UltraSoC日前宣布：公司已與SEGGER達(dá)成合作伙伴關(guān)系，以在UltraSoC集成化的系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）監(jiān)測(cè)和分析環(huán)境中為J-Link調(diào)試探針提供支持。SEGGER的J-Link探針是業(yè)界
2018-08-06 14:04:47
4833 等離子電弧的熱量使工件切口處的金屬局部熔化（和蒸發(fā)），并借高速等離子的動(dòng)量排除熔融金屬以形成切口的一種加工方法。2.電子探針 電子探針儀是X射線光譜學(xué)與電子光學(xué)技術(shù)相結(jié)合而產(chǎn)生的,以聚焦的高速電子
2017-05-31 16:39:21
、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。適用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析，抽查測(cè)試等用途。手動(dòng)探針臺(tái)應(yīng)用領(lǐng)域：Failure analysis集成電路失效分析 Wafer levelreliability晶元
2020-02-10 14:28:15
。適用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析，抽查測(cè)試等用途。探針臺(tái)的功能都有哪些？1.集成電路失效分析2.晶圓可靠性認(rèn)證3.元器件特性量測(cè)4.塑性過(guò)程測(cè)試(材料特性分析)5.制程監(jiān)控6.IC封裝階段打線品質(zhì)測(cè)試7.液晶面板
2023-05-31 10:29:33
測(cè)試中我們利用40GHz頻率范圍的N5244A PNA-X矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和PLTS物理層分析軟件，能夠?qū)?b class="flag-6" style="color: red">探針的性能做全方位的測(cè)試和分析，從而作為判斷探針質(zhì)量的一個(gè)依據(jù)。首先利用PNAX和電子校準(zhǔn)件
2019-07-18 08:14:37
當(dāng)我嘗試在8up面板上運(yùn)行探針選擇時(shí)，它會(huì)啟動(dòng)，在分析了1或2個(gè)節(jié)點(diǎn)后，它會(huì)給我以下錯(cuò)誤：選擇板“WPAN_R243％1”節(jié)點(diǎn)“1％U3-43”的探針是無(wú)法訪問(wèn)，因?yàn)樗鼪](méi)有可訪問(wèn)的探測(cè)位置。有關(guān)
2019-10-22 09:38:35
的共同電壓； 差分范圍是指探針兩個(gè)針尖之間的擺幅大小。 如果系統(tǒng)接地，則單端探針不能直接測(cè)量高端，但有些方法可供使用——示例，標(biāo)準(zhǔn)探針示波器的一個(gè)1 MΩ探針上允許的電壓低于250 Vrms，總線電壓為
2018-04-21 14:55:17
兩條引線之間的共同電壓；·差分范圍是指探針兩個(gè)針尖之間的擺幅大小。 如果系統(tǒng)接地，則單端探針不能直接測(cè)量高端，但有些方法可供使用——示例，標(biāo)準(zhǔn)探針示波器的一個(gè)1 MΩ探針上允許的電壓低于250 Vrms
2019-09-16 05:50:21
在電子器件的高速發(fā)展過(guò)程中，電子元器件的總功率密度也不斷的增大，但是其尺寸卻越來(lái)越較小，熱流密度就會(huì)持續(xù)增加，在這種高溫的環(huán)境中勢(shì)必會(huì)影響電子元器件的性能指標(biāo)，對(duì)此，必須要加強(qiáng)對(duì)電子元器件的熱控制。如何解決電子元器件的散熱問(wèn)題是現(xiàn)階段的重點(diǎn)。對(duì)此，文章主要對(duì)電子元器件的散熱方法進(jìn)行了簡(jiǎn)單的分析。
2019-08-27 14:59:24
