動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2024-11-01 14:23

  什么是AEC-Q-CDM測試？

  

  CDM（ChargedDeviceModel）作為一種獨特的ESD（ElectrostaticDischarge）模擬方式，與HBM（HumanBodyModel）和MM（MachineModel）有所區(qū)別。此模型專注于模擬電子設(shè)備在生產(chǎn)或物流環(huán)節(jié)中積累的靜電，在接觸地面或其他導(dǎo)電物體時引發(fā)的快速電荷釋放現(xiàn)象。CDM放電事件的特點是極其迅速的電流上升階段，通

  CDM ESD 模擬電子

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• 發(fā)布了文章 2024-11-01 14:21

  FIB在TEM樣品制備中的利與弊

  

  透射電子顯微鏡（TEM）樣品制備是現(xiàn)代材料科學(xué)研究的重要環(huán)節(jié)。在這一過程中，金鑒實驗室憑借其先進的設(shè)備和專業(yè)的技術(shù)團隊，能夠為客戶提供高質(zhì)量的FIB測試服務(wù)，確保樣品制備的精確性和可靠性。透射電子顯微鏡（TEM）樣品制備1.粉末樣品：適用于粉末形態(tài)的觀察、粒度分析以及結(jié)構(gòu)和成分的分析。2.薄膜樣品：適用于研究樣品的內(nèi)部組織結(jié)構(gòu)、成分、位錯排列及其密度，以及晶

  fib TEM 顯微鏡

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• 發(fā)布了文章 2024-10-31 22:56

  探索電子背散射衍射（EBSD）：基礎(chǔ)原理與應(yīng)用領(lǐng)域

  

  EBSD分析的樣品制備與數(shù)據(jù)處理在材料科學(xué)領(lǐng)域，電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)是一種強大的工具，它能夠提供材料微觀結(jié)構(gòu)的詳細信息。為了確保EBSD分析的準確性和有效性，樣品的制備和數(shù)據(jù)的采集與處理至關(guān)重要。樣品制備的重要性EBSD分析要求樣品表面達到一定的質(zhì)量標準，以確保能夠獲得清晰的衍射圖案。理想的樣品應(yīng)符合以下要求：1.表面平整性：樣品表面必須平整，以確

  數(shù)據(jù)采集 測試

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• 發(fā)布了文章 2024-10-31 22:49

  提升產(chǎn)品穩(wěn)定性：可靠性設(shè)計的十大關(guān)鍵要素

  

  在當(dāng)今競爭激烈的市場中，產(chǎn)品的可靠性已成為衡量其成功的關(guān)鍵因素之一。可靠性不僅關(guān)系到產(chǎn)品的長期性能，還直接影響到客戶的滿意度和企業(yè)的聲譽。因此，從產(chǎn)品開發(fā)的早期階段開始，就必須將可靠性設(shè)計作為核心考慮因素。金鑒實驗室提供專業(yè)的可靠性測試服務(wù)，幫助企業(yè)確保產(chǎn)品的質(zhì)量與穩(wěn)定性。以下是確保產(chǎn)品可靠性的一系列關(guān)鍵步驟，這些步驟有助于開發(fā)出既耐用又可靠的產(chǎn)品。設(shè)定可靠

  可靠性設(shè)計 測試 電子元器件

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• 發(fā)布了文章 2024-10-31 22:40

  PCB板離子污染度化學(xué)測試

  

  在電子技術(shù)飛速進步的今天，電子產(chǎn)品正變得越來越精密和復(fù)雜。電路板上的元件排布越來越密集，走線設(shè)計也越來越精細，這導(dǎo)致線路之間的間隔變得越來越小。為了適應(yīng)這一變化，電路板的表面清潔標準也必須提高，以滿足更嚴格的要求。PCB板離子殘留的來源PCB板上的離子殘留可能來自多個源頭，包括化學(xué)清洗液的殘留、環(huán)境濕度、電鍍和焊接過程中使用的助焊劑、電離表面活化劑，以及人體

  PCB板 測試 電路板

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• 發(fā)布了文章 2024-10-31 22:36

  微電子制造中的FIB-SEM雙束系統(tǒng)：技術(shù)應(yīng)用與進展

  

