--- 產品參數 ---
- ICE電流 0~1000A
- VCE電壓 0~100V
- VGE驅動電壓 0~30V
- VMNF熱敏電壓 ≤5V
- Pmax功率 100KW
--- 產品詳情 ---
晶體管正向偏置安全工作區測試系統ST-FBSOA_X
基礎信息
- Si,SiC,GaN,材料的器件級和模塊級的IGBT,MOS-FET的FBSOA(正向偏置安全工作區)測試
- FBSOA和對應的IV曲線
- ICE電流0~1000A
- VCE電壓0~100V
- VGE驅動電壓0~30V
- VMNF熱敏電壓≤5V
- Pmax功率100KW
- 脈寬10us~10ms
- 柜式結構,氣動安全(支持手動式)工裝柜,計算機程控
晶體管正向偏置安全工作區測試系統ST-FBSOA_X
FBSOA定義
- 該圖是簡版FBSOA曲線,劃定了四條電壓-電流關系的邊界線,分別是AB段,BC段,CD段,DE段
- AB段規定了處于飽和導通狀態下IGBT的zd工作電流,這個電流與IGBT的門極驅動電壓幅值相關,從圖看出,IGBT 門極驅動電壓幅值越高,飽和導通狀態下的zd工作電流越大
- BC段是IGBT max可重復電流ICpuls,是4倍標稱電流
- CD段需結合IGBT瞬態熱阻看。IGBT有線性區和飽和區
- 跨AB段后,其IGBT處于線性區了,也就退出飽和導通區, IGBT損耗急劇上升。所以,這條邊界體現IGBT能承受zd耗散功率Ptot。且CE電壓越高,IGBT所能承電流脈沖幅值越低。另外,電流脈寬越大,IGBT所能承受電流幅值也越低
- 藍色CD段各種脈沖寬度下的SOA,均是單脈沖安全工作區,非連續工作情況下的工作區,所以,必須參考上一頁的右下角的IGBT瞬態熱阻曲線,由公式(1)計算出在指定VCE條件下允許的電流IC的幅值和脈寬
- DE段規定了IGBT集射極CE擊穿電壓,IGBTCE擊穿電壓是和結溫正相關,結溫越低,CE擊穿電壓也越低
晶體管正向偏置安全工作區測試系統ST-FBSOA_X
產品特點
- 測試規范:IEC60747-9、IEC60747-2、GB/T29332、GB/T4023
- 測試工裝有“手動式”“氣動式”“電子開關式”供選擇,不同封裝外觀,更換“DUT適配器”即可
- 高溫測試,支持室溫~200℃,±1℃@0.5℃
- 計算機程控,測試數據可存儲為Excel、PDF。內置多種通用文檔模板供用戶選擇,還可自定義
- 安全穩定(PLC對設備的工作狀態進行全程實時監控并與硬件進行互鎖)設備具有安全工作保護功能
- 智能化,計算機進行操控及數據編輯,測試結果自動保存及上傳特定局域網,支持MES系統和掃碼槍連接
- 安全性,防爆,防觸電,短路保護等多重保護措施,可以操作人員、設備、數據及樣品安全
- 電壓源電流源模塊化設計,根據需求,自選搭配
晶體管正向偏置安全工作區測試系統ST-FBSOA_X
陜西天士立科技有限公司
專注半導體檢測·電學檢測·可靠性檢測·老化實驗
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