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標(biāo)簽 > ate
ATE是Automatic Test Equipment的縮寫,于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)意指集成電路(IC)自動(dòng)測試機(jī),用于檢測集成電路功能之完整性, 為集成電路生產(chǎn)制造之最后流程, 以確保集成電路生產(chǎn)制造之品質(zhì)。
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基于特征點(diǎn)法的視覺SLAM系統(tǒng)很難應(yīng)用于稠密建圖,且容易丟失動(dòng)態(tài)對象。而基于直接法的SLAM系統(tǒng)會(huì)跟蹤圖像幀之間的所有像素,因此在動(dòng)態(tài)稠密建圖方面可以取...
為數(shù)據(jù)處理、網(wǎng)絡(luò)、便攜式、可穿戴和其他計(jì)算應(yīng)用設(shè)計(jì)并優(yōu)化電源解決方案,需要對電壓和電流進(jìn)行精確、寬帶、高動(dòng)態(tài)范圍的測量。
2023-02-23 標(biāo)簽:濾波器MSPS數(shù)字信號電平 1066 0
半導(dǎo)體測試行業(yè)的相關(guān)術(shù)語
ATE = Automatic Test Equipment. 是自動(dòng)化測試設(shè)的縮寫,于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)意指集成電路(IC)自動(dòng)測試機(jī), 用于檢測集成電路功能...
一種動(dòng)態(tài)環(huán)境下的直接視覺里程計(jì)
其一是實(shí)際環(huán)境中的動(dòng)態(tài)物體不一定被預(yù)訓(xùn)練,另一是算法無法區(qū)分"動(dòng)態(tài)物體"和"靜止但可能移動(dòng)的物體"。
自動(dòng)測試設(shè)備(ATE)系統(tǒng)中選擇器件電源(DPS)IC的指南
器件電源(DPS) IC具有靈活的電壓驅(qū)動(dòng)和電流驅(qū)動(dòng)容量,能夠?yàn)樽詣?dòng)測試設(shè)備(ATE)提供動(dòng)態(tài)測試能力。當(dāng)負(fù)載電流介于兩個(gè)設(shè)定限流值之間時(shí),DPS IC...
如何校準(zhǔn)ATE引腳電子設(shè)備的電平設(shè)置DAC
以下是如何通過增益和偏移調(diào)整了解其功能、誤差和校準(zhǔn)來校準(zhǔn) ATE 引腳電子器件的電平設(shè)置 DAC。
2022-08-10 標(biāo)簽:dac數(shù)模轉(zhuǎn)換器ATE 1279 0
ATE系統(tǒng)助力多維度打造穩(wěn)定高效的自動(dòng)測試設(shè)備
多維度入手打造穩(wěn)定高效的自動(dòng)測試設(shè)備,迎接集成電路融合時(shí)代的機(jī)遇與挑戰(zhàn) 5G、人工智能、新能源等新技術(shù)的成熟驅(qū)動(dòng)各行業(yè)加速數(shù)字化轉(zhuǎn)型落地,從而持續(xù)推動(dòng)全...
2022-07-04 標(biāo)簽:集成電路自動(dòng)測試ATE 2243 1
如何獲取除了數(shù)據(jù)手冊以外的ADC芯片數(shù)據(jù)
設(shè)計(jì)中選擇高分辨率ADC時(shí),經(jīng)常需要了解一些數(shù)據(jù)手冊中通??赡懿粫?huì)公布的特性數(shù)據(jù),例如,全部代碼范圍內(nèi)的轉(zhuǎn)換器噪聲性能。在數(shù)據(jù)手冊中,您不一定能找到這一...
對于ATE測試儀器儀表,典型測試設(shè)備系統(tǒng)設(shè)計(jì)
由于待測器件(DUT)的復(fù)雜性提高,通道/引腳數(shù)量和功能增加,因而測試類型和所需測試數(shù)量也隨之增加。并且每個(gè)器件評估需要進(jìn)行數(shù)百項(xiàng)測試,特別是在自動(dòng)測試...
采用通用性和多線程的設(shè)計(jì)思想,研制一種通用測試平臺管理系統(tǒng),具體實(shí)現(xiàn)分為配置和運(yùn)行兩大部分。配置包括數(shù)據(jù)輸入定義和顯示存儲定義等功能。運(yùn)行根據(jù)配置參數(shù)按...
2018-05-23 標(biāo)簽:ate 2434 0
ATE自動(dòng)化測試系統(tǒng)是什么_ATE自動(dòng)化測試系統(tǒng)介紹
本文首先介紹了ATE自動(dòng)化測試系統(tǒng)發(fā)展線路,其次闡述了ATE自動(dòng)化測試系統(tǒng)的作用及原理、特點(diǎn)、優(yōu)勢,最后介紹了ATE自動(dòng)化測試系統(tǒng)的功能、功能平臺及使用領(lǐng)域。
2018-05-23 標(biāo)簽:ate自動(dòng)化測試系統(tǒng) 3.2萬 0
噪聲指數(shù)(Noise Figure)主要測量的是組件的信噪比(Signal-to-noise Ratio, SNR)性能,信噪比是誤碼率(BER)和載波...
2018-05-23 標(biāo)簽:ate 2301 0
在IC的測試中,電壓的測試是所有測試參數(shù)中最為常見的一種參數(shù),尤其是模擬芯片的測試,電壓測試更顯常見及重要,如:LDO、LED驅(qū)動(dòng)、音頻功放、運(yùn)放、馬達(dá)...
2017-10-27 標(biāo)簽:繼電器ateic測試技術(shù) 1.9萬 0
自動(dòng)測試設(shè)備(ATE)系統(tǒng)中的示波器需求
在測試電子器件時(shí),很難不提到示波器所具有的通用性。為了對電子電路進(jìn)行驗(yàn)證,工程師需要能夠查看和測量其設(shè)計(jì)中的信號。自動(dòng)測試設(shè)備(ATE)通常不提供大量可...
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