  在微電子行業(yè)重要性在微電子行業(yè)中，F(xiàn)IB-SEM雙束系統(tǒng)的應(yīng)用至關(guān)重要，它不僅涵蓋了芯片樣品的精密切割，還包括對工藝缺陷的深入分析和器件結(jié)構(gòu)的細致表征。這一系統(tǒng)以其卓越的性能，極大地促進了科研人員和工程師對微電子器件內(nèi)部結(jié)構(gòu)與性能的深入理解，為新型器件的設(shè)計和制造提供了關(guān)鍵的技術(shù)支持。金鑒實驗室具備先進的設(shè)備和專業(yè)的技術(shù)團隊，能夠提供高質(zhì)量的FIB-SEM雙

  SEM 微電子 微電子制造

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• 發(fā)布了文章 2024-10-31 22:34

  變頻振動與機械沖擊的重要性

  

  AEC變頻振動和機械沖擊測試在汽車電子行業(yè)中，AEC變頻振動測試和機械沖擊測試是確保產(chǎn)品在動態(tài)環(huán)境中穩(wěn)定性和耐用性的關(guān)鍵步驟。這些測試通過模擬汽車實際運行時可能遇到的振動和沖擊情況，來驗證電子產(chǎn)品是否能夠在這些條件下保持正常工作和預(yù)期的性能。變頻振動測試的關(guān)鍵作用變頻振動測試是在變頻控制下進行的，它分析了電機在不同轉(zhuǎn)速、負載和工作狀態(tài)下產(chǎn)生的振動特性，包括振

  AEC 變頻 機械

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• 發(fā)布了文章 2024-10-29 16:16

  電子產(chǎn)品中的離子污染檢測技術(shù)

  

  隨著電子技術(shù)不斷進步，電子設(shè)備內(nèi)部的電路板設(shè)計愈發(fā)精密，元件間距不斷減小，走線布局也更加密集。對電路板，無論是裸板（PCB）還是組裝后的板（PCBA），其清潔度的標準也隨之提高。在諸多影響清潔度的因素中，離子污染成為了一個尤為關(guān)鍵的控制點。離子污染可能導(dǎo)致電路板上異常的離子遷移，進而引發(fā)產(chǎn)品失效，如腐蝕、短路等問題。據(jù)研究，污染問題導(dǎo)致的電子產(chǎn)品失效率超過6

  檢測 檢測技術(shù) 電子產(chǎn)品 電路板

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• 發(fā)布了文章 2024-10-29 16:14

  電子背散射衍射（EBSD）在材料科學(xué)中的應(yīng)用與解讀

  

  EBSD技術(shù)的興起與成熟電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)，作為材料科學(xué)領(lǐng)域的一項革命性技術(shù)，自其商業(yè)化以來，已經(jīng)迅速成為材料研究者們的重要工具。這一技術(shù)的發(fā)展得益于信息技術(shù)的飛速進步，使得EBSD在相對較短的時間內(nèi)實現(xiàn)了技術(shù)的成熟和廣泛應(yīng)用。晶粒取向EBSD技術(shù)的優(yōu)勢EBSD技術(shù)之所以受到材料研究者的廣泛青睞，主要原因在于其依托于掃描電子顯微鏡（SEM）的強大

  儀器 材料

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• 發(fā)布了文章 2024-10-29 16:12

  溫度因素對產(chǎn)品穩(wěn)定性的作用與溫度試驗技術(shù)評估

  

  高溫環(huán)境下的挑戰(zhàn)在產(chǎn)品可靠性工程中，溫度極端條件的測試是至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。接下來我們對溫度波動對產(chǎn)品性能的具體影響，并分析不同的高低溫試驗方法。高溫條件對產(chǎn)品構(gòu)成了一系列挑戰(zhàn)：材料熱膨脹系數(shù)的差異可能導(dǎo)致結(jié)構(gòu)變形和連接處的剝離；潤滑劑的流失或性能下降增加了機械部件的磨損風(fēng)險；密封材料的軟化或變形可能導(dǎo)致密封失效；粘結(jié)劑和涂層可能會因熱而失效，引發(fā)機械故障；電子

  溫度 試驗箱 高低溫試驗箱

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