電子探針的原理是用細(xì)聚焦電子束入射樣品表面。激發(fā)出樣品元素的特征X射線，分析特征X射線的波長(zhǎng)（或特征能量）即可知道樣品中所含元素的種類（定性分析），分析X射線的強(qiáng)度，則可知道樣品中對(duì)應(yīng)元素含量的多少（定量分析）。
2020-04-08 09:00:14
E2409C英特爾80C286分析探針
2019-03-15 07:50:53
E2494S奔騰II移動(dòng)模塊或處理器產(chǎn)品概述分析探針
2019-03-28 10:53:34
、機(jī)械電氣性能優(yōu)越、可靠性高、測(cè)試壽命長(zhǎng)等特點(diǎn)。從產(chǎn)品用途來(lái)分，分為三大類：1、IPEX和SWITCH 系列測(cè)試探針里庫(kù)電子IPEX和SWITCH 系列測(cè)試探針，主要用于IPEX 1代到5代以及相對(duì)
2019-07-25 14:21:01
點(diǎn)擊學(xué)習(xí)>>《龍哥手把手教你學(xué)LabVIEW視覺(jué)設(shè)計(jì)》視頻教程1. 斷點(diǎn) 斷點(diǎn)和探針是調(diào)試 LabVIEW 代碼時(shí)最常用的兩個(gè)工具。LabVIEW 中的斷點(diǎn)在使用和功能上都比
2015-01-29 17:17:14
N4217A數(shù)據(jù)包分析探針數(shù)據(jù)表
2019-07-10 06:27:56
如題！貌似測(cè)量探針就可以測(cè)出電流值，但要是把電流探針放入電路，仿真就會(huì)出錯(cuò)...無(wú)語(yǔ)啦啦啦..........
2011-05-26 16:06:28
平臺(tái)和機(jī)器視覺(jué)攝像機(jī)等應(yīng)用需要傳輸來(lái)自安裝在極小的探針尖端上的傳感器的高分辨率圖像數(shù)據(jù)，而該探針尖端通過(guò)極細(xì)的電纜與視頻采集和分析系統(tǒng)相連。來(lái)自視頻采集系統(tǒng)的控制信息同時(shí)流回到探針尖端，從而提供了一種通過(guò)傾斜和縮放等控制手段來(lái)控制探針尖端位置的方法。圖1展示了工業(yè)移動(dòng)機(jī)器人這類基于視覺(jué)的控制系統(tǒng)…
2022-11-04 07:09:18
本實(shí)驗(yàn)用七孔探針測(cè)量不同三角翼布局上，不同剖面位置的空間流場(chǎng)。分析三角翼渦升力的產(chǎn)生原因，前緣渦沿弦向方向的發(fā)展，以及不同布局三角翼前緣集中渦的差別和對(duì)氣動(dòng)特性的影響。
2019-05-06 09:08:02
）, 日本電子 4 、EMMI微光顯微鏡/OBIRCH鐳射光束誘發(fā)阻抗值變化測(cè)試/LC 液晶熱點(diǎn)偵測(cè)(這三者屬于常用漏電流路徑分析手段,尋找發(fā)熱點(diǎn)，LC要借助探針臺(tái)，示波器） 5 、FIB 線路修改，切線
2020-02-11 09:58:39
ICT測(cè)試治具的使用通常需要用到探針，而探針是電測(cè)試的接觸媒介，是一種高端精密型電子五金元器件。那么ICT測(cè)試治具的探針類型主要有哪幾種呢？選用探針主要是根據(jù)ict測(cè)試治具線路板的中心距和被測(cè)點(diǎn)
2016-02-23 13:50:27
UltraSoC日前宣布：公司已與SEGGER達(dá)成合作伙伴關(guān)系，以在UltraSoC集成化的系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）監(jiān)測(cè)和分析環(huán)境中為J-Link調(diào)試探針提供支持。SEGGER的J-Link探針是業(yè)界
2019-10-21 08:00:38
ICT測(cè)試治具的使用通常需要用到探針，而探針是電測(cè)試的接觸媒介，是一種高端精密型電子五金元器件。那么ICT測(cè)試治具的探針類型主要有哪幾種呢？選用探針主要是根據(jù)ict測(cè)試治具線路板的中心距和被測(cè)點(diǎn)
