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搜索引擎營(yíng)銷：英文Search Engine Marketing ，我們通常簡(jiǎn)稱為“SEM”。簡(jiǎn)單來說，搜索引擎營(yíng)銷就是基于搜索引擎平臺(tái)的網(wǎng)絡(luò)營(yíng)銷，利用人們對(duì)搜索引擎的依賴和使用習(xí)慣，在人們檢索信息的時(shí)候?qū)⑿畔鬟f給目標(biāo)用戶。

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掃描電鏡工作原理

電子束與樣品相互作用的深入解析掃描電子顯微鏡（SEM）是一種先進(jìn)的儀器，用于觀察和分析材料表面的微觀結(jié)構(gòu)。該設(shè)備通過電子槍發(fā)射的電子束，經(jīng)過電磁透鏡的聚...

2024-11-07 標(biāo)簽：SEM 儀器掃描電鏡 370 0

SEM方法分析BlackPad的優(yōu)缺點(diǎn)

目前以ENIG為表面處理方式所占比例較大,ENIG金屬Ni層以NiP成份為主，在生產(chǎn)中易發(fā)生鎳腐蝕（后面稱blackpad）。

2023-11-10 標(biāo)簽：SEM 369 0

聚焦離子束一電子束(FIB-SEM)雙束系統(tǒng)原理

納米科技是當(dāng)前科學(xué)研究的前沿領(lǐng)域，納米測(cè)量學(xué)和納米加工技術(shù)在其中扮演著至關(guān)重要的角色。電子束和離子束等工藝是實(shí)現(xiàn)納米尺度加工的關(guān)鍵手段。特別是聚焦離子束...

2024-11-14 標(biāo)簽：SEM fib 電子束 336 0

鋰電池電極片微觀結(jié)構(gòu)：氬離子拋光SEM電鏡測(cè)試效果展示

在現(xiàn)代材料科學(xué)和工程領(lǐng)域，對(duì)材料微觀結(jié)構(gòu)的精確分析是至關(guān)重要的。特別是在鋰電池技術(shù)迅速發(fā)展的今天，對(duì)電極片的微觀結(jié)構(gòu)分析是優(yōu)化電池性能和壽命的關(guān)鍵。氬離...

2024-11-11 標(biāo)簽：鋰電池 SEM 電鏡 314 0

場(chǎng)發(fā)射電鏡（FESEM）應(yīng)用領(lǐng)域及案例分析

1?設(shè)備型號(hào)3臺(tái)和FIB聯(lián)用為雙束聚焦離子束顯微鏡（FIB-SEM），能夠?yàn)榭蛻籼峁I(yè)的材料分析服務(wù)。2?原理場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一種采用尖端肖特基熱場(chǎng)發(fā)...

2024-11-14 標(biāo)簽：SEM 顯微鏡電鏡 270 0

三維電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)：FIB-SEM與EBSD的結(jié)合應(yīng)用案例

三維電子背散射衍射技術(shù)（3D-EBSD）在材料科學(xué)領(lǐng)域，對(duì)材料的微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行精確分析是至關(guān)重要的。傳統(tǒng)的電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)主要提供樣品表面的...

2024-11-29 標(biāo)簽：SEM fib 三維電子 269 0

鈦合金微觀結(jié)構(gòu)表征：EBSD制樣技術(shù)的應(yīng)用與經(jīng)驗(yàn)分析

EBSD技術(shù)的進(jìn)步電子背散射衍射技術(shù)（EBSD）在材料科學(xué)領(lǐng)域扮演著越來越重要的角色。它允許科學(xué)家在掃描電子顯微鏡（SEM）下進(jìn)行顯微形貌、成分和晶體取...

2024-12-20 標(biāo)簽：SEM 顯微鏡 260 0

電子背散射衍射技術(shù)（EBSD）：原理、測(cè)試方法與應(yīng)用領(lǐng)域

電子背散射衍射電子背散射衍射技術(shù)（EBSD），作為一種尖端的材料分析手段，融合了掃描電子顯微鏡（SEM）的精細(xì)成像與電子衍射的晶體學(xué)分析技術(shù)。電子束與樣...

2024-12-02 標(biāo)簽：探測(cè)器 SEM 顯微鏡 245 0

FIB-SEM方法分析BlackPad的優(yōu)缺點(diǎn)

BlackPad簡(jiǎn)介目前以ENIG為表面處理方式所占比例較大，ENIG金屬Ni層以NiP成分為主，在生產(chǎn)中易發(fā)生鎳腐蝕（后面稱blackpad）。退金后...

2024-11-29 標(biāo)簽：SEM fib 電鏡 230 0

探索掃描電子顯微鏡下的能譜分析技術(shù)（EDX）

掃描電子顯微鏡（SEM）以其在納米級(jí)別解析樣品的能力而聞名，它通過電子束與樣品的交互來收集信息。除了常見的背散射電子（BSE）和二次電子（SE）信號(hào)外，...

