二極管正向浪涌電流測試系統(tǒng)ST-IFSM_X
基礎信息
- 可用于各類二極管（Diode）以及可控硅（SCR）的正向浪涌電流（IFSM）試驗，包括三極管（Triode）、MOSFTE、IGBT等全控器件的內(nèi)置二極管
- 電壓3KV（可擴展4.5KV/6KV/8KV/10KV等）電流1KA（可擴展2KA/5KA/8KA/10KA等）
- 浪涌電流（IFSM）：200~10KA、分辨率1A，精度±5％
- 反向電壓（VRRM）：200～3000V、分辨率10V，精度±5%
- 浪涌電流（IFSM）底寬：8.3ms/60HZ、10ms/50HZ，可切換
二極管正向浪涌電流測試系統(tǒng)ST-IFSM_X
產(chǎn)品簡介
- 二極管元件在實際使用中，除了能長期通過額定通態(tài)平均電流外，還應能承受一定倍數(shù)的浪涌過載電流而不致?lián)p壞，以便適應在各種應用中的要求。二極管浪涌過載電流如果超過其允許范圍，輕者引起元件性能變壞（如伏安特性、通態(tài)峰值電壓的變化），重者造成燒毀穿通而失去反向阻斷能力。通過浪涌過載電流測試合格的器件，可以大大提高其在使用中的可靠性。
- 該產(chǎn)品依據(jù)JB/T7624-94《整流二極管測試方法》和JB/T7626-94《反向阻斷三極管測試方法》的有關規(guī)定而設計的。該 設備線路設計簡潔精練，采用自動控制，完成對電容自動充電、自動穩(wěn)壓，自動檢測浪涌電流的實際波形和峰值，并存儲保持。浪涌電流峰值由數(shù)字表顯示，浪涌電流波形由波形接口輸出供外接示波器觀察分析。該設備具有技術先進、性能可靠、體積小、重量輕、操作簡單、測試重復性好、維修調(diào)試方便等特點，是電力半導體器件生產(chǎn)廠家必備的試驗檢測設備。
二極管正向浪涌電流測試系統(tǒng)ST-IFSM_X
參數(shù)指標
1.電流源發(fā)波，待測樣品兩極電壓不應超過器件在該電流下的導通電壓
2.us級方波浪涌電流（IFSM）脈寬及測試范圍
10us±10%，30~3000A±3%
100us±10%，30~500A±3%
1ms±10%，30~2000A±3%
10ms±10%，30~500A±3%
3.浪涌電流波形：近似方波，從10%至90%及90%下降到10%在整個 脈寬底寬20%以內(nèi),脈寬內(nèi)最大電流持續(xù)期間電流下降幅度5%以內(nèi)
4.測試頻率：單次/重復，當前重復浪涌需求1000次，支持固定時間間 隔發(fā)波及檢測浪涌前后Vf恢復程度發(fā)波
5.浪涌電流重復間隔時間（可設定）；間隔時間＞2S,≤0.5Hz
6.反向阻斷漏電IRRM：檢測范圍不小于100uA~10mA，分辨率≤100uA，誤差范圍不大于±3%
7.保存導通壓降和導通電流。測試前后保存小電流（≤5A）測試器件靜態(tài)導 通壓降Vf，分辨率≤0.01V，誤差≤±3%（可只用保存反饋Vf,以評估器件是否損壞或用于后續(xù)工程評估測試后節(jié)溫）。可測試時間點距離浪涌結(jié)束時間越短越好
8.可以滿足外接溫控單元進行高溫浪涌測試