2016-02-23 11:26:56
儀器儀表電子電路故障常用分析方法有哪些？
2021-05-10 07:03:21
四探針電阻率測(cè)試儀測(cè)試四探針筆的方法是什么？使用四探針電阻率測(cè)試儀有哪些注意事項(xiàng)？
2021-05-08 07:12:20
、改進(jìn)，產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。其方法分為有損分析，無(wú)損分析，物理分析，化學(xué)分析等 北軟檢測(cè)失效分析失效分析的意義：分析機(jī)械零器件失效原因，為事故責(zé)任認(rèn)定、偵破刑事犯罪
2020-05-15 10:49:58
，飛行時(shí)間質(zhì)譜TOF － SIMS ，透射電鏡TEM ， 場(chǎng)發(fā)射電鏡，場(chǎng)發(fā)射掃描俄歇探針， X 光電子能譜XPS ，L-I-V測(cè)試系統(tǒng)，能量損失 X 光微區(qū)分析系統(tǒng)等很多手段，不過(guò)這些項(xiàng)目不是很常用
2020-03-28 12:15:30
1：影響探針使用壽命的主要因素測(cè)試探針的行程是否過(guò)壓，是否存在側(cè)面力介入，通過(guò)的測(cè)試電流是否大于額定值等等2：怎么使用能使探針的壽命最大化測(cè)試探針按照推薦的使用行程使用，保證探針在設(shè)備上是垂直伸縮
2019-07-22 17:39:39
在很多PCB板、晶圓的測(cè)試中，高頻探針是一個(gè)必不可少的探測(cè)工具。特別是高速數(shù)字電路板、微波芯片的測(cè)試中，對(duì)于探針的阻抗、損耗等都有非常高的要求。那么問(wèn)題來(lái)了，探針本身的性能好壞如何衡量？
2019-08-09 06:26:54
學(xué)習(xí)電路分析基本方法和電子電路圖種類
2012-08-16 16:57:57
射頻探針的發(fā)展射頻（RF）探針在射頻產(chǎn)品生命周期中幾乎每一個(gè)階段都起著重要作用：從技術(shù)開發(fā)，模型參數(shù)提取，設(shè)計(jì)驗(yàn)證及調(diào)試一直到小規(guī)模生產(chǎn)測(cè)試和最終的生產(chǎn)測(cè)試。通過(guò)使用射頻探針，人們便有可能在晶片層次
2019-07-17 08:09:01
電氣性能優(yōu)越、可靠性高、測(cè)試壽命長(zhǎng)等特點(diǎn)。從產(chǎn)品用途來(lái)分，分為三大類：1、IPEX和SWITCH 系列測(cè)試探針里庫(kù)電子IPEX和SWITCH 系列測(cè)試探針，主要用于IPEX 1代到5代以及相對(duì)
2019-12-18 17:32:00
失效分析是芯片測(cè)試重要環(huán)節(jié)，無(wú)論對(duì)于量產(chǎn)樣品還是設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)亦或是客退品，失效分析可以幫助降低成本，縮短周期。常見(jiàn)的失效分析方法有Decap，X-RAY，SAT，IV，EMMI，F(xiàn)IB，SEM，EDX
2020-09-01 16:19:23
量化誤差而產(chǎn)生的采樣率或平均數(shù)。測(cè)量方法（二）1. 測(cè)量設(shè)備和裝置振蕩電路光譜分析儀天線 (可以用作天線的同軸電纜)2. 按照下圖準(zhǔn)備測(cè)量設(shè)備。3. 讓天線盡可能靠近振蕩電路。4. 讀取光譜分析儀響應(yīng)
2020-07-06 17:21:09
`手動(dòng)探針臺(tái)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)失效分析 趙工2020年開年伊始就收到很多朋友對(duì)手動(dòng)探針臺(tái)使用問(wèn)題的咨詢，在此收集整理供手動(dòng)探針臺(tái)相關(guān)信息供大家參考。一：手動(dòng)探針臺(tái)用途：探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)
