置DAC校準(zhǔn)

本文提供一種校準(zhǔn)數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)的方法，專用于引腳電子器件驅(qū)動器、比較器、負(fù)載、PMU和DPS。

2023-07-11 標(biāo)簽：dac電子器件ATE 779 0

一種創(chuàng)建雙輸出電壓軌的方法

本文詳細(xì)介紹一種創(chuàng)建雙輸出電壓軌的方法，該方法能為設(shè)備電源(DPS)提供正負(fù)電壓軌，并且只需要一個雙向電源。傳統(tǒng)的設(shè)備電源供電方法使用兩個雙向（拉電流和...

2023-07-14 標(biāo)簽：輸出電壓ATE機械設(shè)備 705 0

預(yù)算有限的自動測試設(shè)備

電子設(shè)備測試的復(fù)雜性差異很大，從最簡單的類型（手動測試）到最復(fù)雜的大型自動測試設(shè)備（ATE）。在簡單的手動測試和大規(guī)模ATE之間，是低預(yù)算和中等規(guī)模的測...

2023-03-28 標(biāo)簽：電源隔離器ATE 1393 0