如何校準ATE引腳電子設備的電平設置DAC

以下是如何通過增益和偏移調整了解其功能、誤差和校準來校準 ATE 引腳電子器件的電平設置 DAC。

2022-08-10 標簽：dac數模轉換器ATE 1279 0

ATE如何測試PLL

兩種方法： 時域和頻域測試，如下： ?方法1. ATE time measurement unit （ TMU）測試。（時域，需要額外的TMU lice...

2023-10-30 標簽：測試ICpll 1182 0

IC測試基本原理與ATE測試向量生成

IC測試主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區分開，保證產品的質量與可靠性。隨著集成電路的飛速發展，其規模越來越大，對電路的質量與可靠性要求進一步提高...

2024-10-12 標簽：芯片IC測試功能測試 1141 0

IT8500G+升級版可編程直流電子負載解決方案

傳統電源測試，需要工程師手動設置直流電子負載的參數進行拉載測試，人工記錄電源在不同負載狀態下的輸出參數，再由操作者根據標準判斷電源是否合格，測試效率極其...

2023-08-23 標簽：示波器電子負載電源測試 1040 0

ATE引腳電子器件的電平設置DAC校準

本文提供一種校準數模轉換器(DAC)的方法，專用于引腳電子器件驅動器、比較器、負載、PMU和DPS。

2023-07-11 標簽：dac電子器件ATE 780 0

如何顯著提高ATE電源吞吐量？

作為一名測試工程師，你的工作并不容易。降低成本和提高系統吞吐量的壓力一直存在。本文中，我們將討論影響系統吞吐量的關鍵因素以及如何降低ATE測試成本。

2023-11-08 標簽：電源吞吐量ATE 725 0

一種創建雙輸出電壓軌的方法

本文詳細介紹一種創建雙輸出電壓軌的方法，該方法能為設備電源(DPS)提供正負電壓軌，并且只需要一個雙向電源。傳統的設備電源供電方法使用兩個雙向（拉電流和...

2023-07-14 標簽：輸出電壓ATE機械設備 705 0

基于新型MEMS開關提高SoC測試能力及系統產出

本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開關如何助力一次性通過單插入測試，以幫助進行DC參數測試和高速數字測試，從而降低測試成本，簡化數字/RF片...

2023-07-10 標簽：ATEMEMS開關寬帶寬 557 0

如何選擇和應用機電繼電器實現多功能且可靠的信號切換

作者：Bill Schweber 投稿人：DigiKey 北美編輯 2024-08-20 電信和網絡設備、自動測試設備 (ATE) 和安全設備等應用越來...

2024-10-02 標簽：繼電器射頻ATE 336 0

芯片測試程序

一、測試程序的基本概念測試程序，即被ATE（AutomaticTestEquipment，自動測試設備）識別和執行的指令集，是集成電路測試的核心。測試程...

2024-11-16 標簽：芯片測試ATE測試程序 281 0

ATE測試設備：光纖連接解決方案

OM3多模光纖（Multi-ModeFiber），屬于OM系列光纖中的一種。光纖芯直徑通常為50μm，包層直徑為125μm。具有低色散和激光優化的性能特...

2024-08-30 標簽：光纖ATE測試設備 271 0