2020-03-28 12:14:08
進(jìn)行有效探測(cè)的關(guān)鍵因素之一是進(jìn)行測(cè)頭探針的選擇，是否能夠觸測(cè)到特征并在接觸時(shí)保證一定的精度是使用者應(yīng)當(dāng)重點(diǎn)考慮的事情。目前，探針的種類很多，包括了各種形狀和不同的制作材料。本文將重點(diǎn)對(duì)探針的主要細(xì)節(jié)進(jìn)行描述，以幫助您為不同的檢測(cè)任務(wù)選擇合適的探針。
2019-08-22 06:13:45
針對(duì)Intel Pentium的E2492S分析探針？ II與MMX？技術(shù)在333 MHz
2019-03-01 16:33:15
各位大蝦！在proteus中電流探針如何使用？有沒(méi)有這方面的資料，我的問(wèn)題：電流探針如何連接到電路中，我直接把它放到電路線上沒(méi)有錯(cuò)，但是用導(dǎo)線連接到電路中就出現(xiàn)“probe object ‘R1’ is ambiguously placed”的錯(cuò)誤，難道不能用線連接到電路中嗎？
2013-05-06 22:05:14
對(duì)電路進(jìn)行分析的方法很多，如疊加定理、支路分析法、網(wǎng)孔分析法、結(jié)點(diǎn)分析法、戴維南和諾頓定理等。根據(jù)具體電路及相關(guān)條件靈活運(yùn)用這些方法，對(duì)基本電路的分析有重要的意義?，F(xiàn)就具體電路采用不同方法進(jìn)行如下比較。
2021-03-16 13:52:31
`芯片失效分析探針臺(tái)測(cè)試簡(jiǎn)介：可以便捷的測(cè)試芯片或其他產(chǎn)品的微區(qū)電信號(hào)引出功能，支持微米級(jí)的測(cè)試點(diǎn)信號(hào)引出或施加，配備硬探針和牛毛針，宜特檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室可根據(jù)樣品實(shí)際情況自由搭配使用，外接設(shè)備可自由搭配
2020-10-16 16:05:57
、改進(jìn)，產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。其方法分為有損分析，無(wú)損分析，物理分析，化學(xué)分析等 失效分析的意義：分析機(jī)械零器件失效原因，為事故責(zé)任認(rèn)定、偵破刑事犯罪案件、裁定賠償責(zé)任
2020-04-07 10:11:36
`芯片失效分析步驟1. 開封前檢查，外觀檢查，X光檢查，掃描聲學(xué)顯微鏡檢查。2. 開封顯微鏡檢查。3. 電性能分析，缺陷定位技術(shù)、電路分析及微探針分析。4. 物理分析，剝層、聚焦離子束(FIB
2020-05-18 14:25:44
本帖最后由 smszw 于 2021-8-16 09:57 編輯
針對(duì)下面的電路（所有開關(guān)都斷開）做交流分析，結(jié)果與探針的讀數(shù)總是不一樣，設(shè)置電源的“交流分析量值”也沒(méi)用，如果是直流電源（將rms設(shè)為0V，偏移設(shè)為10V）就沒(méi)問(wèn)題，為什么??？
2021-08-16 09:53:14
醫(yī)學(xué)成像，特別是超聲成像技術(shù)，正處于變革之中。過(guò)去，醫(yī)療人員使用推車式的高性能超聲波系統(tǒng)為病人診斷，而現(xiàn)在他們可以使用手持設(shè)備來(lái)實(shí)現(xiàn)超聲波成像。得益于半導(dǎo)體技術(shù)的進(jìn)步，超聲智能探針的尺寸越來(lái)越小且
2022-11-09 08:13:09
插上探針了。當(dāng)你設(shè)定完時(shí)，程序會(huì)將所有探針點(diǎn)的資料統(tǒng)一秀在Probe Watch Window上，以方便你進(jìn)行各點(diǎn)資料的分析。
2015-01-06 10:05:36
