OI-GTEM系列GTEM小室，主要用于評估電子設備在電磁環境中的抗干擾能力和電磁輻射水平，為小型電子產品的輻射電磁場干擾敏感性提供有力的測試依據。與傳統的開闊場和暗室測試相比，OI-GTEM小室在進行干擾測試和抗干擾度測試時更為便捷、靈活，節省空間和成本。
--- 產品參數 ---
- 頻率范圍 10kHz～7.5GHz
- 屏蔽效能 70～100dB
- 尺寸 140cm × 75cm × 50cm
- 尺寸 300cm × 160cm × 170cm
- 尺寸 400cm × 220cm × 210cm
- 尺寸 540cm × 280cm × 230cm
--- 數據手冊 ---
--- 產品詳情 ---
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上傳時間：2023-04-19 11:04
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