深度解讀基于ATE的IC測試技術

在IC的測試中，電壓的測試是所有測試參數中最為常見的一種參數，尤其是模擬芯片的測試，電壓測試更顯常見及重要，如：LDO、LED驅動、音頻功放、運放、馬達...

2017-10-27 標簽：繼電器ateic測試技術 1.9萬 0

對于ATE測試儀器儀表，典型測試設備系統設計

由于待測器件（DUT）的復雜性提高，通道/引腳數量和功能增加，因而測試類型和所需測試數量也隨之增加。并且每個器件評估需要進行數百項測試，特別是在自動測試...

2018-07-16 標簽：測試測量adiMEMS 1.6萬 0

如何獲取除了數據手冊以外的ADC芯片數據

設計中選擇高分辨率ADC時，經常需要了解一些數據手冊中通常可能不會公布的特性數據，例如，全部代碼范圍內的轉換器噪聲性能。在數據手冊中，您不一定能找到這一...

2018-11-25 標簽：MSPSADCATE 6198 0

基于Microchip的53100A相位噪聲分析儀

Microchip的53100A相位噪聲分析儀是一種非常高質量和高性能的工具（圖1），可以測量射頻源的幅度，相位和頻率穩定性。它的測量范圍很寬，介于1 ...

2021-05-07 標簽：dsp振蕩器cpu 5975 0

聊聊IC測試機（1）ATE/ATS內部結構簡介

ATE(Auto Test Equipment) 在測試工廠完成. 大致是給芯片的輸入管道施加所需的激勵信號，同時監測芯片的輸出管腳，看其輸出信號是否是...

2023-11-01 標簽：控制器適配器DSP芯片 4626 0

測試向量是什么意思

測試向量及其生成 測試向量（Test Vector）的一個基本定義是：測試向量是每個時鐘周期應用于器件管腳的用于測試或者操作的邏輯1和邏輯0數據。 這一...

2023-10-30 標簽：測試IC測量 3471 0

聊聊IC測試機（4）DFT PLL向量，ATE怎么用？

自動測試設備 (ATE)對PLL（鎖相環）進行測試時，我們首先要明白PLL在系統級芯片（SoC）中的重要性。

2023-11-01 標簽：鎖相環DFTATE 2498 0

ATEstar通用測試平臺管理系統

采用通用性和多線程的設計思想，研制一種通用測試平臺管理系統，具體實現分為配置和運行兩大部分。配置包括數據輸入定義和顯示存儲定義等功能。運行根據配置參數按...

2018-05-23 標簽：ate 2434 0

基于ATE高效測量射頻到基帶噪聲指數詳解

噪聲指數（Noise Figure）主要測量的是組件的信噪比（Signal-to-noise Ratio， SNR）性能，信噪比是誤碼率（BER）和載波...

2018-05-23 標簽：ate 2302 0

ATE系統助力多維度打造穩定高效的自動測試設備

多維度入手打造穩定高效的自動測試設備，迎接集成電路融合時代的機遇與挑戰 5G、人工智能、新能源等新技術的成熟驅動各行業加速數字化轉型落地，從而持續推動全...

2022-07-04 標簽：集成電路自動測試ATE 2243 1

聊聊IC測試機（3）基于ATE的IC測試原理、方法及故障分析

本文以ATE為基礎，討論了 集成電路測試的基本原理和測試方法，并進行了故 障分析.

2023-11-01 標簽：濾波電容輸出電壓PSRR 2173 0

ATE/ATS內部結構簡介

ATE/ATS：自動測試設備/自動測試系統，也稱測試機是測試工程師在IC測試中必須使用的工具，本文主要從技術層面對ATE/ATS的組成及軟硬件及其接口要...

2023-10-30 標簽：測試IC儀器 1569 0

預算有限的自動測試設備

電子設備測試的復雜性差異很大，從最簡單的類型（手動測試）到最復雜的大型自動測試設備（ATE）。在簡單的手動測試和大規模ATE之間，是低預算和中等規模的測...

2023-03-28 標簽：電源隔離器ATE 1394 0