測(cè)設(shè)備，以輸入信號(hào)及量測(cè)電性曲線。 在真空環(huán)境下，以點(diǎn)針(Prober)或奈米級(jí)探針(Nano Prober)進(jìn)行電性量測(cè)，避免外界環(huán)境的噪聲干擾，對(duì)于半導(dǎo)體組件失效分析及其在奈米尺度下之研究發(fā)展，均能
2018-08-24 09:07:08
本文介紹了電子探針波譜儀控制系統(tǒng)的開發(fā)背景、基本分析原理和波譜儀控制系統(tǒng)的組成。利用單片機(jī)結(jié)合CPLD 器件完成波譜儀控制系統(tǒng)的底層設(shè)計(jì)；利用串行口完成上、下位機(jī)的數(shù)
2009-08-29 10:03:00
10 用金相試驗(yàn)、 X射線衍射物相分析和電子探針分析方法，系統(tǒng)地研究了4種鎳基釬料釬焊1Cr18Ni9Ti的釬縫組織特征和相組成及其隨熱處理時(shí)間的變化規(guī)律。
2010-02-01 14:09:4912 電子探針
所謂電子探針是指用聚焦很細(xì)的電子束照射要檢測(cè)的樣品表面，用X射線分光譜儀測(cè)量其產(chǎn)生的特征X射線的波長(zhǎng)和強(qiáng)度。由于電子
2009-03-06 22:24:151384 電子探針的分析原理及構(gòu)造一 工作原理分析由莫塞萊定律可知，各種元素的特征X射線都具有各自確定的波長(zhǎng)，并滿足以下
2009-03-06 22:28:2917945 
離子探針顯微分析離子探針的學(xué)名叫作二次離子質(zhì)譜儀（Second Ion Mass Spectroscopy---SIMS），它在功能上與電子探針類似，只是以離子束代替電子束，以質(zhì)譜儀代替X射
2009-03-06 22:39:006982 
本文介紹了一種基于矩形波導(dǎo)-微帶探針耦合結(jié)構(gòu)等效電路的波導(dǎo)-微帶探針過(guò)渡CAD 方法應(yīng)用商業(yè)3 維電磁場(chǎng)分析軟件和微波電路CAD 軟件快速完成波導(dǎo)-微帶探針過(guò)渡的優(yōu)化設(shè)計(jì)設(shè)計(jì)實(shí)例和
2012-02-17 16:41:1540 電子技術(shù)課近似分析方法.pdf
2012-07-16 23:13:480 電子技術(shù)課近似分析方法.pdf
2012-07-16 23:13:480 介紹了一種橫向Ka波段寬帶波導(dǎo)-微帶探針過(guò)渡的設(shè)計(jì)，基于有限元場(chǎng)分析軟件Ansoft HFSS對(duì)該類過(guò)渡的設(shè)計(jì)方法進(jìn)行了研究。最后給出了Ka波段內(nèi)的優(yōu)化數(shù)據(jù)。仿真結(jié)果表明，該寬帶波導(dǎo)
2012-08-29 17:11:0954 工程師在工作中經(jīng)常會(huì)用到萬(wàn)用表測(cè)電阻，或者測(cè)試電壓和電流。而最長(zhǎng)用到的測(cè)試方法還有四探針測(cè)電阻法，那么用萬(wàn)用表測(cè)電阻和四探針測(cè)電阻，這兩種測(cè)試方法有什么不同？本文將為你總結(jié)和分析這其中的區(qū)別。
2016-11-05 01:11:402187 
電子探針、掃描電鏡顯微分析學(xué)習(xí)資料
2017-02-07 16:15:3811 激光探針（又稱激光誘導(dǎo)擊穿光譜，簡(jiǎn)稱LIBS）技術(shù)具有檢測(cè)速度快、無(wú)需樣品預(yù)處理、可進(jìn)行實(shí)時(shí)在線及遠(yuǎn)程測(cè)量等優(yōu)點(diǎn)，在地質(zhì)分析、生物醫(yī)學(xué)和環(huán)境監(jiān)測(cè)中均有著廣泛的應(yīng)用。典型的激光探針光譜是由元素特征
2017-10-26 10:53:209 本文首先介紹了電子電路原理圖的概念及識(shí)圖意義，其次介紹了電子電路原理圖的識(shí)圖方法，最后闡述了電路分析的方法有哪些。
2018-04-19 16:32:1483429 
