半導體芯片剪切力測試機-8600

產品優勢

1、電腦自動選取合適的推拉刀，無需人手更換

2、采用進口傳動部件結合獨特力學算法，確保機臺運行穩定性及測試精度。

3、多功能四軸自動控制運動平臺，采用進口傳動部件，確保機臺的高速、長久穩定運行。

4、旋轉盤內置三個不同量程測試傳感器，滿足不同測試需求，避免因人員誤操作帶來的設備損壞。

5、優異的可操控性，左右雙搖桿控制器，可自由擺放手感舒適，操作簡單便捷。

6、 強大分析軟件進行統計、破斷分析、QC報表，測試數據實時保存與導出，方便快捷。

7、機載統計數據按照等級，平均值，標準差和CPK分布曲線顯示測試結果。

8、弧線形設計便于調整顯微鏡支架。

9、顯微鏡光源為雙光纖LED，冷光源，不發熱，可隨意彎曲。

10、XY平臺，可以根據要求定制，滿足更廣泛的測試范圍。

11、圖像采集系統，快速簡單的設置，安裝在靠近測試頭位置，以便幫助更快地測試。提高測試自動化速度。

半導體芯片剪切力測試機-8600操作步驟

1、準備工作：

a. 確保試驗機已經正確連接電源，并且樣品的固定位置已經設置好。

b. 檢查試驗機的所有安全設備，確保它們正常運作。

2、設置試驗參數：

a. 打開試驗機的控制面板或軟件界面。

b. 設置試驗參數，如試驗速度、試驗力或試驗時間等，根據需要進行調整。

3、安裝樣品：

a. 將待測的LED樣品固定在試驗機的夾持裝置上。確保樣品穩固并正確安裝。

4、啟動試驗：

a. 確保試驗區域安全，并確保沒有人員或物體處于試驗機的移動范圍內。

b. 按下啟動按鈕或通過軟件啟動試驗機。

c. 試驗機會以預設的速度開始推拉樣品。

5、監測試驗過程：

a. 監測試驗機上顯示的試驗數據，如推拉力、位移或應力等。

b. 觀察樣品在試驗過程中的變形或其他異常情況。

6、結束試驗：

a. 當達到設定的試驗時間、位移或其他終止條件時，停止試驗機的運行。

b. 將試驗機恢復到安全狀態，確保樣品和試驗機處于穩定狀態。

7、數據記錄和分析：

a. 記錄試驗過程中的關鍵數據，如最大推拉力、斷裂力等。

b. 根據需要，對試驗數據進行分析和解釋。
 

設備型號：LB-8600
外形尺寸：660mm*610mm*800mm（含左右操作手柄）
設備重量：約 95KG
電源供應：110V/220V@3.0A 50/60HZ
氣壓供應：4.5-6Bar
控制電腦：聯想/惠普原裝PC
電腦系統：Windows7/Windowsl0 正版系統
顯微鏡：標配高清連續變倍顯微鏡（可選配三目顯微鏡+高清CCD相機）
傳感器更換方式：自動更換（在軟件選擇測試項目后，相應傳感器自動至測試工位）
平臺治具：360度旋轉，平臺可共用各種測試治具
XY軸絲桿有效行程：100mm*100mm 配真空平臺可拓展至200mm*200mm，大測試力100KG
XY軸大移動速度：采用霍爾搖桿對XY軸自由控制，大移動速度為6mm/S
XY軸絲桿精度：重復精度±5um 分辨率≤0.125 ： 2mm以內精度±2um
Z軸絲桿有效行程：100mm 分辨率≤0.125um,大測試力20KG
Z軸大移動速度：采用霍爾搖桿對Z軸自由控制，大移動速度為8mm/S
Z軸絲桿精度：±2um 剪切精度2mm以內精度±lum
傳感器精度：傳感器精度土0.003%：綜合測試精度土0.25%
設備治具：根據樣品或圖紙按產品設計治具（出廠標配一套）
設備校正：設備出廠標配相應校正治具及砝碼一套
質量保證：設備整機質保2年，軟件身免費升級（人為損壞不含）