2024-12-24 標(biāo)簽：SEM 顯微鏡電子束 226 0

詳細(xì)解讀——FIB-SEM技術(shù)(聚焦離子束)制備透射電鏡(TEM)樣品

子束技術(shù)概述聚焦離子束技術(shù)是一種先進(jìn)的納米加工技術(shù)，它通過靜電透鏡將離子束精確聚焦至2至3納米的束寬，對(duì)材料表面進(jìn)行精細(xì)的加工處理。這項(xiàng)技術(shù)能夠?qū)崿F(xiàn)材料...

2024-12-25 標(biāo)簽：SEM fib 離子束 221 0

FIB技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域及工作原理解析

集成化微納加工平臺(tái)雙束聚焦離子束-掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）系統(tǒng)代表了微納加工技術(shù)的前沿，它巧妙地融合了單束FIB和SEM的優(yōu)勢(shì)，為用戶提供了一個(gè)...

2024-11-27 標(biāo)簽：SEM 顯微鏡 fib 210 0

FIB系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)及其實(shí)際應(yīng)用

雙束技術(shù)：FIB與SEM的協(xié)同工作雙束聚焦離子束顯微鏡的關(guān)鍵在于其雙束技術(shù)，離子束（FIB）用于樣品的精確切割和蝕刻，而電子束（SEM）則捕捉樣品的高分...

2024-12-30 標(biāo)簽：SEM fib 電子束 158 0

氬離子拋光：揭示材料微觀結(jié)構(gòu)

氬離子拋光技術(shù)概述氬離子拋光技術(shù)是一種精密的材料表面處理方法，它通過精細(xì)調(diào)控氬離子束的深度和強(qiáng)度，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品表面的拋光，以消除表面損傷并展示材料的微觀結(jié)...

2024-12-25 標(biāo)簽：材料 SEM 顯微鏡 157 0

氬離子拋光技術(shù)解析及其核心應(yīng)用功能

氬離子拋光技術(shù)是一種精密的表面處理工藝，它通過氬離子束的物理作用，對(duì)樣品表面進(jìn)行細(xì)致的平滑和拋光。這種技術(shù)在提升樣品表面質(zhì)量方面發(fā)揮著關(guān)鍵作用，特別是在...

2024-12-30 標(biāo)簽：SEM 表面處理電子顯微鏡 155 0

獲得良好的衍射圖譜的前提是制備出優(yōu)質(zhì)的EBSD樣品

電子背散射衍射技術(shù)（EBSD）在材料科學(xué)領(lǐng)域，電子背散射衍射技術(shù)（EBSD）自20世紀(jì)90年代末期以來，已經(jīng)成為一種創(chuàng)新且不可或缺的分析工具。EBSD技...

2025-01-03 標(biāo)簽：SEM 電子束電子顯微鏡 152 0

掃描電鏡與氬離子拋光技術(shù)在樣品成分分析的作用

功能材料分析的關(guān)鍵工具場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）是現(xiàn)代科學(xué)研究中不可或缺的工具，尤其在功能材料分析、微納結(jié)構(gòu)觀測(cè)以及結(jié)構(gòu)組分分析等領(lǐng)域。高分辨場(chǎng)發(fā)射...

2024-12-31 標(biāo)簽：SEM 離子掃描電鏡 124 0

電子顯微鏡下的納米世界

在當(dāng)今時(shí)代，納米科學(xué)因其在眾多行業(yè)中引發(fā)的變革性應(yīng)用，已然成為促進(jìn)人類文明向前發(fā)展的重要驅(qū)動(dòng)力。無論是在生物醫(yī)學(xué)、能源存儲(chǔ)還是航空宇宙領(lǐng)域，納米技術(shù)都展...

2025-01-02 標(biāo)簽：SEM 電子束電子顯微鏡 111 0

FIB-SEM技術(shù)全解析：原理與應(yīng)用指南

聚焦離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）雙束系統(tǒng)是一種集成了聚焦離子束（FIB）和掃描電子顯微鏡（SEM）功能的高科技分析儀器。它通過結(jié)合氣體沉積裝置...

2025-01-06 標(biāo)簽：SEM 顯微鏡 fib 107 0

一文帶你讀懂EBSD

電子背散射衍射（ElectronBackscatterDiffraction，簡(jiǎn)稱EBSD）技術(shù)是一種基于掃描電子顯微鏡（SEM）的顯微分析技術(shù)，它能夠...

2025-01-14 標(biāo)簽：SEM 顯微鏡電子束 87 0

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RISC-V是一個(gè)基于精簡(jiǎn)指令集（RISC）原則的開源指令集架構(gòu)（ISA），重點(diǎn)在于它是開源的，這是與另外兩個(gè)主流架構(gòu)英特爾的 X86和軟銀的Arm最大區(qū)別。
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梁孟松他是加州大學(xué)柏克萊分校電機(jī)博士，畢業(yè)后曾在美國(guó)處理器大廠AMD工作幾年，在四十歲那年加入臺(tái)積電，后來到三星，現(xiàn)在為中芯國(guó)際執(zhí)行長(zhǎng)。
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