本文首先介紹了wifi探針的概念和特點(diǎn)，其次詳細(xì)介紹了WiFi探針的工作原理，最后介紹了WiFi探針可以采集的數(shù)據(jù)及融合。
2018-04-23 14:53:3744941 本文首先介紹了WIFI探針概念與WIFI探針使用的網(wǎng)絡(luò)協(xié)議，其次介紹了wifi探針技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域，最后介紹了公安局wifi探針用途。
2018-04-23 15:11:1123351 
、high Z測(cè)量、DC測(cè)量、RF測(cè)量和微波特性測(cè)量提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)。系統(tǒng)的探針、測(cè)試電纜、樣品架都有多種類型可供選擇，從而滿足不同應(yīng)用的需要。系統(tǒng)適用于實(shí)驗(yàn)室級(jí)別的精準(zhǔn)電學(xué)特性測(cè)量和分析。半導(dǎo)體特性分析
2018-11-15 13:51:01379 中芯電子天津有限公司 ? ? 聯(lián)系電話：13001395236系統(tǒng)特性：ZFT-78-50A是一個(gè)經(jīng)濟(jì)型的高真空探針臺(tái)，它除了有探針臺(tái)的基本功能外，還能為測(cè)試提供高真空與特殊氣體環(huán)境；它可以提供足夠
2018-11-15 13:53:25831 《電子技術(shù)學(xué)習(xí)方法和分析思路輕松入門》分成七大板塊，理論聯(lián)系識(shí)圖，通過(guò)對(duì)數(shù)十種實(shí)用電路的分析，全方位、分層次、多角度地講述了學(xué)習(xí)電子技術(shù)的方法和分析電路工作原理的思路。力圖讓讀者在獲取具體知識(shí)的同時(shí)
2019-04-15 08:00:0048 本視頻主要詳細(xì)介紹了電子元器件失效分析方法，分別是拔出插入法、感官辨別法、電源拉偏法、換上備件法。
2019-05-21 15:56:078115 PCB探針是電測(cè)試的接觸謀介，為高端緊密型電子五金元器件，屬于是重要的電子部件，是電子元器件連接導(dǎo)電的載體。 通常線路板的探針有很多的規(guī)格，針主要是有三個(gè)部分組成的：一是針管：主要是以銅合金為材料
2019-07-12 16:05:0013136 WiFi探針本身僅僅是一種通信技術(shù)，但是被歪曲應(yīng)用和誤解了。WiFi探針本身其實(shí)僅僅是一種數(shù)據(jù)采集，WiFi探針后面的“私人信息大數(shù)據(jù)庫(kù)泛濫”其實(shí)才是可怕的，但貌似很多人將重點(diǎn)關(guān)注放在了WiFi探針層面上。
2019-12-10 13:55:562105 什么是探針？探針其實(shí)就是一種高端精密型的電子元件，主要應(yīng)用于手機(jī)等電子產(chǎn)品中，起連接作用。文中介紹的測(cè)試探針相當(dāng)于一個(gè)媒介，測(cè)試時(shí)可用探針的頭部去接觸待測(cè)物，另一端則用來(lái)傳導(dǎo)信號(hào)，進(jìn)行電流的傳輸
2020-03-30 14:26:234960 探針是什么？探針是一個(gè)多義詞，在不同的領(lǐng)域中，探針的含義和作用也不相同。那么到底探針是什么呢？主要可以分為以下幾類： 信息探測(cè)工具 探針是什么？作為信息探測(cè)工具來(lái)說(shuō)，探針卡是一種測(cè)試接口，主要
2020-03-30 14:27:2725527 PCB探針是電測(cè)試的接觸謀介，屬于重要的電子部件，是電子元器件連接導(dǎo)電的載體。PCB探針廣泛用于測(cè)試PCBA的一種數(shù)據(jù)傳送，導(dǎo)電接觸，通過(guò)探針導(dǎo)電傳輸功能體的數(shù)據(jù)判斷產(chǎn)品是否正常接觸以及運(yùn)作數(shù)據(jù)正常。
2020-07-25 11:38:224815 工具INGUN工具對(duì)于保證安全和精確檢測(cè)的作用不可小覷。只有通過(guò)最佳裝配的針套和探針，才能夠保證電子組件的順利檢測(cè)。
2020-12-30 15:45:413297 在校準(zhǔn)射頻探針時(shí)，對(duì)校準(zhǔn)的嚴(yán)格設(shè)計(jì)需要面臨各種不同的挑戰(zhàn)。目的是確保高頻測(cè)試的準(zhǔn)確無(wú)誤，同時(shí)優(yōu)化測(cè)試的簡(jiǎn)便性，速度和成本。這一點(diǎn)變得越來(lái)越重要，例如，引入5G后，需要以更高的頻率進(jìn)行工作和測(cè)試
2021-04-27 10:39:081684 在校準(zhǔn)射頻探針時(shí)，對(duì)校準(zhǔn)的嚴(yán)格設(shè)計(jì)需要面臨各種不同的挑戰(zhàn)。目的是確保高頻測(cè)試的準(zhǔn)確無(wú)誤，同時(shí)優(yōu)化測(cè)試的簡(jiǎn)便性，速度和成本。這一點(diǎn)變得越來(lái)越重要，例如，引入5G后，需要以更高的頻率進(jìn)行工作和測(cè)試
2021-04-27 10:41:222267 電子產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)及分析方法綜述
2021-07-31 16:11:4424 英鋼INGUN探針各種型號(hào)參數(shù)
2022-05-17 11:43:257 測(cè)試效率是探針臺(tái)除定位精度外的一個(gè)重要 指標(biāo)。探針臺(tái)用戶希望在保證精度、穩(wěn)定性的前提 下，最大限度地提高探針臺(tái)的測(cè)試效率，來(lái)縮短生 產(chǎn)周期，降低成本。本文將從分析探針臺(tái)自動(dòng)測(cè)試 的流程入手，提出幾種
2022-06-06 10:50:071145 Pyrana 探針卡概述 對(duì)于高達(dá) 10 GHz 的 RF 器件和對(duì)電感敏感的應(yīng)用，Pyrana 探針卡提供了出色的信號(hào)完整性、低寄生電感及較長(zhǎng)使用壽命。Pyrana 探針卡整合了 Katana
2022-06-13 10:11:23502 以上6種粉末材料在使用兩種測(cè)試方法測(cè)得的電阻率均隨壓力的增大而呈現(xiàn)遞減趨勢(shì)，且趨勢(shì)一致（如圖2左圖）。取90MPa壓強(qiáng)下的電阻率值進(jìn)行對(duì)比分析，GR/LFP/LRM/PBF/LCO四探針測(cè)試結(jié)果均小于兩探針的測(cè)試結(jié)果
2022-09-22 11:52:273307 探針卡是由探針（probe pin）、電子元件（component）、線材（wire）與印刷電路板（PCB）組成的一種測(cè)試接口，根據(jù)不同的情況，還會(huì)有電子元件、補(bǔ)強(qiáng)板（Stiffener）等的需求，主要對(duì)裸芯進(jìn)行測(cè)試，即wafer level測(cè)試。
2022-10-17 17:44:421781 測(cè)試一：先將網(wǎng)分與線纜校準(zhǔn)后，然后連接兩個(gè)探針測(cè)試DUT，將兩個(gè)探針的S參數(shù)、兩個(gè)探針+DUT的整體S參數(shù)分別導(dǎo)出，然后使用PLTS校準(zhǔn)軟件將探針本身S參數(shù)去嵌，得到單獨(dú)DUT的S參數(shù)。
2022-12-08 15:55:424893 在ICT或者FCT測(cè)試中，治具上的探針總歸會(huì)測(cè)試到一定的壽命時(shí)候變得臟污，造成測(cè)試不通，通常的情況下也許探針本身的彈性和力量還是比較好的狀態(tài)，但是因?yàn)榕K污的存在造成針頭和被測(cè)試物的接觸形成很大的電阻
2022-12-28 10:15:321811 
尖端來(lái)匹配測(cè)試點(diǎn)，在這里你可以參考如何選擇探針針頭的選擇。 事實(shí)上，安捷倫ICT測(cè)試機(jī)通過(guò)一個(gè)探針來(lái)檢查PCB線路的開路或短路，從而接觸焊接、引腳和通孔。在EMS(電子制造服務(wù))行業(yè)中，用于檢查電腦線路板、筆記本電腦線路板和服務(wù)器
2022-12-30 09:49:141197 
隨著集成電路的快速發(fā)展，許多電氣和汽車應(yīng)用都采用了大電流功能。如何安全有效地測(cè)試這類產(chǎn)品正在成為一個(gè)新的挑戰(zhàn)。 我們還開發(fā)了大電流測(cè)試探針，通常用于測(cè)試大型充放電設(shè)備。 從參數(shù)特性來(lái)看，要傳遞的電流
2023-01-10 08:40:052010 
探針卡（Probe card）或許很多人沒(méi)有聽(tīng)過(guò)，但看過(guò)關(guān)于，也就是晶圓測(cè)試方面文章的人應(yīng)該不會(huì)陌生，其中就有提到過(guò)探針卡。
2023-02-27 17:48:492327 晶圓測(cè)試的方式主要是通過(guò)測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng)，在測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試機(jī)臺(tái)并不能直接對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行量測(cè)，而是透過(guò)探針卡（Probe Card）中的探針（Probe）與晶圓上的焊墊（Pad）或凸塊（Bump）接觸而構(gòu)成電性接觸
2023-05-11 14:35:142363 
奕葉四向毫米波探針臺(tái)
2023-08-23 14:21:22555 
制造工藝：制造高頻探針需要高度精密的工藝。通常，鎢粉與其他金屬粉末混合，然后通過(guò)拉拔機(jī)械等工藝加工成所需的尺寸和形狀。這確保了探針的尺寸精度和表面光滑度，以滿足高頻測(cè)試的要求。
2023-09-15 17:04:07529 
2023-10-19 08:32:030 ACp65是一種常用的探針，被廣泛用于研究細(xì)胞衰老、疾病發(fā)展和治療等領(lǐng)域。在本文中，我們將詳細(xì)介紹ACp65探針的參數(shù)、應(yīng)用以及未來(lái)的發(fā)展。 ACp65探針的基本參數(shù) ACp65探針是一種標(biāo)記于抗原
2024-01-10 14:39:01207 CASCADE探針臺(tái)是一種高級(jí)的網(wǎng)絡(luò)分析工具，可以在網(wǎng)絡(luò)中捕獲和分析數(shù)據(jù)流量。它可以幫助企業(yè)識(shí)別和解決網(wǎng)絡(luò)性能問(wèn)題、網(wǎng)絡(luò)安全問(wèn)題以及網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化等方面的挑戰(zhàn)。CASCADE探針臺(tái)具有廣泛的應(yīng)用場(chǎng)景，下面
2024-01-31 14:41:25272 探針測(cè)試臺(tái)是一種用于測(cè)試集成電路（IC）的設(shè)備，工作原理是將待測(cè)試的IC芯片安裝在測(cè)試座上，然后通過(guò)探針接觸到芯片的引腳，以測(cè)試芯片的功能和性能。在測(cè)試過(guò)程中，探針測(cè)試臺(tái)會(huì)生成一系列的測(cè)試信號(hào)，通過(guò)
2024-02-04 15:14:19234 如果應(yīng)用是慢啟動(dòng)類型，建議配置啟動(dòng)探針或者為存活探針配置initialDelaySeconds參數(shù)，避免存活探針過(guò)早介入導(dǎo)致容器頻繁重啟。如果應(yīng)用啟動(dòng)時(shí)間不固定建議使用啟動(dòng)探針。
2024-02-26 11:08:50138 浙江季豐精密電子有限公司近期獲得CE認(rèn)證MD證書、EMC證書和LVD證書。
2024-03-06 10:42:12227 
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